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[实用新型]用于半导体器件的焊球拉脱平台-CN202321264079.X有效
发明人：王伟;裴选;宋玉玺;席善斌;张魁;高东阳;褚昆;彭浩;黄杰 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于半导体器件的焊球拉脱平台，包括底座、第一夹持单元、第二夹持单元以及调节结构。底座包括第一支撑部及第二支撑部，所述第一支撑部和所述第二支撑部之间的间距可调节；第一夹持单元设置在所述第一支撑部上，用于夹持固定元器件；第二夹持单元设置在所述第二支撑部上，用于夹持固定元器件；调节结构与所述第一支撑部及所述第二支撑部分别螺纹连接，用于调节所述第一支撑部及所述第二支撑部之间的间距。本实用新型提供的用于半导体器件的焊球拉脱平台，旨在能够解决现有技术中在焊球拉脱实验中使用的固定平台只能针对一种元器件，适用性差，工作效率低的问题。
用于半导体器件焊球拉脱平台

[实用新型]基于双端口网络分析仪的平衡器件测试装置-CN202321295923.5有效
发明人：冉红雷;李英青;董建丽;张魁;柳华光;席善斌;彭浩;黄杰 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种基于双端口网络分析仪的平衡器件测试装置，包括底座、电路板和两个压接组件；其中，底座的两端分别设有一个用于连接网络分析仪的同轴连接器，底座上间隔设置两个平衡器件；电路板具有将两个平衡器件电性连接以形成整体的被测器件的第一导通电路，还具有将被测器件的两个测试端分别与两个同轴连接器电性连接的第二导通电路；两个压接组件分别铰接于底座上，并分别用于压紧两个平衡器件。本实用新型提供的基于双端口网络分析仪的平衡器件测试装置，操作简单方便，无需采用多端口网络分析仪搭配平衡测试模块进行测试，从而能够大大降低平衡器件的测试难度和成本。
基于端口网络分析平衡器件测试装置

[发明专利]粒子材质识别方法、装置及电子设备-CN202310712889.5在审
发明人：褚昆;杨振宝;高蕾;尹丽晶;冉红雷;柳华光;张魁;席善斌;黄杰 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N29/02 文献下载
摘要：本申请适用于材质识别技术领域，提供了一种粒子材质识别方法、装置及电子设备。该方法包括：获取粒子碰撞产生的原始声信号，对原始声信号进行分帧，得到多帧声信号；计算多帧声信号中各帧声信号对应的频带方差值，并根据各帧声信号对应的频带方差值，确定各帧声信号的脉冲判决值；根据各帧声信号的脉冲判决值和各帧声信号对应的频带方差值，确定粒子的多个脉冲信号段，并基于多个脉冲信号段，构建粒子的重构声信号；对重构声信号进行特征提取，得到粒子的特征向量，并将特征向量输入预设的材质识别模型，获得所述粒子的材质。本申请能够实时、准确地构建重构声信号，进而基于该重构声信号准确识别粒子的材质。
粒子材质识别方法装置电子设备

[发明专利]平衡器件测试装置及测试方法-CN202310601955.1有效
发明人：冉红雷;闫萌;李英青;李圣德;张魁;马坤;席善斌;彭浩;黄杰 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种平衡器件测试装置及测试方法，平衡器件测试装置包括底座、电路板、两个抵压件，以及双端口网络分析仪；底座两端分别设有一个同轴连接器，顶面设有两个分别适于定点放置平衡器件的定位槽；电路板上具有将两个平衡器件的平衡端口对应连接以获得虚拟单端器件的第一导通电路，还具有将两个平衡器件的非平衡端口分别与两个同轴连接器电性连接的第二导通电路；两个抵压件用于分别将两个平衡器件压紧在底座上；双端口网络分析仪的两个物理端口分别与两个同轴连接器电性连接。本发明提供的平衡器件测试装置及测试方法，能够采用双端口网络分析仪对平衡器件进行电性能测试，降低平衡器件测试成本。
平衡器件测试装置方法

[发明专利]一种可切换的绝缘子检漏试验平台、检漏系统和方法-CN202211700214.0在审
发明人：王伟;裴选;席善斌;高东阳;高若源;张魁;黄杰;彭浩 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本申请适用于电子元器件检测技术领域，提供了一种可切换的绝缘子检漏试验平台、检漏系统和方法，该试验平台包括：压紧装置、垫片、第一腔体结构、密封垫圈、第二腔体结构和压力传感器；压紧装置、垫片、第一腔体结构、密封垫圈、第二腔体结构从上至下依次连接；第一腔体结构和第二腔体结构组合构成空腔结构，垫片通过第一凹槽与第一腔体结构相连；压力传感器位于压紧装置内部，压力传感器用于检测压紧装置在压紧绝缘子时的压力。本申请能够提高检漏系统中的检漏效率。
一种切换绝缘子检漏试验平台系统方法

[发明专利]层叠封装器件测试装置及测试方法-CN202310601807.X在审
发明人：冉红雷;李圣德;李英青;闫萌;张魁;马坤;席善斌;彭浩;黄杰 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种层叠封装器件测试装置及测试方法，测试装置包括底座和第一导电网；底座的周向边缘间隔分布有多个第一连接器，底座的顶面上设有第一电路板，第一电路板上设有第一测试布线图，且第一测试布线图与各个第一连接器分别连接导通；第一导电网贴合固定于第一电路板上，第一导电网与第一测试布线图接触导通；其中，第一导电网上用于定点放置待测器件，以使待测器件的各个底部焊球与第一导电网接触；其中两个第一连接器用于连接测试仪形成测试链路以检测相应的底部焊球之间的电信号状态。本发明提供的层叠封装器件测试装置及测试方法，测试效率高，能够实现产品组装过程中的质量控制，提高产品合格率。
层叠封装器件测试装置方法

