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[发明专利]一种面向在线无损检测的太赫兹阵列成像装置及方法-CN202310961981.5在审
发明人：孙超;陈伟;高媛;胡大海;颜振;曹桂财;耿祖琨;常庆功;董继刚;王亚海;年夫顺 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-08-01 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明提供了一种面向在线无损检测的太赫兹阵列成像装置及方法，装置包括微波信号源、多通道扩频装置、多通道同步采集单元、太赫兹收发阵列、一维运动装置、主控计算机；可实现工业大尺寸材料的在线实时检测，采用多子阵偏移组合方式，解决太赫兹发射和接收模块体积大导致阵列布局无法满足一个波长间隔要求的问题；采用基于金属平板的空口校准测试方法代替传统金属球校准方法，有效改善平板材料的成像质量；采用基于电子扫描与多通道同步接收的太赫兹收发技术，采用线性调频信号体制与相干累积方式实现宽带信号高灵敏度接收，采用高速电子开关配合多通道同步接收实现毫秒量级高速数据采集，保障测试效率。
一种面向在线无损检测赫兹阵列成像装置方法

[发明专利]一种便携式雷达散射特性测试装置及方法-CN202010831710.4有效
发明人：孙超;常庆功;赵锐;王亚海;米郁;颜振 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开了一种便携式雷达散射特性测试装置及方法，属于检测领域，指导操作人员对被测雷达吸波涂层进行雷达散射特性诊断和评估，其中装置包括用于检测并分析被测雷达吸波涂层的测试前端，以及用于实时获取测试前端的位置信息的定位模块，其中，测试前端至少包括相连接的射频收发模块以及控制单元，控制单元还连接定位模块；控制单元将采集到的被测雷达吸波涂层散射回波数据进行处理，获得被测雷达吸波涂层的高精度散射图像。
一种便携式雷达散射特性测试装置方法

[发明专利]一种提高太赫兹波无损检测分辨率的系统及方法-CN202010767447.7有效
发明人：王金榜;年夫顺;王亚海;赵锐;常庆功 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2020-08-03 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高太赫兹波无损检测分辨率的系统及方法，属于检测技术领域通过在太赫兹波聚焦元件后加入光学元件将准直高斯波束生成准零阶贝塞尔波束来实现太赫兹波成像中较长景深和较高的分辨率；并采用共聚焦技术来满足大的动态范围和较高的信噪比，系统包括太赫兹波发射端、太赫兹波接收端，以及用于测量太赫兹波发射端、太赫兹波接收端与探测区域距离的激光位移传感器，太赫兹波发射端和太赫兹波接收端中的太赫兹波的方向相异；太赫兹波发射端将太赫兹波投射到探测区域，太赫兹波接收端从探测区域接收太赫兹波；太赫兹波发射端和太赫兹波接收端均包括用于太赫兹波聚焦的聚焦元件以及用于生成准零阶贝塞尔波束的光学元件。
一种提高赫兹无损检测分辨率系统方法

[发明专利]一种高温环境太赫兹材料介电特性测量装置及方法-CN201911094607.X有效
发明人：孙超;常庆功;赵锐;胡大海;郭荣斌 -专利权人：青岛兴仪电子设备有限责任公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2019-11-11 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本公开提供了一种高温环境太赫兹材料介电特性测量装置及方法。其中，该装置包括加热模块；双路微波信号源；太赫兹收发模块，用于产生太赫兹发射信号和太赫兹本振信号，接收待测材料反射信号并与本振微波信号混频产生测试中频信号，及将太赫兹射频微波信号直接与本振微波信号混频产生参考中频信号；信号处理模块，用于接收负载校准测试、开路校准测试和短路校准测试情况下对应的测试中频信号和参考中频信号，进而得到对应的反射系数测量值；根据反射系数测量值、反射系数理论值与方向性误差、频率响应误差和源失配误差的关系，求解方向性误差、频率响应误差和源失配误差，进而再根据一维距离像估计待测材料厚度，求解出待测材料的介电特性。
一种高温环境赫兹材料特性测量装置方法

