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[发明专利]一种机械臂操纵下的大口径球面光学元件定心和定域方法-CN202310761296.8在审
发明人：刘东;吕雄涛;郭世维;王狮凌;张峰玮;王旭龙琦;金秉文 -专利权人：浙江大学;杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-06-27 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种机械臂操纵下的大口径球面光学元件定心和定域方法，采用自动定心和定域装置，包括样品台、机械臂、安装在机械臂上的带有光谱共焦传感器和相机的探头、与光谱共焦传感器电连接的数据采集单元、与数据采集单元电连接的数据分析处理单元，以及用于接收数据分析处理单元的反馈并控制机械臂运动的控制单元；对于大口径球面光学元件来说，通过采集球面上某一同心圆的三个点来自动定心，然后通过采集边缘点来自动定域。本发明简单易行，无需对传感器进行定标，仅需要通过工业机械臂承载光学精密探头进行三维移动，降低机械设计与装配难度，实现光学元件的非接触式、快速、自动定心和定域，适合流水化生产和检测大口径光学元件。
一种机械操纵口径球面光学元件定心方法

[发明专利]一种基于机械臂的大口径平面光学元件表面缺陷扫描方法-CN202310761160.7在审
发明人：刘东;吕雄涛;郭世维;王狮凌;张峰玮;王旭龙琦;金秉文 -专利权人：浙江大学;杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-06-27 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于机械臂的大口径平面光学元件表面缺陷扫描方法，采用自动定心和定域装置，自动定心和定域装置包括样品台、机械臂、安装在机械臂上的带有光谱共焦传感器和相机的探头、与光谱共焦传感器电连接的数据采集单元、与数据采集单元电连接的数据分析处理单元，以及用于接收数据分析处理单元的反馈并控制机械臂运动的控制单元；调平之后，通过采集三个边缘点的坐标自动进行定心和定域，然后根据光学元件的参数进行扫描。本发明简单易行，无需对传感器进行定标，不需要针对特定样品定制高精度导轨和样品自旋台，降低机械设计与装配难度，实现光学元件的非接触式、快速、自动定心和定域扫描，适合流水化生产和检测大口径平面光学元件。
一种基于机械口径平面光学元件表面缺陷扫描方法

[发明专利]基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统及方法-CN202311126103.8在审
发明人：陈礼诚;陈嘉文;邹自立;金秉文;王旭龙琦 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-09-04 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统及方法。基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统包括：机器视觉相机和机器视觉光源。所述机器视觉光源是光纤光源。所述光纤光源包括：光纤阵列。所述光纤阵列具有第一光纤行和相邻于所述第一光纤行的第二光纤行。所述第一光纤行与所述第二光纤行在行方向上呈夹角设置，使得两者照明重叠区域内具有交叉打光的特性。本发明的有益效果在于：基于所述光纤光源具有高指向性、高照度性及交叉打光的结构特性，以此提高所述机器视觉相机对所述膜材表面的缺陷检测精度，特别是针对于MD划伤缺陷、凹凸点缺陷等缺陷类型。
基于光纤光源表面缺陷检测系统方法

[实用新型]一种偏光片入铝箔袋包装系统-CN202321346698.3有效
发明人：俞利兴;龚艳刚;朱慧萱;卓艳梅;孔月红;金秉文;王旭龙琦 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司;杉金光电（南京）有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B65B35/56 文献下载
摘要：本实用新型公开一种偏光片入铝箔袋包装系统。所述偏光片入铝箔袋包装系统包括：POF热收缩袋包装机、POF热收缩袋整定机、POF热收缩袋收缩炉、铝箔袋包装机。其中，所述POF热收缩袋包装机、所述POF热收缩袋整定机、所述POF热收缩袋收缩炉、所述铝箔袋包装机依序排列。所述POF热收缩袋包装机用于实现偏光片叠料的POF热收缩袋包装步骤。所述POF热收缩袋整定机用于实现偏光片叠料的POF热收缩袋整定步骤。所述POF热收缩袋收缩炉用于实现偏光片叠料的POF热收缩袋收缩步骤。所述铝箔袋包装机用于实现偏光片叠料的铝箔袋包装步骤。本实用新型的有益效果在于：提升偏光片入铝箔袋的自动化包装质量。
一种偏光铝箔包装系统

[发明专利]一种偏光片整叠分料机及分料方法-CN202310712088.9在审
发明人：俞利兴;雷杰;龚艳刚;何哲峰;金秉文;王旭龙琦 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B65G49/06 文献下载
摘要：本发明公开一种偏光片整叠分料机及分料方法。所述偏光片整叠分料机包括：分料单元、称重单元、补片单元。所述分料单元用于在分料工位在偏光片整叠中分出偏光片分叠。所述称重单元用于在称重工位确定偏光片分叠的实际重量。所述补片单元用于在补片工位对偏光片分叠进行补片或减片。本发明的有益效果在于：完成自动分料，自动补片的动作，能够精准控制分料数量。通过节约人工的方式，降低成本。通过避免人工接触，减少机损，提高产能。
一种偏光片整叠分料机方法

