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[实用新型]光耦测试分选机分粒敲料装置-CN202120170931.1有效
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光耦测试分选机分粒敲料装置，包括用以输送光耦的倾斜通道，通道上设有敲料机构，敲料机构包括用以伸入通道内部的敲料软棒，敲料软棒经驱动机构驱动进行上下往复运动，以敲击光耦。该光耦测试分选机分粒敲料装置的结构简单，敲料软棒经驱动机构驱动进行上下往复运动以敲击光耦，避免光耦卡住不能沿通道下滑。
测试分选机分粒敲料装置

[实用新型]集成电路测试分选机自动喂料装置-CN202120189090.9有效
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：集成电路测试分选机自动喂料装置，包括安装座，所述安装座的顶部自下而上依次设置有导轨底座与导轨顶盖，所述导轨顶盖上沿长度方向设置有多个气驱机构，所述导轨顶盖的上方设置有激震机构。本实新结构简单，稳定性好，利用气体驱动集成电路在送料槽道内快速移动，能实现集成电路的连续输送，并且不会造成集成电路的损伤。
集成电路测试分选自动喂料装置

[实用新型]集成电路测试编带机旋转升降定位取料观察装置-CN202120198333.5有效
发明人：吴成君;张民贵 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路测试编带机旋转升降定位取料观察装置：包括支撑柱，所述支撑柱上滑接有光检支架，光检支架的外端上滑接有竖直的连接柱，所述竖直连接柱的底部安装有取料观察器，所述光检支架外端螺固有竖直的滑槽，所述连接柱滑接于滑槽内，滑槽的顶部设置有十字卡槽，所述连接柱的顶部横置有与十字卡槽配合的一字型销轴，本实用新型设计合理，取料观察器移动方便，可以迅速将需要移除的芯片移出，方便处理集成电路测试编带机异常的情况。
集成电路测试编带机旋转升降定位观察装置

[外观设计]功率器件测试分选机（直背式）-CN202130053350.5有效
发明人：吴成君;张民贵 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：功率器件测试分选机（直背式）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于电子元件的检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
功率器件测试分选直背式

[外观设计]集成电路四工位测试分选机（重力式）-CN202130041894.X有效
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：集成电路四工位测试分选机（重力式）。2.本外观设计产品的用途：用于集成电路的测试和分选。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
集成电路四工位测试分选重力

[外观设计]集成电路测试编带一体机（重力式）-CN202130042318.7有效
发明人：吴成君;张民贵 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：集成电路测试编带一体机（重力式）。2.本外观设计产品的用途：用于集成电路的测试和编带封装。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
集成电路测试一体机重力

[外观设计]集成电路四工位测试分选机（直背式）-CN202130053390.X有效
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：集成电路四工位测试分选机（直背式）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于集成电路的检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
集成电路四工位测试分选直背式

[外观设计]集成电路自动编带机（重力式）-CN202130041893.5有效
发明人：吴成君;张民贵 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：集成电路自动编带机（重力式）。2.本外观设计产品的用途：用于集成电路的编带封装。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
集成电路自动编带机重力

[发明专利]非对称结构芯片的极性测试方法及系统-CN202110128472.5在审
发明人：林少松;林康生;陈仕铭 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种非对称结构芯片的极性测试方法及系统，针对内部结构非对称的芯片，通过向其输入激励，并测试设定引脚位置的电气特性，以判别芯片的放置方向。本发明价格低廉、体积小巧、简单易用的极性测试装置，作为独立装备销售使用时使得封测企业可以很大程度上降低设备采购成本和人员培训成本，如果作为分选等设备的附加组件使用也可以增加设备的附加值，提高其市场竞争力。
对称结构芯片极性测试方法系统

[发明专利]光耦测试分选机高压测试装置及其工作方法-CN202110084908.5在审
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及一种光耦测试分选机高压测试装置，包括底板，底板上设有用以输送光耦的倾斜通道，通道的左右两侧对称设有测试爪组件，测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚。该光耦测试分选机高压测试装置的结构简单，能够配合高压仪测试光耦耐压值，测试时测试爪组件均经驱动机构驱动靠近或远离同侧的光耦引脚，测试方便，效率高。
测试分选高压装置及其工作方法

