专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种可靠性同测装置及其控制方法-CN202110084786.X在审
  • 戴昭君;蒋艳;宗磊;葛文启;吕瑞恩 - 上海华虹集成电路有限责任公司
  • 2021-01-22 - 2021-06-15 - G06F11/00
  • 本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法,用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试,可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式,可选择全部覆盖存储空间,也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面,从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时,保存所有在测芯片的失效现场信息,便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制,还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试,广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
  • 一种可靠性装置及其控制方法

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