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[发明专利]一种基于单Die读重试的纠错调度方法-CN202310866184.9在审
发明人：赵周星;张杰;吴国骏;李四林 -专利权人： 湖北长江万润半导体技术有限公司
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于单Die读重试的纠错调度方法，该方法包括以下步骤：1）主机多Plane读出错后，对闪存控制器上报的每个Plane读出错的存储单元AU进行统计，形成读出错的存储单元AU位图；其中，存储单元AU位图是同一个Die中每个Plane所在的page页上4个存储单元AU的分布图，读出错的存储单元AU位图通过将读出错的存储单元AU在存储单元AU位图进行标记形成；2）根据存储单元AU位图进行基于单Die命令调度的读重试纠错。本发明方法通过设置读出错的存储单元AU位图，可以有效缩短读重试纠错方法时间，提升纠错效率。
一种基于 die 重试纠错调度方法

[发明专利]一种测试温度控制装置及方法-CN202310860745.4在审
发明人：张杰;吴国骏;赵周星;李四林 -专利权人： 湖北长江万润半导体技术有限公司
申请日： 2023-07-13 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试温度控制装置及方法，该装置包括：温箱，用于提供基础温度，基础温度低于目标温度；被测模块，置于温箱内且自身会产生热量；加热模块，与被测模块相接触且一开始时并不工作；温度传感器，用于检测被测模块的温度；当被测模块的温度高于目标温度时，温箱降低基础温度，加热模块不工作且由于与被测模块相接触而相当于散热器；当被测模块的温度低于目标温度时，加热模块开始工作以加热被测模块，使被测模块的温度达到目标温度，并在被测模块的温度达到目标温度后停止加热，当被测模块的温度低于目标温度一定幅度时，加热模块继续工作以加热被测模块直至被测模块的温度达到目标温度，并不断重复。本发明温度控制更加精确。
一种测试温度控制装置方法