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[发明专利]一种薄膜材料微波介电性能测试腔体-CN202310767423.5在审
发明人：向锋;蒲天长;王敏;史志华;张萌宇 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2023-06-27 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种薄膜材料微波介电性能测试腔体，属于微波频段材料介电性能测试领域。本发明采用的测试腔体为主模为TE10n的分离式波导矩形谐振腔，测试样品为薄膜材料；测试时样品被置于上下谐振腔之间的缝隙，通过网络分析仪获得放置样品前后谐振频率及品质因数的变化，利用微扰法原理计算出材料的介电性能，可满足1.8GHz～110GHz的测试需求。本发明谐振腔体对样品形状尺寸要求小，针对小型薄膜材料难以在sub‑6G频段准确测试的难点，本发明可满足在1.8GHz频率下，最小尺寸为100mm*45mm，厚度处于0.01mm～1mm区间内薄膜材料的测试需求，且具有结构简单，精度高，重复性好等特点。
一种薄膜材料微波性能测试

[发明专利]一种基于谐振法多功能便携式材料微波电性能测试系统-CN202310621004.0在审
发明人：向锋;王荣杰;王敏;陈寅;蒲天长 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开一种基于谐振法多功能便携式材料微波电性能测试系统，扫频仪与多功能谐振腔之间通过SMA同轴天线连接，扫频仪和一体机电脑之间通过USB Type‑C相连接，一体机电脑与变压器之间通过3.5mm圆孔电源线，电源开关与供电电池之间通过电源线连接，变压器与供电电池之间通过电源线连接，变压器与散热风扇之间通过电源线连接，供电电池与充电电源之间通过电源线连接，控制软件安装在一体机电脑上，设备外壳与各个部件之间通过M2～M6螺栓进行固定。本发明极大的减小了体积，方便进行材料的多功能测试，减少了测试系统间设备冗余，有效降低了测试系统的成本，方便测试系统的携带，能够在野外、室外等环境进行实时测试。
一种基于谐振多功能便携式材料微波性能测试系统

[发明专利]一种测试超低介电常数发泡材料微波介电性能的谐振腔-CN202310616996.8在审
发明人：向锋;张萌宇;蒲天长;王敏;史志华 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试超低介电常数发泡材料微波介电性能的谐振腔，本发明采用的测试夹具为TE011圆柱形谐振腔，测试样品为圆柱型发泡材料；测试时样品被置于谐振腔轴线位置，通过网络分析仪获得置入样品前后谐振频率及品质因数的变化，利用微扰法计算出材料的介电常数；本发明可满足1GHz～40GHz的测试需求，腔体的品质因数可稳定在10000以上。本发明提出的谐振腔体对样品形状尺寸要求低，针对超临界发泡材料难以制为薄片的特性，本发明可满足介电常数处于1.01～2，介电损耗处于0.00001～0.01区间内超临界发泡材料的测试需求，且具有结构简单，精度高，重复性好等特点。
一种测试介电常数发泡材料微波性能谐振腔

[发明专利]一种用于厚度方向介电性能测试的单齿电磁带隙结构谐振腔-CN202310414098.4在审
发明人：向锋;史志华;陈寅;王敏;蒲天长;张萌宇 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于厚度方向介电性能测试的单齿电磁带隙结构谐振腔，属于微波、毫米波材料介电性能测试技术领域。该方法构造的单齿电磁带隙结构谐振腔，使用的测试模式为TE10n，腔内电场方向与材料厚度方向垂直，能够测试Z轴方向上介电性能；该腔体可实现多频点测试，满足2.5GHz～110GHz频率范围内测试；该腔体的品质因数大于3000，在测量介电损耗时具有更高的测试精度。相对于双齿电磁带隙结构谐振腔，单齿电磁带隙结构谐振腔更为简单，解决了两个半腔之间的电磁带隙结构需严格对称导致的定位困难问题，同时也降低了加工成本；此外，单齿电磁带隙结构谐振腔一面为光滑金属平板，从缝隙置入样品时操作更为方便。
一种用于厚度方向性能测试单齿电磁带结构谐振腔

[发明专利]一种基于电磁带隙结构谐振腔的材料介电性能测试方法-CN202211330295.X在审
发明人：向锋;陈寅;王敏;史志华;王荣杰;蒲天长 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2022-10-27 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于电磁带隙结构谐振腔的材料微波介电性能测试方法，属于材料介电性能测试领域。该谐振腔基于传统矩形谐振腔，测试样品为片状样品，腔体内部电磁场模式为TE101，电场方向与样品的厚度方向平行，能够测试厚度方向上介电性能。本发明在每个半腔周围设置一系列周期排布的金属销钉，根据间隙波导和电磁带隙结构的理论，周围的金属销钉构成电磁带隙结构，当缝隙的厚度小于四分之一的工作波长时，通过设置合适的金属销钉的大小、高度和间距，可以有效的抑制电磁波从缝隙向外辐射，从而满足谐振法测试的要求。本发明结构简单、方便测试，腔体品质因数较高，测试精度更为准确；采用分离式设计，取放材料更为方便。
一种基于磁带结构谐振腔材料性能测试方法

[发明专利]一种基于悬置微带线的毫米波介电性能测试系统及方法-CN202210399309.7在审
发明人：向锋;顾腾;洪小飞;刘潇帅;王荣杰;陈寅;史志华;张萌宇;蒲天长 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2022-04-15 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于悬置微带线的毫米波介电性能测试系统及方法，该系统包括：网络分析仪、金属屏蔽腔、悬置微带线谐振器以及耦合调节装置，金属屏蔽腔包括腔体以及设置在腔体上的可开合盖体，腔体的内侧壁中间位置设置有卡槽，悬置微带线谐振器包括基板以及镀附在基板中间的金属导带，基板由待测样品直接加工而成，基板卡接在卡槽内，使得悬置微带线谐振器悬置于腔体中央；耦合调节装置穿设入腔体，位于基板的下方；网络分析仪的信号输入端和输出端分别连接至金属屏蔽腔两侧的耦合调节装置。本发明结合悬置微带线的优势，设计悬置微带线谐振器，并将悬置微带线谐振器放置于可开合的密闭金属腔体中，能够减少能量泄漏，增加测试稳定性和准确度。
一种基于悬置微带毫米波性能测试系统方法