[发明专利]一种用于检测系统标定的熔石英表面微纳结构加工方法-CN202310074481.X有效
发明人：刘东;郑剑锋;王劭文;王狮凌;刘钰波;王旭龙琦;金秉文;孙剑;李祥平;杨冰 -专利权人：浙江大学;杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： C03C15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于检测系统标定的熔石英表面微纳结构加工方法，包括以下步骤：S1：准备熔石英玻璃基片，依次经过超声机、等离子机清洗后，吹干备用；S2：依次涂覆六甲基二硅氮甲烷、电子束光刻胶、导电胶；S3：采用电子束曝光的方式，将待加工纳米级图形结构转移至表面的电子束光刻胶上；S4：对熔石英玻璃基片进行刻蚀后，洗净熔石英玻璃基片；S5：依次涂覆六甲基二硅氮甲烷、光刻胶；S6：采用激光直写曝光的方式，将待加工微米级图形结构以套刻的形式转移至表面的光刻胶上；S7：对玻璃基片进行刻蚀，洗净玻璃基片，形成最终的玻璃器件结构。利用本发明，可以解决现有标定板中线宽过大、长度无法充满整个幅宽的问题。
一种用于检测系统标定石英表面结构加工方法

[发明专利]一种多波长光源检测光学元件表面特性装置及方法-CN202310177455.X有效
发明人：刘东;王劭文;谢玥辰;王狮凌;吴雨涛;郑剑锋;王旭龙琦;金秉文;孙剑;李祥平;杨冰 -专利权人：浙江大学;杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种多波长光源检测光学元件表面特性装置及方法，包括多波长光源模块、高精度运动平台、安装在高精度运动平台上的用于夹持待测光学元件的样品台、散射探测模块、与散射探测模块连接的数据分析处理模块以及用于控制高精度运动平台运动的控制模块；多波长光源模块由多台激光器和对应的多台光功率计组成；光功率计用于实时检测激光器的出射功率，激光器出射的激光光线透射经过分光镜后，再通过对应的二向色镜后同轴照射在待测光学元件表面形成散射光，散射光经散射探测模块收集并通过数据分析处理模块进行分析。利用本发明，可实现光学元件表面散射信号检测，建立与光学元件表面粗糙度检测、损伤阈值的关系。
一种波长光源检测光学元件表面特性装置方法

[发明专利]一种化纤毛羽视觉检测装置、方法、存储介质及电子设备-CN202310536083.5在审
发明人：陈礼诚;邱君侠;苏明坤;万琪;陈旺;刘康;刘文广;王旭龙琦;金秉文 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开一种化纤毛羽视觉检测装置、方法、存储介质及电子设备，属于化纤毛羽检测领域。所述视觉检测装置包括：视觉相机、遮光板、视觉光源、风扇。所述遮光板在所述视觉相机与所述待检化纤间。所述遮光板具有沿着所述待检化纤延伸的贯穿槽。所述视觉相机通过所述贯穿槽的视场拍摄所述待检化纤。所述视觉光源在所述遮光板的所述待检化纤侧，所述视觉光源用于照亮所述待检化纤。所述风扇相邻于所述待检化纤，所述风扇用于吹拂所述待检化纤的断纱和/或粉尘。本发明的有益效果在于：提高化纤毛羽的视觉检测准确度。
一种化纤毛羽视觉检测装置方法存储介质电子设备

[发明专利]FPD行业偏贴精度检测装置及检测方法-CN202310490733.7在审
发明人：陈礼诚;邱君侠;伊汀;何哲峰;陈旺;黄江汉;林俊楠;凌义钧;金秉文;王旭龙琦 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开FPD行业偏贴精度检测装置及方法。所述检测装置包括：红色低角度光源、视觉相机和AOI主机。所述红色低角度光源用于打光所述偏光片的边角轮廓和所述玻璃面板的边角轮廓。所述视觉相机用于拍摄关于所述偏光片的边角轮廓和所述玻璃面板的边角轮廓的检测图像。所述AOI主机用于根据所述检测图像确定所述偏贴步骤的偏贴精度。本发明的有益效果在于：相对于人工目视检测，通过AOI自动光学检测，提高偏贴精度的检测效率和检测准确性。
fpd 行业精度检测装置方法

[发明专利]基于红外光透射的平板显示器偏贴精度检测装置及方法-CN202310490736.0在审
发明人：陈礼诚;邱君侠;伊汀;何哲峰;陈旺;黄江汉;林俊楠;凌义钧;金秉文;王旭龙琦 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开基于红外光透射的平板显示器偏贴精度检测装置及方法。所述检测装置用于对所述平板显示器的偏贴步骤进行偏贴精度检测。所述偏贴步骤是将偏光片贴附在玻璃面板。所述玻璃面板具有工作区域和围绕在所述工作区域外围的非工作区域。所述检测装置对位于所述玻璃面板的边角区域。所述检测装置包括：红外光面光源、红色低角度光源和视觉相机。所述红外光面光源用于对所述玻璃面板的工作区域打光。所述红色低角度光源用于对所述偏光片的边角轮廓打光。所述视觉相机用于拍摄所述玻璃面板的边角区域，所拍摄到的图像包括：所述玻璃面板的工作区域的边角轮廓和所述偏光片的边角轮廓。本发明的有益效果在于：精确确定所述偏贴步骤的偏贴精度。
基于红外光透射平板显示器精度检测装置方法

