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[发明专利]氩粗漏氦细漏组合检测方法-CN201510199700.2有效
发明人： 王庚林;李宁博;董立军 -专利权人： 王庚林;李宁博;董立军
申请日： 2015-04-23 - 公布日： 2017-09-08 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种氩粗漏氦细漏组合检测方法，属于密封性检测方法领域，为解决现有方法τHemin较低、V范围更宽时效果不够理想等问题而设计。本发明氩粗漏氦细漏组合检测方法包括步骤S1选择初次密封性检测的具体方法为预充氦氩法，再次或多次密封性检测的具体方法为预充氦氩压氦氩法；或，初次密封性检测的具体方法选择预充氩压氦氩法，再次或多次密封性检测的具体方法选择预充氩多次压氦氩法；粗漏检测以氩气测量漏率RAr0max为判据，细漏检测以严密等级τHemin为基本判据，以氦气测量漏率Rmax为表征判据。本发明氩粗漏氦细漏组合检测方法拓展了最长候检时间，有效防止了粗漏和细漏的漏检和错判，进一步解决了检测的适用性、可行性和可信性问题。
氩粗漏氦细漏组合检测方法

[发明专利]一种多次压氦和预充氦压氦的氦质谱细检漏方法-CN201310161154.4有效
发明人： 王庚林;李宁博;李飞;刘永敏 -专利权人：北京市科通电子继电器总厂有限公司
申请日： 2013-05-03 - 公布日： 2017-07-04 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种多次压氦和预充氦压氦的氦质谱细检漏方法，给出了对已压氦或预充氦密封元器件压氦进行多次压氦法或预充氦压氦法氦质谱细检漏的程序，特别是给出了程序中的压氦时长、最长候检时长和测量漏率判据。本发明的有益效果为与仍采用单次压氦法进行再次细检漏相比，本发明更为简捷精确，且可避免接近粗漏的大漏的漏检和细漏的错判；与先细漏检测、压氦再细漏检测的两次检测相比，不仅减少一次细漏检测，减少了测试偏差，而且可以利用压氦前被检件内部有所衰减的预充氦氦气压力或压氦压入的氦气压力，使检测更为灵敏；与多因素比较前一次细漏检测和压氦后二次细漏检测的候检时长和测量漏率的方法相比，更为简便可行。
一种多次预充氦压氦氦质谱细检漏方法

[发明专利]一种以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法-CN201310404443.2有效
发明人： 王庚林;李宁博;李飞 -专利权人： 王庚林;李宁博;李飞
申请日： 2013-09-06 - 公布日： 2017-02-08 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法，并具体给出了这种粗漏细漏组合检测的程序，包括依据被检件的严密等级τHemin、内腔容积、表面吸附氦氩漏率和检漏历史，选择预充氦氩法或压氦氩法、预充氦法的固定方案或灵活方案和粗漏检测的氩气测量漏率判据RAr0max，设计压氦氩法施压时间和细漏检测最长候检时间、氦气测量漏率判据，进行预充氦氩和压氦氩、去除吸附氦氩、粗漏和细漏检测及补充检测更大粗漏的步骤方法。提高了粗漏检测的灵敏度，延长了细漏检测的最长候检时间，极大地扩展了适用的内腔容积和细漏检测测量漏率判据范围，使积累氦质谱组合检测更为适用、便捷和可行。
一种粗漏示踪气体积累氦质谱组合检测方法

[发明专利]以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法-CN201310504713.7有效
发明人： 王庚林;李飞;李宁博;刘永敏 -专利权人：北京市科通电子继电器总厂有限公司
申请日： 2013-10-23 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，属于气密式密封元器件密封性检测领域，为解决现有可用检测技术仪器不能满足高精度检测要求的问题而设计。本发明以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，采用该方法的氦气含量法或氩气含量法对密封元器件进行内部气体质谱分析，判定被检测密封元器件的密封性是否合格。该方法包括步骤：1.判断采用氦气含量法或氩气含量法；2.设计；3.压氦或压氩；4.粗漏检测；5.内部气体质谱分析。本发明提高了密封性细漏检测的灵敏度和准确性，并避免粗漏大漏的漏检和细漏的错判，适用于鉴定检验、周期检验和认证检测等破坏性的检测。
内部体质谱分析检测元器件密封性方法

