专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种批量产品的质量控制方法-CN202210989504.5在审
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟
  • 2018-01-06 - 2022-11-04 - G01R31/00
  • 一种批量产品的质量控制方法。该方法包括:给定一条任意线段;选择被评估的批量产品并获取产品的频谱;比较任意线段和批量产品的频谱并且观察两者的差值波动;如果差值波动异常,检查差值波动异常产品的电磁干扰特征以外的质量要素是否符合设计要求。其优点在于:对产品的EMC状况快速评估可以在生产车间进行,节省了评估费用;对批量产品生产过程中产品的每只必检有利于质量控制;评估结果不仅反映批量产品的EMC状况,而且反映产品电磁干扰特性以外的产品质量,为批量产品的质量控制提供了一种新的手段。
  • 一种批量产品质量控制方法
  • [发明专利]一种数据采集方法和装置-CN202110991265.2在审
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟
  • 2021-08-26 - 2021-11-05 - G06F16/583
  • 一种在数据采集过程中实现数据和采集点关联的数据采集方法和装置。首先在数据采集对象图像上标定数据采集点部署任务,然后用户根据任务提示的采集点位置及其顺序采集对应采集点的数据,根据预定的数据采集点的顺序和数据采集的顺序关联数据和采集点。由于数据采集任务的部署和执行分离,有利于数据的批量采集和关联和远程对产品和设备的远程诊断。
  • 一种数据采集方法装置
  • [实用新型]导电平面的设置装置-CN201922055253.X有效
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟
  • 2019-11-23 - 2020-10-27 - G01R31/00
  • 一种导电平面的设置装置。将一个定位物体固定在一个导电平面的平面上方;以定位物体接触EUT,EUT到导电平面的距离等于定位物体到导电平面的距离加上定位物体的厚度,避免了每次测试时导电平面到EUT之间距离变化导致的测量误差。并且,导电平面无需接地,可应用于没有接地可用的生产场所或野外。
  • 导电平面设置装置
  • [发明专利]一种仪器接口方法和装置-CN202010211081.5在审
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟
  • 2020-03-24 - 2020-06-12 - G01R31/00
  • 一种人工电源网络和示波器之间接口方法和装置。将二个电容,一个电容的一端为装置输入端,与人工电源网络的输出电源火线连接,另外一端为装置输出端,与示波器的一个测试通道连接;另一个电容的一端为装置输入端,与人工电源网络的输出中性线连接,另外一端为装置输出端,与示波器的另外一个测试通道连接;不需要改变LISN设计,使得现有的LISN产品能够配合示波器进行传导干扰测试。二个电容容量都0.09μF。降低了对示波器的A/D转换位数要求,使得低价位示波器也能用于EMI测试。
  • 一种仪器接口方法装置
  • [发明专利]导电平面的设置方法和装置-CN201911209215.3在审
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟
  • 2019-11-30 - 2020-03-13 - G01R31/00
  • 用于电磁干扰测试的导电平面的定位和设置方法及装置。将一个定位物体固定在一个导电平面的平面上方;以定位物体接触EUT,EUT到导电平面的距离等于定位物体到导电平面的距离加上定位物体的厚度,避免了每次测试时导电平面到EUT之间距离变化导致的测量误差。并且,导电平面无需接地,可应用于没有接地可用的生产场所或野外。
  • 导电平面设置方法装置
  • [发明专利]一种设备辐射干扰的评估方法-CN201710127350.8有效
  • 吴伟;吴跃佳 - 吴伟;吴跃佳
  • 2017-03-06 - 2019-06-07 - G01R31/00
  • 一种设备辐射干扰的评估方法。该方法包括:修改设备前,获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr;找出辐射干扰频谱中幅度较大值Ai及其对应的频率fi,i=1,2,…N;找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi;计算标定系数Ci=Ai/Bi;修改设备后,重新获取设备的传导干扰频谱,并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰:F’r=B’i X Ci。本发明的方法的有益效果在于:对设备修改后的设备电磁兼容状况验证分析能够在生产车间进行,加快产品的开发速度;由传导干扰评估辐射干扰,减少了昂贵的屏蔽室测试费用,从而降低设备电磁兼容成本。
  • 一种设备辐射干扰评估方法

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