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[发明专利]安全处理器跳转指令固定执行时间的测试方法-CN201610596521.7有效
发明人： 戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2016-07-27 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种安全处理器跳转指令固定执行时间的测试方法，编写嵌入式汇编程序，在固定跳转指令执行时间功能打开与关闭的情况下，执行跳转指令100次，分别使用计数器记录时间，根据规则比对时间。本发明能有效自动化测试,无人工干预。
安全处理器跳转指令固定执行时间测试方法

[发明专利]芯片模块最优参数的自学习选择方法-CN202111509203.X在审
发明人：张瀚文;戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片模块最优参数选择的自学习优化方法，本方法是一种快速自动化算法，用于芯片各配置参数遍历组合，以选择一组用于保证芯片整体性能最优的外部激励配置及芯片配置调优参数，特别适用于对输入模拟参数敏感的低功耗微控制器(以下简称MCU)芯片模拟模块与数模接口模块性能验证的自动化测试。本方法由数据分析自学习算法与程控自动采集平台两部分组成。数据分析自学习算法通过程控自动采集平台调整待评估芯片各项参数，获得性能指标反馈，得到不同参数的工作环境范围，从而分析得知性能与工作范围平衡后的最优参数；根据批量芯片分析结果更新数据，建立标准数据库，有选择性的进行参数与工作环境范围对新的芯片扫描，节约测试时间，在偏离标准曲线时提出预警。
芯片模块最优参数自学习选择方法

[发明专利]一种微控制器芯片通信类接口测试系统及其方法-CN202111201694.1在审
发明人：陈宣成;宗磊;戴昭君;崔丽华;张翰文 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。
一种控制器芯片通信接口测试系统及其方法

[发明专利]一种可靠性同测装置及其控制方法-CN202110084786.X在审
发明人： 戴昭君;蒋艳;宗磊;葛文启;吕瑞恩 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法，用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试，可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式，可选择全部覆盖存储空间，也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面，从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时，保存所有在测芯片的失效现场信息，便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制，还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试，广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
一种可靠性装置及其控制方法

[发明专利]一种多联张非接触智能卡同测设备及实现方法-CN201910973708.8在审
发明人：段松涛;葛文启;戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多联张非接触智能卡同测设备的实现方法，特别适用于在多联张非接触智能卡同测设备的设计中使用。本发明使用MCU控制多个读卡芯片，连接多个天线线圈与待测卡片进行通讯，每个读卡芯片将MCU发送的测试指令转换为13.56MHz的RF信号，经过滤波和匹配后通过宽带变压器耦合后将RF信号经过RF线缆传送到对应天线线圈上去,对相应的卡片进行测试。本发明架构简单，控制方便，能够隔离各个RF测试通道之间的干扰，实现同时测试多张卡片，成倍的提高测试速度，并支持较长的RF线缆连接天线线圈，可灵活地放置天线线圈的位置。特别适用于多联张智能卡的测试，尤其是用于对干扰较敏感的TYPE B类型的智能卡的同时测试。
一种多联张非接触智能卡设备实现方法

[发明专利]一种支持7816与14443接口的参数、指令与加密的测试读卡器-CN201910976062.9在审
发明人： 戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-15 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能卡测试读卡器，可实现符合ISO7816规范的接触接口与符合ISO14443规范的非接接口同时通讯，在可设置接触电压以及非接参数的同时，可实现指令流乱序测试，同时可内嵌终端安全控制模块，实现卡片安全所需要的内外部认证。读卡器提供可供上层测试应用调用的指令，可供使用者灵活地选择脚本语言，实现自动化测试。弥补了验证目前的商用测试仪均为单接口通讯，且为默认参数以及常规流程应用的缺点。该测试读卡器由硬件、驱动与用户指令程序三部分组成，可满足双界面智能卡片各种功能性能测试要求。
一种支持 7816 14443 接口参数指令加密测试读卡器