[发明专利]一种片料机用偏光片真空吸附检测系统及方法-CN202310090387.3在审
发明人：吕辉;徐琼;吴小华;雷杰 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： B65G15/58 文献下载
摘要：本发明公开一种片料机用偏光片真空吸附检测系统及方法。所述检测系统包括：检测段AOI检测组件、检测段输送组件和检测段真空吸附组件。待检偏光片在所述检测段AOI检测组件的AOI检测过程是由所述检测段输送组件进行输送，且输送期间由所述检测段真空吸附组件对所述待检偏光片进行吸附平整。本发明的有益效果在于：由检测段真空吸附组件对待检偏光片进行吸附平整，平整效果佳，进而提高待检偏光片的AOI检测精度。
一种片料机用偏光真空吸附检测系统方法

[发明专利]一种冷轧钢在线检测多向线性照明装置及其应用-CN202310177371.6在审
发明人：刘东;陈名渝;郑剑锋;王狮凌;王旭龙琦;金秉文;孙剑;李祥平;杨冰 -专利权人：浙江大学;杭州利珀科技有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G03B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种冷轧钢在线检测多向线性照明装置及其应用，包括上表面照明主体、下表面照明主体和连接结构；上表面照明主体和下表面照明主体的结构相同，均包括由阵列连接件固定的若干个照明单元；每个照明单元包括由散热片、壳体和出光口组成的外壳以及在壳体内设置的LED阵列、聚光器件、横向光栅、匀化器件和纵向光栅；LED阵列由一字排列的若干RGB LED灯珠组成；聚光器件用于将LED阵列产生的光进行汇聚；横向光栅用于消除照明单元内的杂散光；匀化器件用于对经过横向光栅的光进行匀化；纵向光栅用于将光源整形成与物体运动方向相垂直的纵向交叉光。利用本发明，可根据冷轧钢等长带状产品幅宽和表面反射特性等特点灵活调整以此提供合适的照明。
一种轧钢在线检测多向线性照明装置及其应用

[发明专利]工业LED光源可编程恒流及组合频闪控制系统及方法-CN202211194545.1在审
发明人：吴群策;金秉文;陈嘉文;陆哲;李鹏华 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： H05B47/165 文献下载
摘要：本发明公开一种工业LED光源可编程恒流及组合频闪控制系统及方法。所述控制系统包括：控制序列生成模块、主控制模块、扩展控制模块；所述控制序列生成模块用于向所述主控制模块提供组合频闪序列总数据，所述组合频闪序列总数据由所述主控制模块对应的主控制分数据、所述扩展控制模块对应的扩展控制分数据组成。本发明的有益效果在于：由控制序列生成模块预先编辑生成组合频闪序列总数据并提供给主控制模块，由主控制模块与扩展控制模块协同实施组合频闪序列总数据，从而达到组合频闪。
工业 led 光源可编程组合控制系统方法

[发明专利]偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统-CN202211208861.X在审
发明人：陈礼诚;朱兆杰;伊汀;赵日华;任涛涛;王石磊;张鑫;石倩 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明公开偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统。所述联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。所述联动系统包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子系统、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子系统。所述偏光膜RTP前制程子系统具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置。所述偏光膜RTP制程子系统具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；本发明的有益效果在于：基于关联后的原卷缺陷表及裁切卷缺陷表对偏光膜裁切卷进行裁切，裁切策略更为合理。
偏光 rtp 前制程联动方法系统

[发明专利]一种单晶硅棒制备过程中硅棒直径检测方法-CN202211428359.X在审
发明人：邓邹超;徐航;金秉文 -专利权人： 杭州利珀科技有限公司
申请日： 2022-11-15 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： C30B15/26 文献下载
摘要：本发明公开一种单晶硅棒制备过程中硅棒直径检测方法，包括：获取关于硅棒光圈的检测图像；确定等径前直径检测框、等径后直径检测框在所述检测图像中的检测位置；衔接所述等径前直径检测框、所述等径后直径检测框检出结果，并且确定衔接比例K；在所述衔接比例K确定前，根据所述等径前直径检测框范围内的所述硅棒光圈计算所述硅棒光圈的光圈直径；在所述衔接比例K确定后，根据所述等径后直径检测框范围内的所述硅棒光圈、所述衔接比例K计算所述硅棒光圈的光圈直径；以及，根据所述硅棒光圈的光圈直径，推算出所述硅棒的硅棒直径。本发明的有益效果：提高硅棒直径的测量精度，减少硅棒直径的波动，并且能够适应更多不同硅棒光圈被遮挡的情况。
一种单晶硅制备过程中硅棒直径检测方法

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