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- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质-CN202310445604.6在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2023-04-23
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2023-10-27
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G01M5/00
- 本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。提供能够通过计算量比较小的处理高精度地算出在结构物移动的移动体的各车辆的重量相关的系数的测量方法。测量方法包括如下工序：根据结构物的观测点的数据算出第一位移数据；生成观测信息；算出移动体的各车辆引起的结构物的挠曲量；算出各车辆相对于结构物的进入时刻及退出时刻；算出通过将进入时刻及退出时刻按时刻顺序重新排列后的多个时刻分割的各时间区间；算出各时间区间的第一位移数据的振幅量；算出各时间区间的挠曲量的振幅量；设定各时间区间的挠曲量的振幅量与相对于各车辆的加权系数之积的和与各时间区间的第一位移数据的振幅量相等，算出加权系数。
- 测量方法测量装置系统以及存储介质
- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序-CN202310442700.5在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2023-04-23
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2023-10-27
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G01B21/32
- 本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序。提供的测量方法能够通过计算量比较小的处理高精度地算出移动体在结构物移动时的结构物的挠曲量。该测量方法包括如下工序：根据结构物的观测点的数据生成第一位移数据；生成观测信息；算出移动体的各车辆单独在所述结构物移动的时间区间；算出所述结构物的第一挠曲量；根据所述第一位移数据和所述时间区间算出所述各车辆单独在所述结构物移动时的位移响应；根据所述第一挠曲量和所述时间区间算出所述各车辆单独在所述结构物移动时的挠曲响应；根据所述位移响应及所述挠曲响应算出针对所述各车辆的加权系数；以及根据所述加权系数算出对所述第一挠曲量进行校正后的第二挠曲量。
- 测量方法测量装置系统以及程序
- [发明专利]计测方法、计测装置、计测系统以及存储介质-CN202110282521.0有效
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2021-03-16
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2023-07-21
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G01G19/03
- 本发明公开了计测方法、计测装置、计测系统以及存储介质。计测方法，包括：基于观测装置的观测信息，获取包括移动体的多个部位通过了结构物的第一观测点的时刻以及对于所述多个部位对第一观测点的作用的响应即物理量的第一观测点信息的步骤；基于所述观测信息，获取包括所述多个部位通过了第二观测点的时刻以及对于所述多个部位对第二观测点的作用的响应即物理量的第二观测点信息的步骤；基于第一观测点信息及第二观测点信息、规定的系数、以及结构物的挠曲的近似式，计算所述多个部位所引起的结构物的挠曲波形的步骤；以及将所述多个部位所引起的结构物的挠曲波形相加，计算移动体所引起的结构物的挠曲波形的步骤。
- 方法装置系统以及存储介质
- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统及记录介质-CN202110284578.4有效
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2021-03-17
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2023-07-18
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G01G19/03
- 本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统及记录介质。一种测量方法，包括：获取包含第m移动体的各部位通过第一观测点的时刻以及作为对作用的响应的物理量的第一观测点信息的步骤；获取包含所述各部位通过第二观测点的时刻以及作为对作用的响应的物理量的第二观测点信息的步骤；计算由所述各部位引起的结构物的挠曲波形的步骤；将所述挠曲波形相加，计算第m移动体挠曲波形的步骤；计算第三观测点的位移波形的步骤；将第m振幅系数与所述第m移动体挠曲波形相乘而得到的波形作为第m振幅调整挠曲波形，设第一～第M振幅调整挠曲波形之和与所述位移波形近似，来计算所述第一振幅系数～所述第M振幅系数的步骤。
- 测量方法测量装置系统记录介质
- [发明专利]导出方法、导出装置、导出系统、程序-CN202210736185.7在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2022-06-27
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2022-12-30
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G01M5/00
- 本发明涉及导出方法、导出装置、导出系统、程序，所述导出方法包括：获取步骤，获取时序数据，所述时序数据中作为编组有一个以上移动体的编组移动体在结构物上移动所引起的响应而包括所述结构物中的既定的观测点处产生的物理量；环境信息获取步骤，获取结构物长度、移动体长度、以及所述移动体中与所述结构物的接触部位的设置位置的信息作为环境信息；基频导出步骤，基于所述时序数据导出所述时序数据的基频；通过期间导出步骤，基于所述时序数据导出所述编组移动体通过所述结构物的通过期间；以及个数导出步骤，基于所述环境信息、所述基频以及所述通过期间，导出所述编组移动体中包括的所述移动体的个数。
- 导出方法装置系统程序
- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统及存储介质-CN202210741150.2在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2022-06-28
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2022-12-30
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G01M5/00
- 本发明提供测量方法、测量装置、测量系统及存储介质，提供能够通过计算量比较小的处理来计算移动体在结构物上移动时的静态响应的测量方法，包括：基于结构物的观测点的观测数据，生成第一测定数据的工序；对第一测定数据进行滤波处理，生成第二测定数据的工序；计算结构物的第一挠曲量的工序；对第一挠曲量进行滤波处理，计算第二挠曲量的工序；利用第二挠曲量的一次函数来近似第二测定数据，计算1次系数及0次系数的工序；基于1次系数及0次系数及第二挠曲量，计算第三挠曲量的工序；基于0次系数、第二挠曲量及第三挠曲量，计算偏移量的工序；以及将1次系数和第一挠曲量的积与偏移量相加，计算静态响应的工序。
- 测量方法测量装置系统存储介质
- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序-CN202210749561.6在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2022-06-29
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2022-12-30
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G01M5/00
- 本发明提供测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序，能够高精度地计算移动体在结构物上移动时的静态响应及动态响应。在该测量方法中，对基于观测数据的第一测定数据进行滤波处理而生成第二测定数据，基于结构物的挠曲的近似式、观测信息以及环境信息计算所述结构物的第一挠曲量，对所述第一挠曲量进行滤波处理而计算第二挠曲量，根据基于所述第二测定数据和所述第二挠曲量算出的一次系数和零次系数以及所述第二挠曲量计算第三挠曲量，基于所述零次系数、所述第二挠曲量以及所述第三挠曲量计算偏移，将所述一次系数与所述第一挠曲量之积和所述偏移相加而计算第一静态响应，从所述第一测定数据减去所述第一静态响应而计算第一动态响应。
- 测量方法测量装置系统以及程序
- [发明专利]测量方法、测量装置、测量系统及存储介质-CN202210752913.3在审
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小林祥宏
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精工爱普生株式会社
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2022-06-29
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2022-12-30
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G01M5/00
- 一种测量方法、测量装置、测量系统及存储介质，能够高精度地计算移动体在结构物上移动时的动态响应的衰减率，测量方法包括：对第一测定数据进行滤波处理来生成第二测定数据，基于结构物的挠曲的近似式来计算第一挠曲量，对第一挠曲量进行滤波处理来计算第二挠曲量，基于基于第二测定数据和第二挠曲量计算出的1次系数及0次系数来计算第三挠曲量，基于0次系数、第二挠曲量及第三挠曲量来计算偏移量，将1次系数和第一挠曲量的积与偏移量相加来计算静态响应，从第一测定数据中减去静态响应来计算第一动态响应，从第一动态响应衰减不需要的信号来计算第二动态响应，基于第二动态响应的包络线振幅来计算第二动态响应的衰减率。
- 测量方法测量装置系统存储介质
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