[发明专利]基于Python的芯片自动化验证测试系统及方法-CN202010992183.5在审
发明人：张瀚文;林秋;戴昭君;陈宣成 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2020-09-21 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了基于Python的芯片自动化验证测试系统及方法，特别适用于低功耗MCU芯片的IP功能验证，接口电特性参数，芯片性能的自动化测试。本发明使用Python开发的PC端上位机框架，涵盖UART/SPI/I2C/芯片JTAG调试四种连接模式与自定义通讯协议，并以透传指令的形式直接对单个或多个待测板进行通信，对待测芯片进行测试验证。同时使用程控的方式对可编程测试设备进行自动化控制，配合透传指令与数据采集算法以实现对芯片的实时数据监控与采集。本发明简化了传统芯片IP功能的验证操作流程，可适用于复杂IP与测试项的芯片验证环境。
基于 python 芯片自动化验证测试系统方法

[实用新型]一种多联张非接触智能卡同测装置-CN201921716326.9有效
发明人：段松涛;葛文启;戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多联张非接触智能卡同测装置，特别适用于在多联张非接触智能卡同测设备的设计中使用。本实用新型使用MCU控制多个读卡芯片，连接多个天线线圈与待测卡片进行通讯，每个读卡芯片将MCU发送的测试指令转换为13.56MHz的RF信号，经过滤波和匹配后通过宽带变压器耦合后将RF信号经过RF线缆传送到对应天线线圈上去,对相应的卡片进行测试。本实用新型架构简单，控制方便，能够隔离各个RF测试通道之间的干扰，实现同时测试多张卡片，成倍的提高测试速度，并支持较长的RF线缆连接天线线圈，可灵活地放置天线线圈的位置。特别适用于多联张智能卡的测试，尤其是用于对干扰较敏感的TYPE B类型的智能卡的同时测试。
一种多联张非接触智能卡装置

[实用新型]一种测试读卡器-CN201921720912.0有效
发明人： 戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-15 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试读卡器，可实现符合ISO7816规范的接触接口与符合ISO14443规范的非接接口同时通讯，在可设置接触电压以及非接参数的同时，可实现指令流乱序测试，同时可内嵌终端安全控制模块，实现卡片安全所需要的内外部认证。读卡器提供可供上层测试应用调用的指令，可供使用者灵活地选择脚本语言，实现自动化测试。弥补了验证目前的商用测试仪均为单接口通讯，且为默认参数以及常规流程应用的缺点。该测试读卡器由硬件、驱动与用户指令程序三部分组成，可满足双界面智能卡片各种功能性能测试要求。
一种测试读卡器

[发明专利]一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法-CN201910955837.4在审
发明人：崔丽华;戴昭君;蒋艳;林秋;朱建中 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-09 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，是采用如下技术特征实现的：主控端测试程序发送启动测试命令，测试设备上的嵌入式软件正确接收后，将集成所有生产测试指令，并分给多个测试子板；每块测试子板完成单通道测试后，记录测试结果；如果测试失败，则关闭该通道；后续测试指令将屏蔽该通道，直到所有通道测试完毕。嵌入式软件对返回的数据进行整理打包后，以报文的方式输出，从而实现多通道同测的目的。本发明能够快速、准确的实现智能卡测试任务，减少测试时间，提高测试效率，同时对智能卡安全性也具有一定保障。
一种用于智能卡芯片通道嵌入式软件实现方法

[发明专利]一种低功耗蓝牙芯片性能参数自动调整的系统及方法-CN201910128058.7在审
发明人： 戴昭君;张修远 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-02-21 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种低功耗蓝牙(BLE：Bluetooth Low Energy)芯片性能参数自动调整的系统及方法。蓝牙芯片在设计时，为了应对制造工艺的偏差以及保证兼容性，会对关键电路预留参数调整机制。在调试与测试中需要对诸多的性能配置参数进行调整试验，如时间间隔、窗口大小、输出接受功率等，本发明内嵌正交表测试用例设计算法，创新性地实现了针对每个芯片定制化的自动调整性能控制参数以达到各参数配置的最优状态，以保证芯片的通讯质量最好。该方案由控制协调python语言与通讯接口的电脑端驱动程序、python实现的基于正交表的通讯质量监控与修正算法以及与电脑驱动程序python算法相对应的蓝牙芯片嵌入式程序三部分组成。
蓝牙芯片驱动程序性能参数芯片低功耗算法正交测试用例设计自动调整性能嵌入式程序参数调整参数配置创新性地调整试验关键电路控制参数通讯接口性能配置修正算法制造工艺质量监控电脑端定制化兼容性通讯蓝牙内嵌预留调试保证测试输出电脑协调

