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[发明专利]相位差控制装置-CN201980014264.3有效
发明人：三好有一 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2019-01-30 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01J4/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种能够在CD光谱仪中利用的相位差控制装置的响应性改善技术。相位差控制装置具备：分割偏振器(14)，其将来自光源(12)的光分割成直线偏振的测定光和直线偏振的参照光；PEM(16)，其以与分光测定相对应的方式对测定光和参照光赋予相位差；PEM驱动器(18)，其向PEM(16)供给调制电压；PEM控制电路(24)，其输入参照光作为反馈信号，并且向PEM驱动器(18)输出调制控制量信号，相位差控制装置还具备CPU电路(26)，该CPU电路监视分割偏振器(14)的光的波长，并输入波长变化作为波长信号，CPU电路(26)将波长信号变换成前馈信号，前馈信号被输出到PEM控制电路(24)，PEM控制电路(24)进行基于反馈信号和前馈信号的运算处理，来向PEM驱动器(18)输出调制控制量信号。
相位差控制装置

[发明专利]红外分光光度计-CN202310148038.2在审
发明人：胜俣友裕;杉山周巳 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2023-02-22 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：提供红外分光光度计，能够在避免密闭壳体内的结露的同时安全地执行启动动作。具备：能够开闭的密闭壳体，其收容有光学构件；红外光源，其向密闭壳体的内部照射红外光；除湿剂，其对密闭壳体的内部进行除湿；温湿度传感器，其检测密闭壳体的内部的湿度；光源控制装置，其控制向红外光源供给的电力。光源控制装置一边限制向红外光源供给的电力一边启动红外光源，基于在向红外光源供给电力的状态下检测到的湿度的检测值来判断在密闭壳体内有无结露的风险，在有结露的风险的情况下，一边取得在向红外光源供给电力的状态下检测到的湿度的检测值的上升率与利用除湿剂使湿度下降的下降率之间的平衡，一边使向红外光源供给的电力逐渐地增加。
红外分光光度计

[发明专利]傅里叶变换红外分光光度计-CN202310148039.7在审
发明人：胜俣友裕;杉山周巳 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2023-02-22 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本发明提供傅里叶变换红外分光光度计(FTIR)，能够顺利且高精度地执行测定光谱的波数校正。FTIR具有红外光源、干涉仪、干涉仪的可动镜的位置参照用的半导体激光器以及计算机，其中，计算机基于所存储的半导体激光器的波长值和由激光检测器得到的激光干涉波的检测值对来自试样的红外干涉波的检测信号进行傅里叶变换，从而计算光谱。计算机计算固体的参考试样的光谱，针对该参考试样的光谱在特有的峰的波数域进行插值处理，基于该插值处理后的数据来读取特有的峰的波数，更新在傅里叶变换处理中使用的半导体激光器的波长值，以使该波数的读取值落入以特有的峰的原来的波数为基准的规定的范围。
傅里叶变换红外分光光度计

[发明专利]反射型的偏振光分离衍射元件以及具备该元件的光学测定装置-CN201980103062.6在审
发明人：福田隆史;江本显雄;成田贵人;早川广志;三好有一 -专利权人： 日本分光株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请日： 2019-12-16 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：本发明提供一种能够在包括紫外区的宽波长范围内使用的反射型的偏振光分离衍射元件以及具备该元件的光学测定装置。反射型的偏振光分离衍射元件具备：基板(1)；反射面(2)，其形成于基板(1)的表面；以及光栅状结构体(3)，其设置在反射面(2)上，呈现出结构性双折射(Δn*)。光栅状结构体(3)由4个图案的光栅状结构体(3A、3B、3C及3D)构成，所述4个图案的光栅状结构体具有各不相同的方位角的光栅状结构。多个图案的光栅状结构体(3A、3B、3C及3D)以使光栅状结构的方位角进行结构周期性的变化的方式在反射面2上沿规定方向进行排列。
反射偏振光分离衍射元件以及具备光学测定装置

