专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种无线传感器网络中节点的识别方法-CN202211453793.3在审
  • 尚宇哲;龙善丽;张紫乾 - 华东光电集成器件研究所
  • 2022-11-21 - 2023-03-07 - H04W12/122
  • 本发明公开了一种无线传感器网络中节点的识别方法,包括:从无线传感器网络中选取任一节点记为主节点;通过主节点广播RTS信号遍历无线传感器网络中其他所有节点;获取主节点接收到的回传CTS信号的节点记为参与节点;获取主节点与各参与节点之间的交互参数;基于跨层模糊算法对交互参数进行处理生成各参与节点的初始评估值,并基于初始评估值计算初始评估总值;基于预构建的Bi‑LSTM+BBMO模型对交互参数进行处理生成各参与节点的传递信任值;基于传递信任值计算主节点对各参与节点的信任值,并基于信任值计算信任总值;根据初始评估总值和信任总值计算各参与节点的综合评价,并根据综合评价对各参与节点进行判断识别;本发明能够对节点进行高精准度的识别。
  • 一种无线传感器网络节点识别方法
  • [发明专利]一种多通道ADC测试方法-CN202111444444.0在审
  • 孙碧孺;唐兴刚;张紫乾;张慧 - 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心
  • 2021-11-30 - 2022-03-04 - H03M1/10
  • 本发明公开了一种多通道ADC测试方法,包括以下步骤:S1、进行若干样品摸底测试;S2、统计单个通道合格率;S3、测量同批次剩余芯片;S4、不同批次芯片循环测试。本发明通过摸底‑统计‑循环测试方法,可以更科学高效地对多通道ADC进行测量,减少测试中的重复工作、提高测试效率、节约测试成本,增加了测试的准确性可靠性稳定性,及时总结排查问题,提高研发生产效率。摸底‑统计‑循环测试方法的测试结果可以在芯片研发生产的每个阶段发挥其意义。原理相似的芯片之间也可以通过摸底‑统计‑循环测试结果进行比较,排查问题改良设计,提高效率。
  • 一种通道adc测试方法

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