[发明专利]芯片ADC性能自动化测试系统及方法-CN201811050751.9在审
发明人：张瀚文;戴昭君;段松涛 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2018-09-10 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片ADC性能自动化测试系统及方法，特别适用于蓝牙芯片等需要模数转换的信号处理硬件从而实现对其ADC总体性能的自动化测试。本发明使用带有标准GPIB工控接口，或者标准USB/RS232串口的可编程信号源与可编程逻辑分析仪，同时通过PC端的LABVIEW与MATLAB进行混合编程，包含仪器采集，高兼容性接口采集和文本输入分析三种数据采集模式，进而实现对芯片ADC性能的自动化测试，同时使用可拔插待测子母待测板兼容不同ADC的输出接口。本发明采用自动化软件与低成本高兼容硬件结合的设计思路，简化了传统芯片ADC测试操作流程，提高了效率减少了成本与人为失误风险。
自动化测试系统自动化测试芯片串口可编程信号源数据采集模式信号处理硬件可编程逻辑自动化软件测试操作传统芯片兼容硬件接口采集蓝牙芯片模数转换人为失误输出接口输入分析仪器采集待测板低成本分析仪兼容性拔插测子工控编程兼容文本

[发明专利]兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法-CN201410397857.1有效
发明人：赵海荣;陈可伟;戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2014-08-13 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法，基于运行在windows操作系统上的基于Tcl语言的上端脚本工具，使用Tcl语言编写测试用例，对上端脚本工具支持的驱动完成加载；在配置文件中对支持的不同读卡器进行定义，设置测试平台和通讯接口类型两个全局变量，用期望使用的读卡器和通讯接口类型对所定义的两个全局变量进行赋值，利用Tcl语言伪指令或者手动操作选择与读卡器相匹配的驱动，完成不同测试平台的切换以及配置读卡器参数。本发明能在不同读卡器之间切换，实现测试脚本的统一，同时能方便、灵活的配置不同读卡器的参数。
读卡器测试平台测试系统实现双界面智能卡脚本工具全局变量通讯接口上端兼容驱动测试脚本配置文件语言编写灵活的加载配置语言匹配测试期望统一

[发明专利]一种自动触发测试的方法和电路-CN201711072432.3在审
发明人：段松涛;戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2017-11-04 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G05B19/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种自动触发测试的方法和电路，特别适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法和电路，当多联张卡放置到指定位置时，通过多个纸张传感器检测到多联张卡的出现，将各自产生的电信号通过逻辑与电路传送给控制器，通知控制器开始测试；当多联张卡测试完毕离开指定位置时，多个张传感器检测到多联张卡离开时，将各自产生的电信号通过逻辑或电路传送给控制器，通知控制器本张多联张卡测试完毕，准备下一张的测试。本发明能够自动检测多联张卡是否放置到指定位置并通知控制器开始测试，减少误判，减少人为操作，提高测试速度。
一种自动触发测试方法电路

[发明专利]基于正交表的多条件参数测试用例设计方法-CN201610788798.X在审
发明人： 戴昭君 -专利权人：上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于正交表的多条件参数测试用例设计方法，包括如下步骤步骤一、确定测试项中有哪些变量；步骤二、确定每个变量有哪几个水平；步骤三、选择一个合适的正交表；步骤四、把变量的值映射到所述正交表中；步骤五、把每一行的各变量水平的组合作为一个测试用例。本发明能够有效的提取测试关键因素、提高测试效率。
基于正交条件参数测试设计方法

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