“熊野峻”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果10个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]微粒分析装置、微粒分析系统以及清洗方法-CN201980021602.6有效
发明人： 熊野峻;永野久志;伊藤孝广;水野弘基;野尻辰夫;杉山益之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N1/00 文献下载
摘要：为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘机(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘机(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘机(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘机(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。
微粒分析装置系统以及清洗方法

[发明专利]附着物收集装置以及附着物分析系统-CN202080050377.1有效
发明人： 熊野峻;高田安章;野尻辰夫;永野久志;水野弘基;藤井贵之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2020-06-17 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。
附着物收集装置以及分析系统

[发明专利]附着物收集装置以及检查系统-CN201780032937.9有效
发明人： 熊野峻;杉山益之;永野久志;生井诚;伊藤孝广 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2017-05-29 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：为了稳定地从检查对象物剥离物质，其特征在于，具有喷出气体的喷出口(n)、具有喷出口(n)的箱体(B)、以及设置于箱体(B)的具备喷出口(n)的面且具有预定高度的支撑部(H)。并且，其特征在于，支撑部(H)是形成于箱体(B)的凸形状部。另外，其特征在于，支撑部(H)具有长方体形状，并且设置为随着朝向回收因气体而从检查对象物(C)剥离出的物质的回收口的方向，彼此距离变短。
附着物收集装置以及检查系统

[外观设计]爆炸物探测机-CN202030045230.6有效
发明人：小町章;木村茂孝;熊野峻;水野弘基;藤井贵之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2020-01-23 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：爆炸物探测机。2.本外观设计产品的用途：本产品为一种爆炸物探测机，其设置在例如公共交通机关的门口或建筑物的出入口，用于检测身上或行李中是否携带有爆炸物。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
爆炸物探测

[发明专利]附着物检查方法-CN201880036938.5在审
发明人： 熊野峻;桥本雄一郎;杉山益之;高田安章 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2020-01-24 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明的附着物检查方法为了兼顾高安全水平和高吞吐量的检查，包括：获取被检查者的个人信息的步骤；根据所获取的个人信息，参照存储了个人信息与恐怖风险的关系的数据库，计算该被检查者的恐怖风险的步骤；通过检查装置，回收附着于被检查者、被检查者持有的检查对象物的附着物、附着物的蒸汽，对回收的物质进行离子化并进行分析，将分析的结果与数据库进行对照，检查附着物是否是危险品的步骤，其中，根据每个被检查者来变更检查装置的检查条件和/或判定条件，使检查的真阳性率与计算出的恐怖风险的水平对应地变化。
附着物检查个人信息检查装置数据库检查对象物高吞吐量检查条件判定条件回收高安全离子化真阳性危险品附着蒸汽存储分析变更

[发明专利]质量分析装置-CN201310218253.1有效
发明人：诸熊秀俊;石黑浩二;熊野峻 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2013-06-04 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
质量分析装置

[发明专利]质量分析系统-CN201310050829.8有效
发明人：川口洋平;桥本雄一郎;杉山益之;熊野峻;金子明人;户上真人;西村和茂;井上博之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2013-02-08 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种质量分析系统。依赖于成分的挥发性和离子化趋势，测定的谱的强度和形状具有随着测定时刻的经过而迁移的趋势。针对以上课题，本发明的质量分析系统具有：质量分析部，对试样进行测定并输出质量谱；以及推测器，具有按每个成分以及测定时刻分配的含有信息的推测规则。推测器根据从质量分析部输出的质量谱，基于推测规则来推测与试样中有可能包含的多个成分之中的各成分对应的含有信息。
质量分析系统

[发明专利]质量分析装置及质量分析方法-CN201210273399.1有效
发明人： 熊野峻;杉山益之;桥本雄一郎;长谷川英树;山田益义;西村和茂;诸熊秀俊 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-08-02 - 公布日： 2013-03-06 - 主分类号： H01J49/24 文献下载
摘要：本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法。实现高效地对试样进行离子化并且残留少的质量分析装置。通过对保持样本的试样容器的内部进行减压，来使顶空气体中的样本密度上升，高效地对样本进行离子化。
质量分析装置方法

[发明专利]质量分析方法-CN201210209081.7有效
发明人：杉山益之;桥本雄一郎;熊野峻;川口洋平;诸熊秀俊 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-06-20 - 公布日： 2012-12-26 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明提供一种质量分析方法，其对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量，对质量谱的质量轴进行修正。
质量分析方法

[发明专利]质量分析方法以及质量分析装置-CN201210024742.9有效
发明人：杉山益之;桥本雄一郎;长谷川英树;桥场周平;熊野峻 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-02-06 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。
质量分析方法以及装置

1
共 10 条