[发明专利]集成电路测试分选机一分多路分类装置-CN202110077496.2在审
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路测试分选机一分多路分类装置及方法，包括分料室，所述分料室顶部设置有接料座，所述接料座上开设有接料孔，所述接料座下方设置有通过转动进行分料的分料座，所述分料座上端设置有对准接料孔的进料孔，分料座下端设置有偏离中心的出料孔，分料座内部设置有连通进料孔和出料孔的通道；所述分料座下方设置有支撑着分料座的支撑板，所述支撑板上开设有多个沿圆周分布并通过分料座转动择一与出料孔对接的过料孔，支撑板下方设置有多个与过料孔上下一一对应的接料盒。本发明集成电路测试分选机一分多路分类装置设计合理，使用方便，实用性强，可以一分多路进行分类，工作效率高，而且结构紧凑，体积小，占用空间小。
集成电路测试分选一分分类装置

[发明专利]集成电路测试分选机送料分粒装置及控制方法-CN202110093358.3在审
发明人：吴成君;林强 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：集成电路测试分选机送料分粒装置，包括送料装置与分粒装置，所述分粒装置包括固定座，所述固定座的左侧设置有抬升机构，所述固定座的右侧设置有止动机构，所述止动机构与抬升机构均通过驱动机构驱动，所述送料装置包括安装座，所述安装座的顶部自下而上依次设置有导轨底座与导轨顶盖，所述导轨顶盖上沿长度方向设置有多个气驱机构，所述导轨顶盖的上方设置有激震机构。本发明结构紧凑，易于使用，稳定性好，利用气体驱动集成电路在送料槽道内快速移动，能实现集成电路的连续输送，并且不会造成集成电路的损伤，同时采用分粒机构将各集成电路分开，避免黏连导致输送失误。
集成电路测试分选机送料分粒装置控制方法

[发明专利]集成电路芯片测试编带机良品收集装置及方法-CN201910413262.3有效
发明人：谢名富;吴成君;林康生 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2019-05-17 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： B07C5/38 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路芯片测试编带机良品收集方法及装置，包括机架，所述机架上部纵向设置有用于接收半导体器件的传送通道，所述传送通道上设置有用于驱使半导体器件向输出端侧移动的驱动机构，传送通道的输出端具有拐向安装工位的弧形储料部，所述弧形储料部的输出端口上挡料机构，所述机架上位于传送通道的输出端侧倾斜设置有用于承接半导体器件的储料管的安装工位，所述安装工位的上部设置有用于夹紧储料管的夹紧机构，安装工位的下部设置有推动储料管上行的推动机构，所述机架上位于安装工位的旁侧还设置有储料管上料机构。
集成电路芯片测试编带机良品收集装置方法

[发明专利]SOT外形集成电路芯片测试分选装置-CN201610747118.X有效
发明人：谢名富;吴成君 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2016-08-29 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明公开了SOT外形集成电路芯片测试分选装置，包括上料机构、测试轨道、分离器、分类存贮模块、工控机和若干测试站；测试轨道的始端与上料机构相邻，末端与分类存贮模块相邻；当装置工作时，分离器对微型芯片在测试轨道上的输送进行控制使芯片有序地到达各测试站；若干测试站在测试轨道处顺序排列，测试站设有测试夹片和芯片挡针，当到达测试站的微型芯片需进行测试时，测试夹片夹持微型芯片的引脚并对芯片进行测试，当到达测试站的微型芯片无需测试时，测试站以芯片挡针对微型芯片在各测试站处的输送进行控制；已测芯片被分类存贮模块导入与测试结果对应的芯片存贮料盒内；本发明针对微小型芯片进行优化，能高效地对微型芯片进行检测。
sot 外形集成电路芯片测试分选装置

[发明专利]集成电路芯片测试分选机取料装置及控制方法-CN201910417703.7有效
发明人：谢名富;吴成君;林康生 -专利权人： 福州派利德电子科技有限公司
申请日： 2019-05-20 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： B23Q41/02 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路芯片测试分选机取料装置；其包括沿物料运动方向依次设置的物料管传送装置、物料管倾斜装置以及物料传送装置，所述物料传送装置初始段的上表面由圆弧过渡向上倾斜，所述物料管倾斜装置可旋转至与物料传送装置初始段相切，所述物料管倾斜装置沿物料运动方向的一端紧邻物料传送装置的初始端设置且两者之间的距离小于一个物料的长度；本发明提供了集成电路芯片测试分选机取料装置及控制方法，装置结构可靠，自动化程度高，对人力依赖程度较低且整个工作过程精准稳定，提升了安全性。
集成电路芯片测试分选机取料装置控制方法