专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]肌肤观察装置-CN201180005359.2有效
  • 大迫秀隆;丰田诚 - 株式会社茉莉特斯
  • 2011-04-01 - 2012-09-26 - G02B21/06
  • 无需进行麻烦的按钮操作而能够通过1个动作使皮肤表面照明系统以及皮下照明系统的光源独立地点亮来连续地拍摄各图像。为此,在控制各照明系统(5P、5S)的点亮定时和由摄像元件(7)进行的图像取入定时的控制装置(10)中,具备:照明模式切换单元(12),按照预先设定的顺序,切换用皮肤表面照明系统(5P)照明的皮肤表面照明模式(M2)、用皮下照明系统(5S)照明的皮下照明模式(M3)这至少两种照明模式;以及静止图像连续取入单元(13),在发出了规定的触发信号时,通过照明模式切换单元(12)切换照明模式,同时连续地取入各照明模式(M2、M3)的静止图像。
  • 肌肤观察装置
  • [发明专利]光学各向异性参数测定方法及测定装置-CN200910159390.6有效
  • 田冈大辅 - 株式会社茉莉特斯
  • 2009-07-15 - 2010-03-10 - G02F1/13
  • 本发明“光学各向异性参数测定方法及测定装置”发展了差动SMP法,能够在短时间内测定不同的三种偏振状态的复振幅反射率比的相位差及大小。根据A~D中3种偏振状态合计12种光强度来测定相位差及大小:(A)对于在P±αA方向上的偏振光,以偏振光间相位被调整为γA1及γA2的合计4种偏振光作为入射光,其反射光所包含的合计4种S偏振光;(B)以P偏振光作为入射光时,其反射光P偏振光与S偏振光的偏振光间相位差被调整为γB1及γB2的偏振光中,在S±αB方向上振动的合计4种偏振光;(C)对于S±αC方向上的偏振光,以偏振光间相位被调整为γC1及γC2的合计4种偏振光作为入射光,其反射光所包含的合计4种P偏振光;(D)以S偏振光为入射光时,其反射光P偏振光与S偏振光的偏振光间相位差被调整为γD1及γD2的偏振光中,在P±αD方向上振动的合计4种偏振光。
  • 光学各向异性参数测定方法装置
  • [发明专利]光学各向异性参数测定装置-CN200710152861.1有效
  • 田冈大辅 - 株式会社茉莉特斯
  • 2007-09-18 - 2008-04-02 - G02F1/13
  • 提出了即使是各向异性小的测定对象物,也不受样品台或样品的微细图案引起的散射光的影响,采用和SMP法同样的手法,能够高精度且简单地测定光学各向异性参数的差动SMP法。相对于测定对象物(2)的测定面,将P偏振光和S偏振光中的任一个的方向作为基准方向;将入射光和测定光中的一个作为在基准方向上振动的直线偏振光;将入射光和测定光中的另一个作为在相对于基准方向±δ(δ≠nπ/2、n是整数)的方向上振动的一对直线偏振光;测定对应于该一对直线偏振光的两种测定光的光强度;基于表示获得的两个光强度数据的差分的差分数据来测定光学各向异性参数。
  • 光学各向异性参数测定装置
  • [发明专利]照明装置-CN200710149784.4无效
  • 吉田均;清水雅之;楠原大志 - 株式会社茉莉特斯
  • 2007-09-05 - 2008-03-12 - F21V8/00
  • 在根据照射LED的照明光而拍摄成为被拍摄物体的工业产品的图像来进行产品检查等情况下,即使照射进行了表面光泽处理的产品,在图像上也不会映入照明的亮度不均匀或颜色不均匀,提高产品检查的检查精度。在具备摄像光轴(C)贯通的摄像透光部分(4)的机体(2)上,安装用导光体(7)散射发光波长不同的多种LED(6R,6G,6B)的光,使得从发光面(8)沿着照明光轴(LX)方向照射的LED光源装置,导光体(7)具备把发光面(8)朝向照明光轴(LX)层叠了的多片导光板(9R,9G,9B),在各个导光板上,在与发光面(8)正交的面上以预定的间隙安装LED(6R,6G,6B),并且排列成在照明光轴(LX)方向的各列中,发光波长的组合都相同。