[发明专利]一种积累氦质谱粗漏细漏组合检测元器件密封性的方法-CN201310303714.5有效
发明人： 王庚林;李飞;李宁博 -专利权人：北京市科通电子继电器总厂有限公司
申请日： 2013-07-18 - 公布日： 2013-11-27 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种积累氦质谱粗漏细漏组合检测元器件密封性的方法，给出了根据被检件的严密等级τHemin、内腔容积、表面吸附氦漏率以及检漏历史，选择相应压氦预充氦方式并选择固定或灵活方案，选择粗漏检测测量漏率判据的方法；定量设计细漏检测最长检测时间和测量漏率判据的方法；实施组合检测的程序，包括去除吸附氦，确定粗漏检测的开始取值时间和最长检测时间，确定开始细漏积累检测的时间，及补充检测更大粗漏的要求。本发明的有益效果为：既可以避免组合检测过程的粗漏漏检，又可以在大部分内腔容积范围增大最长候检时间，从而使吸附漏率的去除能满足细漏检测测量漏率判据要求，使积累氦质谱粗漏细漏组合检测更具适用性和可操作性。
一种积累氦质谱粗漏细漏组合检测元器件密封性方法

[发明专利]一种基于定量确定最长候检时间的氦质谱细检漏方法-CN201310047094.3有效
发明人： 王庚林;李飞;王彩义;李宁博;王莉研;董立军;刘永敏 -专利权人：北京市科通电子继电器总厂
申请日： 2013-02-06 - 公布日： 2013-10-02 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于定量确定最长候检时间的氦质谱细检漏方法，给出了在密封性氦质谱检测过程中定量确定细检漏最长候检时间的方法，并以合格密封电子元器件的最小氦气交换时间常数——严密等级τHemin作为氦质谱细检漏的基本判据，给出了确定测量漏率判据的方法。基于以上提出的定量确定最长候检时间方法，如摘要附图所示，对大部分内腔容积范围，准确确定的最长候检时间可远远长于国内外现行相关标准定性确定的1小时或0.5小时，为降低密封件表面吸附氦漏率、控制氦质谱检漏仪本底和实施批量检测，创造了关键的候检时间条件，从而扩展了适用内腔容积范围，加严了判据范围，以不同的严密等级τHemin和可靠贮存寿命，给出了更具有可操作性的压氦法和预充氦法氦质谱细检漏方法。
一种基于定量确定最长时间氦质谱细检漏方法

[发明专利]一种可延长密封器件候检时间的质谱检漏预充氦法-CN201310130023.X有效
发明人：薛大同;肖祥正;王庚林 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2013-04-15 - 公布日： 2013-07-17 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种可延长密封器件候检时间的质谱检漏预充氦法，用于判断被检预充氦密封器件的漏率指标是否合格，属于真空检漏与仪器技术领域。解决了候检时间长，从而可能存在的大漏孔处于分子流状态，不能靠粗检鉴别的问题，从而保持了预充氦法的主导地位，而将压氦法复检加粗检作为预充氦法的附属措施，以便保持预充氦法最小可检等效标准漏率比压氦法低好几个量级的优点。本发明所采用的技术方案途径是分析并穷举各种判断走向，一一采取相应的方法、制定相应的判据，其特点是对作为预充氦法附属措施的压氦法复检加粗检赋予一项新的重要职能，从而显著提高了可检测性。
一种可延长密封器件时间检漏预充氦法

[发明专利]一种抑制温漂、具有施密特特性的二端口输入控制电路-CN201110337779.2有效
发明人：闫军政;吴维刚;王庚林;屈建江;高晓琳;赖耀康;李燕 -专利权人：北京市科通电子继电器总厂
申请日： 2011-10-31 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： H03H11/54 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型的具有抑制温度漂移特性和施密特特性的二端口输入控制电路，由温度漂移抑制电路和窗口电路组成，可应用于变压器隔离或光隔离的固体继电器的内部或外部，作为其前一级的控制驱动。该控制电路通过三极管的相互抑制，利用电流反馈作用实现抗温度漂移功能，保证固体继电器接通、关断阈值电压的相对稳定；同时利用三极管的倒向作用，实现输出电压的翻转；利用电阻形成的负反馈实现固体继电器接通电压和关断电压的窗口特性，即施密特特性。该控制电路较传统温度抑制电路，增加了施密特特性输入功能，解决输入控制器件PN结电压随环境温度变化而改变的问题，保证了固体继电器在全温度工作范围内的输入稳定、应用的可靠性。
一种抑制具有施密特特性端口输入控制电路

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