[发明专利]红外光谱测定装置和浓度测定装置-CN202111597877.X在审
发明人：龟野逸人;世良卓之;小胜负纯 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：提供一种红外光谱测定装置和浓度测定装置，能够长时间稳定地测定规定的测定波数范围的红外光谱。红外光谱测定装置具备：傅立叶变换型红外分光光度计(10)；试样部(20)；试样用制冷机(22)；冷滤波器(80)；光检测器(30)；氦制冷机(40)，其执行由氦制冷剂进行的制冷循环来对光检测器(30)的MCT检测元件(32)和冷滤波器(80)进行冷却；控制部(50)，其控制氦制冷机(40)以使MCT检测元件(32)成为规定的设定温度；以及信号处理部(60)，其获取基于来自光检测器(30)的检测信号的光谱信息。控制部(50)具有能够将设定温度变更为4K～150K的范围中的多个温度的设定变更部(54)。
红外光谱测定装置浓度

[发明专利]示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序-CN201980095200.0在审
发明人：茂木智博;桑岛幹 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：使用具备双流类型的示差折光率检测部(RI检测部)的分析装置来使RI检测部的输出信号的噪声减少的方法如下：使用试样用泵(21)向试样用池(51)输送试样液，使用参照用泵(22)向参照用池(52)输送参照液，并通过光检测器(53)检测依次透过两个池(51)、(52)的光的行进方向的变化。在开始进行RI测定前，调整试样用泵(21)和参照用泵(22)的相位差。也就是说，调整两个泵(21)、(22)的相位差，以使由于来自试样用泵(21)的脉动流在试样用池(51)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声与由于来自参照用泵(22)的脉动流在参照用池(52)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声相抵消。
折光测定方法装置以及程序

[发明专利]圆二色性测定装置以及圆二色性测定方法-CN201980094139.8在审
发明人：三好有一;近藤吉朗 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2019-07-17 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01N21/19 文献下载
摘要：不需要基于标准试样进行校准作业的圆二色性测定装置具备：试样部(4)，其具有试样；PEM(3)，其对向试样部(4)的入射光或来自试样部(4)的出射光的偏振状态进行调制；光检测器(5)，其检测来自试样部(4)的出射光的光强度的变化；放大器(7)，其放大来自光检测器(5)的检测信号；AD转换器(8)，其将由放大器(7)放大后的检测信号转换为数字信号；以及数字处理装置(10)，其对来自AD转换器(8)的数字信号进行信号处理，来获取试样的圆二色性的测定值。AD转换器(8)构成为将在包含以与PEM(3)的调制频率相同的频率进行变化的光强度的AC成分和DC成分的状态下被放大后的检测信号转换为数字信号。
圆二色性测定装置以及方法

[发明专利]利用光谱的高速分类进行的实时光谱解析-CN201880054678.4在审
发明人：永森浩司;赤尾贤一;田村耕平;菅野美幸;名越利之 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2018-08-10 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种分光测定中的光谱解析、特别是基于光谱高速分类的光谱解析技术的改良。一种光谱解析装置(10)，具备测定对象试样(30)的试样光谱的测定单元(20)和解析该试样光谱的解析单元(40)，用于确定对象试样(30)中含有的化合物，所述光谱解析装置(10)的特征在于，解析单元(40)具有预先被进行过运算处理的库，库具有将所述化合物进行分类得到的多个化合物组，解析单元(40)还具备解析显示部(42)，在解析所述试样光谱的期间，解析显示部(42)将所述化合物所属的化合物组作为解析经过乃至解析结果实时地进行显示。
利用光谱高速分类进行实时解析

[外观设计]分光镜测量单元-CN201930223409.3有效
发明人：中司龙太 -专利权人： 日本分光株式会社
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： 16-06 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：分光镜测量单元。;2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用作分光镜测量单元。;3．本外观设计产品的设计要点：图中所示产品的形状。;4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。;5．图中所示产品由透明材料制成。
分光镜测量单元

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