  • 照明装置
  • [发明专利]脸面拍照装置-CN200580011192.5无效
  • 浅井省行;末吉直治 - 株式会社茉莉特斯
  • 2005-04-14 - 2007-04-04 - A61B5/107
  • 本发明的拍照装置可以从多个方向以相同拍照条件对脸部进行拍照,并且可以以均匀的亮度对整个脸部进行照明,进而能够在此情况下在拍照图像上不产生晕影而获得鲜艳的图像。在正面形成有用于装入作为被摄体的脸部(3)的开口部(6)的框体(2)内配置照明光源(L),在开口部和照明光源(L)之间设有将照明光扩散、对脸部的正面侧进行照明的光扩散板(7),并且,在其背面侧配置照相机(4);设有通过推压到脸部(3)的头顶侧非观察区域而对头部的位置进行限制的可以进行前后上下位置调整的头部支撑部件(9),和使脸部(3)的正面以及左右脸颊部正对照相机(4)地对应拍照方向对颚的位置进行限制的颚载台(10);在照明光源(L)和照相机(4)之间设有遮光体(15)。
  • 脸面拍照装置
  • [发明专利]面照明装置-CN200610108151.4无效
  • 吉田均;清水雅之 - 株式会社茉莉特斯
  • 2006-07-28 - 2007-02-14 - F21V8/00
  • 本发明的课题是,即使在单色的情况下也不会引起亮度不匀,能够获得高亮度,即使在混色的情况下,也可以出射没有色相不匀的均匀照明光。其解决方案为,将以平面侧作为发光面(5)的透明导光板(6R、6G、6B)叠层,形成以正面作为发光面(2)的透明导光体(B),以规定的间距将各种颜色的LED(4R、4G、4B)安装到前述导光板(6R、6G、6B)的侧面上,通过将LED(4R、4G、4B)对于各种颜色的每一种点亮/熄灭/调光,可以照射任意颜色的照明光。
  • 照明装置
  • [发明专利]透镜盖-CN200610088663.9无效
  • 鹿野修司;益岛健守;竹田英之;手塚佳男 - 株式会社茉莉特斯
  • 2006-04-21 - 2007-01-10 - G02B7/02
  • 具有形成在其顶部窗口的透镜的、用于半导体激光器等的透统盖中,在形成非球面透镜来代替具有大偏差的球面透镜的情况下,由于具有复杂形状的切割制品或者压模制品被用作盖部件,所以传统的方法是昂贵的。本发明提出一种具有在它的顶部(4)形成有孔(5)的透镜盖(9),包括透镜(8),所述透镜被成形为以在孔(5)的两侧突出的方式填充该孔并进一步在顶部(4)两侧或者仅在顶部(4)的下面越过沿着顶部(4)限定孔(5)的圆周边缘(7)延伸,其中延伸到顶部(4)下面的部分(a)的外部圆周接触盖部件的侧内壁(b)和顶内壁(c)。因此,本发明可以提供一种具有高性能的廉价透镜。
  • 透镜
  • [发明专利]线光导及其制造方法-CN200610094647.0无效
  • 梅津坚治 - 株式会社茉莉特斯
  • 2006-06-20 - 2006-12-27 - G02B6/00
  • 本发明的课题是即使照射范围变宽也能以明亮且均匀的照度照射光。在形成为线状的光射出部(4)上排列有由引导从多个光源(2A~2G)照射的光的各个光纤束(3A~3G)构成的光射出端(3out),将上述光射出部(4)分割为所需数目的射出区域(A1~A5),并且在各个光纤束(3A~3G)的射出端一侧,将构成上述光纤束(3A~3G)的光纤(6A~6G)根据上述射出区域(A1~A5)的数目分别按所需条数分配给各射出区域(A1~A5)。