[发明专利]一种基于等值线分布的天线方向图测量方法-CN202110922203.6在审
发明人：胡正;郭利强;颜振;周杨;杨传玺;常庆功;赵锐;吴波;陈安涛;王亚海 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2021-08-12 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于等值线分布的天线方向图测量方法，属于天线测试技术领域，首先基于天线方向图的等值线分布特点设计无人飞行器的飞行轨迹，然后按照轨迹飞行采集电磁信号并进行插值处理，得到闭合性好的等值线方向图；最后对重点关注区域的电磁信号进行反复采集并迭代插值，最终得到高精度的三维天线方向图。本发明采用无人飞行器搭载测量设备对天线远场方向图进行测量，可以降低对接收机动态范围的要求；同时，根据等值线采集电磁信号，基于采样点数据进行三维方向图插值时，在等值线上，可以提高信息的插值精度，在等值线梯度方向上可以提高方向图的信息精度。
一种基于等值线分布天线方向图测量方法

[发明专利]一种用于微型芯片天线的紧凑型毫米波测试系统及方法-CN202111066088.3在审
发明人：杨传玺;殷志军;赵锐;常庆功;王亚海;金羲宸 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2021-09-13 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于微型芯片天线的紧凑型毫米波测试系统及方法，属于微型芯片天线测试领域，本发明系统，包括仪器分系统和暗箱分系统；其中，仪器分系统包括主控计算机、交换机、矢量网络分析仪和转台控制装置；暗箱分系统包括微型芯片天线馈电平台模块、测试转台模块、S参数测试模块、探针、微型芯片天线、辅助天线和接收模块。本发明系统集成度高、结构紧凑、方便移动；支持球面近场和远场测试功能；测试距离可调，满足不同口径天线的测试需求。
一种用于微型芯片天线紧凑型毫米波测试系统方法

[发明专利]基于相位和-差法的相控阵天线测试机械调平装置及方法-CN202110971465.1在审
发明人：曹桂财;王金榜;孙超;常庆功;陈安涛;胡正 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相位和‑差法的相控阵天线测试机械调平装置及方法，属于测试技术领域。本发明装置包括相控阵天线和多维转台，相控阵天线安装在多维转台的极化轴转盘上，且相控阵天线的指向剖面角0°平行于多维转台的方位运动面。本发明方法可针对不同的相控阵天线进行机械调平且具有更高的机械调平测试精度。
基于相位相控阵天线测试机械平装方法

[发明专利]一种基于相位和-差法的天线罩测试电轴快速对准的方法-CN202110971468.5在审
发明人：曹桂财;王金榜;孙超;常庆功;陈安涛;胡正 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相位和‑差法的天线罩测试收发天线电轴对准的方法，属于测试技术领域。本发明方法可直接利用天线罩测试时使用的辅助和差天线进行电轴对准，不需要额外增加测试设备，测试方法简单易于实施；本发明利用的是辅助和差天线自身的特性，只需前期对辅助和差天线进行一次测量获取该特性，通过前期测量得到鉴角曲线后，后续进行电轴对准时只需要一次测量就可以得到电轴偏差，提高了天线罩测试电轴对准效率。
一种基于相位天线罩测试快速对准方法

[发明专利]一种全电子太赫兹层析成像装置及其控制方法-CN201910717191.6有效
发明人：孙超;常庆功;王亚海;米郁;年夫顺 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2019-08-05 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明公开了一种全电子太赫兹层析成像装置及其控制方法，该装置包括：双路微波信号源，用于生成1路射频微波信号和1路本振微波信号；多通道扩频模块，用于分别将1路射频微波信号和1路本振微波信号扩展成N路射频微波信号和N路本振微波信号，并产生1路参考中频信号；多发多收太赫兹环形阵列，用于分别将N路射频微波信号和N路本振微波信号进行倍频和放大，产生N路太赫兹发射信号和N路太赫兹本振信号，将N路太赫兹本振信号与N路被测样品的散射信号进行混频，得到N路测试中频信号；多通道同步采集单元，用于采集N路测试中频信号和1路参考中频信号；主控计算机采集被测样品散射数据并处理，通过对比源算法实现被测样品的高分辨成像。
一种电子赫兹层析成像装置及其控制方法

