专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]微电子器件的重要参数的确认方法-CN200610018328.1无效
  • 沈森祖;石坚;夏强民 - 中国船舶重工集团公司第七○九研究所
  • 2006-02-07 - 2007-08-15 - G01R31/00
  • 一种微电子器件的重要参数的确认方法,主要包括两个C++模块:第一个模块是input modular,主要负责对自动测试系统/实验数据的录入和显著性标志的求得,并确保原始数据满足规定的形式和要求;第二个模块是数据处理模块是data handing modular,主要负责对数据矩阵的初次变换和对初次变换后的数据矩阵的处理。优点是:能够准确迅速的判断出微电子的重要参数。能对具有不同的量值范围或不同度量衡范围的微电子器件参数的重要性进行确认。是微电子测试领域和分析领域的一种崭新的技术,其使用对不同的量值范围或不同度量衡的数据都有效。而对原始数据的获得方式无关。并且算法容易编程和实现。
  • 微电子器件重要参数确认方法
  • [发明专利]ASIC器件的自动测试技术-CN200510019839.0有效
  • 沈森祖;石坚;夏强民;吴丹 - 中国船舶重工集团公司七○九研究所
  • 2005-11-18 - 2007-05-23 - G01R31/28
  • 一种ASIC器件的自动测试技术包括:重组S10大规模集成电路测试系统、PC机、仿真器,S10大规模集成电路测试系统和PC机、PC机和仿真器之间用RS232连接,在PC机中使用逻辑描述生成测试程序,或使用设计源文件生成测试程序,或使用金器件生成测试程序,PC机和S10大规模集成电路测试系统自动切换,在大规模集成电路测试系统上自动编译,加载测试。其优点是:避免了对ASIC器件不同的型号器件要编不同的程序软件,只要利用设计文件,或逻辑描述,或金器件就可以得到测试程序,既提高效率,又节省了大量的人力、物力。
  • asic器件自动测试技术

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top