[发明专利]元器件引线牢固性试验装置及方法-CN202310120541.7在审
发明人：冉红雷;赵海龙;张魁;闫萌;马坤;席善斌;彭浩;黄杰;尹丽晶 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01N3/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种元器件引线牢固性试验装置及方法，元器件引线牢固性试验装置包括底座、器件固定架、夹持组件，以及夹钳；底座上设有拱形支架，拱形支架的侧壁上随形设置有半圆形轨迹的滑道，滑道内滑动连接有滑块；器件固定架的一端与滑块固定连接，另一端沿半圆形轨迹的径向延伸至半圆形轨迹的圆心区域上，器件固定架的延伸端用于夹持元器件的主体和/或引线；夹持组件固定连接于底座上，用于夹持元器件的其中一根或多根引线的下端；夹钳用于夹持引线并保持悬垂状态，夹钳上悬挂有砝码。本发明提供的元器件引线牢固性试验装置及方法，能够提高元器件引线牢固性试验的效率和规范性。
元器件引线牢固试验装置方法

[发明专利]一种部分填充底填料的倒装芯片封装结构-CN202211478793.9有效
发明人：冉红雷;吴鲁超;王珺;张魁;黄杰;席善斌 -专利权人：河北北芯半导体科技有限公司;复旦大学
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H01L23/16 文献下载
摘要：本申请适用于半导体技术领域，提供了一种部分填充底填料的倒装芯片封装结构，该结构包括：层叠的基板和芯片；多个焊球，呈阵列分布在基板和芯片之间，通过焊球使得芯片与基板电连接，且多个焊球中的至少部分焊球被填充材料包覆，且被包覆填充材料的焊球之间具有间隔。本申请有利于实现在提高半导体封装结构的可靠性的同时，提高半导体封装结构的高频信号的电气性能。
一种部分填充填料倒装芯片封装结构

[发明专利]利用X射线检验器件封盖密封缺陷的方法-CN202210635539.9在审
发明人：冉红雷;周振华;张魁;赵海龙;席善斌;彭浩;黄杰 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2022-06-06 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种利用X射线检验器件封盖密封缺陷的方法，包括：获取器件封盖的X射线Y向视图，将X射线Y向视图上的封盖密封区域划分为多个边线区域和多个边角区域，其中，边线区域的内外边界为直线，边角区域的内外边界为曲线；分别确定边线区域和边角区域内的缺陷计算公式；基于数字图像处理技术获得封盖密封区域的内边界轮廓、外边界轮廓及缺陷轮廓；根据内边界轮廓、外边界轮廓、缺陷轮廓获得缺陷计算公式的各个参数，并计算获得封盖密封缺陷比率。本发明提供的利用X射线检验器件封盖密封缺陷的方法，通过调整计算公式能够减少误判浪费的情况，节约成本，同时利用数字图像处理技术能够快速获取准确的缺陷数据，提高效率。
利用射线检验器件密封缺陷方法

[发明专利]基于电子元器件的数据仓库构建方法及系统-CN202111416557.X在审
发明人：张魁;崔亚茹;冉红雷;赵海龙;尹丽晶;黄杰;彭浩;席善斌 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所;河北工业职业技术学院
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G06F16/25 文献下载
摘要：本发明适用于数据仓库技术领域，提供了一种基于电子元器件的数据仓库构建方法及系统，该方法包括：获取电子元器件数据源，并将电子元器件数据源中的数据存储在数据源缓存中；以及并行执行部下述步骤：从数据源缓存中获取待抽取处理数据，并根据待抽取处理数据中电子元器件的特征进行分类，根据不同的类别进行特征抽取，并将抽取的特征数据存储在第一缓存中；从所第一缓存中获取待转换数据，根据待转换数据进行数据格式转换，并将转换后的数据存储在第二缓存中；从第二缓存中获取待装载数据，将待装载数据转存到数据仓库中。从而将散乱的电子元器件数据存储到数据仓库中，且本发明通过并行处理方式可以提高数据处理效率。
基于电子元器件数据仓库构建方法系统

[发明专利]氢效应试验箱和系统-CN201910197842.3有效
发明人： 席善斌;裴选;彭浩;高金环;张魁;高东阳 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2019-03-15 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明适用于电子元器件可靠性评价技术领域，提供了一种氢效应试验箱和系统。该系统包括：供电模块、氢浓度控制模块、控温模块、抽真空模块、参数测试模块和氢效应试验箱；其中，抽真空模块将氢效应试验箱内部设置为真空状态，以使氢浓度控制模块将预设浓度的氢气排入氢效应试验箱内部；控温模块控制氢效应试验箱内部的温度；供电模块对试验器件施加偏置电压，参数测试模块监测施加偏置电压后的试验器件的参数变化值。本发明能够精确控制试验箱中的温度和氢气浓度，还可以给试验器件施加偏置电压并监测试验器件的参数变化值，从而评价氢气浓度对试验器件的参数的影响。
效应试验系统

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