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- [发明专利]可挠性扁平电缆-CN202010020407.6有效
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蔡竹青
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环荣电子(惠州)有限公司
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2020-01-09
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2021-08-20
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H01R13/40
- 本发明公开一种可挠性扁平电缆,适配于一便携式电子装置的一内部空间,可挠性扁平电缆其包括一主板端、一扁平电线缆束以及一扩充板端。主板端具有一第一连接器,第一连接器可连接一主板上的多个引脚。扁平电线缆束包括一极细同轴电缆,且扁平电线缆束具有一第一端与一第二端,第一端与主板端的第一连接器连接。扩充板端具有一第二连接器,扁平电线缆束的第二端与扩充板端的第二连接器连接,第二连接器是用于连接一扩充板上的多个扩充引脚,第二连接器包括多个脚位,多个脚位的多个接地脚位共享。其中,扁平电线缆束的宽度小于20毫米。
- 可挠性扁平电缆
- [发明专利]扩充基座连接器组合-CN201610930787.0在审
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蔡竹青;杨尚勋
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环旭电子股份有限公司
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2016-10-31
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2018-05-11
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H01R27/00
- 本发明涉及一种扩充基座连接器组合,其中包括:一第一连接器及一第二连接器,第一连接器及第二连接器分别为USB Type‑C规格连接器,第一连接器及第二连接器分别具有相互平行的上排端子列与下排端子列,且第一连接器及第二连接器以和端子列平行的方向并排地设置于一基板上;其中,第一连接器与第二连接器和一扩充基座电性连接;一电子产品上设置有和第一连接器及第二连接器对应的两对接连接器,两对接连接器分别能够和第一连接器及第二连接器连接,使得电子产品和扩充基座达成信号及电力的连接。本发明节省了电子产品上设置的连接器的数量,而有助于电子产品尺寸的缩小。
- 扩充基座连接器组合
- [实用新型]多输出时间控制装置-CN201020294563.3有效
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田景志;张波;蔡竹青;闵祖棠;王立新
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轻工业钟表研究所
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2010-08-18
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2011-03-16
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G04G15/00
- 本实用新型公开了一种多输出时间控制装置,包括条盒轮组件和触点簧,所述条盒轮组件包括条盒底、条盒圈和两个以上信号盘部件,所述信号盘部件由信号盘内环、信号盘外环、导电钉构成,所述条盒圈为中空金属壳体,其外径与所述信号盘部件内径配合紧密,条盒圈内部装有发条;还包括电机导电盘,所述电机导电盘为圆环状导电体,与所述信号盘部件内径相同,与所述条盒圈外径紧密配合;所述触点簧组件包括两个以上导电的触点簧,所述触点簧通过模塑基体固定组合在一起,将整个触点簧组件固定在条盒轮组件的外部,使得触点簧一端与信号盘部件和电机导电盘的外圆周紧密接触。可以根据应用环境的需求,通过增减信号盘部件来实现系统要求的多组时段时间的输出。
- 输出时间控制装置
- [发明专利]测试装置-CN200810131232.5无效
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蔡竹青
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环隆电气股份有限公司
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2008-08-01
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2010-02-03
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G01R31/28
- 本发明是有关于一种测试装置,适于测试至少一待测板。该测试装置包括一远端连接单元、至少一可编程测试板以及一主控电脑。可编程测试板连接至远端连接单元,主控电脑是连接至远端连接单元。待测板适于连接至可编程测试板,且可编程测试板具有一可编程系统芯片。主控电脑内存有预设的多个测试流程,且主控电脑适于根据待测板的种类来选取对应待测板的测试流程,并控制可编程测试板对待测板进行测试。该测试装置能降低测试成本且能减少测试时间。
- 测试装置
- [发明专利]测试系统-CN200810126811.0无效
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蔡竹青;许家荣
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环隆电气股份有限公司
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2008-06-24
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2009-12-30
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G01R31/00
- 本发明是有关于一种测试系统,适于测试一待测单元,该测试系统包括:一测试平台,电性连接至该待测单元;以及一影像撷取单元,电性连接至该测试平台及/或该待测单元,该影像撷取单元适于撷取该待测单元显示的一测试资讯。本发明因为具有影像撷取单元,所以能藉由影像撷取单元来撷取测试过程中的资讯及测试结果,而可以使测试平台或待测单元能根据影像撷取单元所撷取到的测试过程中的资讯来决定下一测试步骤。本发明由于在测试的过程中不需要人为操作,所以可以节省测试时间,而能提升测试效率,并能够够避免人为失误。
- 测试系统
- [发明专利]测试装置-CN200810096921.7有效
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蔡竹青;许家荣
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环隆电气股份有限公司
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2008-05-07
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2009-11-11
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G01R31/28
- 本发明是有关于一种测试装置,适于测试不同种类的多个待测板。此测试装置包括一可编程测试平台以及一储存单元。可编程测试平台包括一可编程系统芯片、一存储单元与一输入/输出单元,其中存储单元是电性连接至可编程系统芯片,且存储单元内存有一作业系统。输入/输出单元是电性连接至可编程系统芯片、待测板其中之一以及储存单元。输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号,而可编程系统芯片适于根据启动信号来选取一预设的测试流程,并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元的待测板进行测试。储存单元是用以储存可编程系统芯片所输出的一测试结果。本发明测试装置能够降低测试成本,且能减少测试时间。
- 测试装置
- [实用新型]测试装置-CN200820140315.6有效
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蔡竹青;钱顺荣
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环隆电气股份有限公司
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2008-10-10
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2009-07-01
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G01R31/00
- 本实用新型是有关于一种测试装置,包括探针基座、多个探针组及固定板。各探针组包括探针与固定于探针基座的探针套,探针容置于探针套中。探针具有第一部分与第二部分,且第一部分一端具有一连接端,以与第二部分结合,并使第二部分可在第一部分内伸缩。固定板配置于探针基座上,且具有分别对应探针组的多个锥形贯孔。各锥形贯孔具有相对的开口端与缩口端,开口端邻近探针基座。探针的第二部分穿过锥形贯孔的缩口端,第一部分的连接端抵靠锥形贯孔的孔壁,探针的第二部分分别接触测试板的测试接点。当测试板移开,探针可利用锥形贯孔的限制,而不致脱离弹起。
- 测试装置
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