  • 线光导及其制造方法
  • [发明专利]基于反射光和透射光的目视检查用照明装置-CN200610092846.8无效
  • 窪田勉;松本和幸;今村保夫 - 株式会社茉莉特斯
  • 2006-06-16 - 2006-12-20 - G02B5/30
  • 用于检查偏振膜等的缺陷的常规方法包括使用在三基色荧光灯中配备了乳白色丙烯酸散射片的透射照明装置的方法,该方法存在下述的问题:只能用于基于透射光的检查;不能将颜变色为适合于各种缺陷类型的不同波长的颜色;以及由于不能区别缺陷的垂直位置(凹凸)和由于只能使用散射光,故容易漏掉微小的缺陷。本发明提出了一种基于反射光和透射光的目视检查用照明装置,其特征在于:在外壳(1)的上部中配置用于发射照明光的光发射部(2)和与上述光发射部面对的倾斜的反射镜(3),在上述外壳的下部中配置装有检查对象(10)的倾斜的透射光反射镜(5),在上述反射镜与上述透射光反射镜之间配置菲涅耳透镜(6)。
  • 基于反射光和透射目视检查照明装置
  • [发明专利]光学各向异性参数测定方法及测定装置-CN200610084031.5有效
  • 田之冈大辅 - 株式会社茉莉特斯
  • 2006-01-24 - 2006-10-18 - G01M11/00
  • 本发明的目的是提供可高速、高精度测定光学各向异性薄膜的光学轴的方向和大小、以及膜厚,并可进一步根据二维受光元件进行分布测定的方法和装置。其具体方式是以从测定点(M)向上的法线(Z)作为中心,从以预定角度间隔设定的多个入射方向,使P偏振光的单色光以预定入射角度照射,对应于入射方向检测出包含在其反射光中S偏振光的反射光强度,基于在反射光强度显示出极小值的入射方向中、被测定出了作为最大峰的两个极大值(∧1、∧(V1)的入射方向,确定测定点M中光学轴(OX)的方位角方向(Φ的极大值(∧1)和与其邻接的中间峰的极大值(∧3)夹着的极小值(V3)的入射方向,确定极角方向(θ)。
  • 光学各向异性参数测定方法装置
  • [发明专利]光学检查装置-CN200480010884.3无效
  • 茗荷谷彻;达正义 - 株式会社茉莉特斯
  • 2004-04-23 - 2006-05-24 - G01N21/82
  • 本发明涉及一种光学检查装置,对放入取样管内的样品检查是否有产生白浊·白色沉淀或荧光等光学性变化的检查对象物,包括:形成有竖立排列取样管的多个排列孔的反应块;通过形成在上述反应块的侧面上的观察用通孔或者形成在底面上的通孔,对上述各取样管照射检查光的发光单元;通过上述观察用通孔来对各个取样管进行摄像的摄像照相机;和根据用上述摄像照相机拍摄的图像数据的亮度或色度分布来测定在取样管内产生的光学性变化的运算处理装置。
  • 光学检查装置
  • [发明专利]照明装置-CN200410059227.X无效
  • 丰田诚;中尾仁;福永矢寿彥 - 株式会社茉莉特斯
  • 2004-06-09 - 2005-02-02 - H05B37/02
  • 本发明照明装置可自由设定照明的色温,设定后可在保持该色温状态下简单调整其亮度。对连接以与驱动电流(IR、IG、IB)成比例的光量点亮的各色LED(2R、2G、2B)的各个色温设定电路(10R、10G、10B),从调光电路11等量提供可变调整照明光的光量的调光电压(Vc),对于调光电压(Vc)用各个色温设定电路(10R、10G、10B)的色温设定器(12)按规定比例调整控制电压(VR、VG、VB),用恒流电路(13)对各个LED(2R、2G、2B)输出与控制电压(VR、VG、VB)对应的驱动电流(IR、IG、IB)。
  • 照明装置

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