[发明专利]一种用于天线方向图测试的天线测试转台动态控制方法-CN201911145841.0有效
发明人：年夫顺;常庆功;王亚海;周杨;孙超;胡大海 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于天线方向图测试的天线测试转台动态控制方法，包括如下步骤：启动测试软件，完成参数设置；开始测试流程，控制天线测试转台旋转到起始角度，控制信号发射装置与信号接收装置完成该角度下的数据采集，并连续完成至少4个连续角度下的数据采集；判定数据是否依次单调变化，以及相邻两个角度间的数据差值的绝对值是否依次递增或递减，根据数据的特性控制天线测试转台降低转速或减小步进角，最终实现方向图幅相数据的动态非均匀采样，在确保方向图关键信息不丢失的同时，保证一定的测试效率。
一种用于天线方向图测试天线转台动态控制方法

[外观设计]扫描架控制器-CN202030773803.7有效
发明人：张升华;唐敬双;谭浩;王亚海;常庆功 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2020-12-16 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： 14-03 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：扫描架控制器。2.本外观设计产品的用途：用于对扫描架的控制。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。
扫描控制器

[发明专利]基于太赫兹波的材料高温环境下介电特性检测方法及系统-CN202010935315.0在审
发明人：王金榜;赵锐;常庆功;王亚海;孙超;年夫顺 -专利权人：中电科仪器仪表有限公司
申请日： 2020-09-08 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于太赫兹波的材料高温环境下介电特性检测方法及系统，包括：获取由太赫兹发射模块产生的太赫兹波；将所述太赫兹波依次经过聚焦模块和波束调控模块，以将聚焦产生的高斯波束转换为准零阶贝塞尔波束，并入射至待测高温材料中；将经待测高温材料反射后的反射信号依次经过波束调控模块和聚焦模块返回至太赫兹接收模块，并根据反射信号的成像得到待测高温材料的厚度和介电常数。通过在太赫兹聚焦模块后加入波束调控模块将准直的高斯波束生成准零阶贝塞尔波束，实现兼容较长焦深和较小的焦斑尺寸，满足较厚高温材料的测试。
基于赫兹材料高温环境下介电特性检测方法系统

[发明专利]一种基于近场稀疏成像外推的目标RCS测量方法-CN201810629585.1有效
发明人：孙超;常庆功;王亚海;胡大海;颜振 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-06-19 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01S13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于近场稀疏成像外推的目标RCS测量方法，采用稀疏重建算法进行目标高分辨成像，生成图像中非零像素即为目标的散射中心，避免了CLEAN算法迭代过程带来的积累误差问题，并且在稀疏字典构造过程中考虑天线方向图和距离衰减因素，提高了RCS测量的精度。
一种基于近场稀疏成像目标 rcs 测量方法

[发明专利]一种基于曲线拟合的探头天线模型快速计算方法-CN201710360973.X有效
发明人：杜刘革;周扬;赵锐;常庆功;王亚海 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2017-05-22 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于曲线拟合的探头天线模型快速计算方法，该方法首先根据探头口径大小以及探头复反射系数计算出随频率变化的参数C0，然后根据C0与频率的分布，利用曲线拟合得到反映参数C0与频率关系的拟合函数式，将拟合系数作为探头参数存储，在近远场变换过程中，根据测量频率、拟合系数即可利用拟合函数式计算得到C0，然后根据新的Yaghjian模型计算得到探头H面方向图。本方法在进行近远场变换过程中探头方向图的计算复杂度显著低于求解二次复数方程，而且也避免了存储整个频段内的复反射系数数据。
一种基于曲线拟合探头天线模型快速计算方法

[发明专利]一种用于RCS测试天线极化快速调整装置-CN201711339368.0有效
发明人：孙福德;路波;孙桂清;常庆功 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2017-12-14 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：本发明提供一种用于RCS测试天线极化快速调整装置，4个衬套通过过盈配合的方式与法兰轴配合；首先把4个压装螺母铆装在销轴挡片上，然后把二者放在端盖的凹槽中；然后把弹簧放在销轴上，将把手安装在位于销轴套末端的外螺纹上；最后把销轴套放在位于端盖的孔中，通过4个螺钉把销轴、端盖和销轴挡片连接；极化快速调整机构装配的步骤包括：首先将轴组件装在轴承内圈一侧；然后把轴用弹性挡圈装在轴组件上，卡住轴承内圈的另一侧；然后把轴组件、轴承和轴用弹性挡圈组成的整体放到轴承座内，使轴承的外圈一侧跟轴承座的内壁贴合；最后用螺钉把端盖组件安装在轴承座上。采用上述方案，安装方式方便、安全、可靠，天线极化调整准确、快速。
一种用于 rcs 测试天线极化快速调整装置

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