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[发明专利]基于设计层级的数据搜索系统-CN202311176816.5在审
发明人： 叶擎双;孙翔 -专利权人：成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2023-09-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F16/2453 文献下载
摘要：本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种基于设计层级的数据搜索系统，实现步骤S1、获取搜索表达式a1?a2?…?an?…?aN；步骤S2、若N=1，执行步骤S3，若N1，则将搜索表达式分割为a1?a2?…?aN‑1和aN两部分；步骤S3、基于aN搜索模块定义列表，提取所有包含aN的类定义信息对应的预选模块实例信息和预选模块层级信息；步骤S4、生成所有候选实例路径，将候选实例路径拼接aN生成候选实例，若N等于1，则将候选实例确定为目标搜索实例，若N大于1，则执行步骤S5；步骤S5、将包含a1?a2?…?aN‑1的候选实例确定为目标搜索实例。本发明降低了时间和内存开销，提高搜索效率。
基于设计层级数据搜索系统

[发明专利]基于时序型覆盖数据库的回归测试系统-CN202211180114.X有效
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于时序型覆盖数据库的回归测试系统，实现步骤G1、将第m测试用例输入待测数字电路运行；步骤G2、当监测到待测数字电路发生覆盖事件时，获取当前覆盖事件信息；步骤G3、解析当前覆盖事件信息，获取当前覆盖点标识，若当前覆盖点标识属于第一覆盖点集合，则获取对应的当前覆盖时间，执行步骤G4；步骤G4、将当前覆盖时间对应的覆盖时间索引填写至第m时序型覆盖数据库中当前覆盖点标识所对应的覆盖信息记录的覆盖时间字段；步骤G5、第m测试用例运行完毕后，生成第m时序型覆盖数据库；步骤G6、基于所述第m时序型覆盖数据库确定第m测试用例的有效回归时间。本发明提高了回归测试的效率，降低了回归测试的成本。
基于时序覆盖数据库回归测试系统

[发明专利]基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统-CN202211174200.X在审
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统，实现步骤F1、获取第一数字电路和第二数字电路；步骤F2、设置第一覆盖点集合；步骤F3、将第m测试用例输入第一数字电路和第二数字电路，生成参考第m时序型覆盖数据库和目标第m时序型覆盖数据库；步骤F4、对比两个数据库中每一第一覆盖点对应的覆盖时间字段，将覆盖时间字段不同的覆盖信息记录作为候选覆盖信息记录；步骤F5、获取覆盖时间字段记录的覆盖时间最早的候选覆盖信息记录作为目标覆盖信息记录；步骤F6、基于目标覆盖信息记录确定调试结束时间和调试结束信号，基于所述调试结束时间和调试结束信号调试所述第一数字电路。本发明提高了回归测试的调试效率和准确性。
基于时序覆盖数据库回归测试调试系统

[发明专利]数字波形密度的可视化方法-CN202210783028.1在审
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01R13/02 文献下载
摘要：本发明涉及电子设计技术领域，具体涉及数字波形密度的可视化方法，该方法包括以下步骤：获取在可视化窗口中每个像素组对应的时间间隔，其中，每个像素组包括若干个像素点；获取每个像素组包含的数字波形跳变的数量，其中，数字波形跳变的数量是每个像素组对应的时间间隔内数字波形跳变的数量；在任意一个像素组包含的数字波形跳变的数量大于预设的跳变数量阈值时，将相应像素组中像素点的像素值更新为密度值，在可视化窗口中呈现更新后的数字波形，使可视化窗口中大于预设的跳变数量阈值的像素组随着跳变数量的大小而呈现不同的视觉效果，达到可视化波形跳变密度的目的，有助于电路调试和功耗的评估。
数字波形密度可视化方法

[发明专利]一种数字波形密度的可视化方法-CN202210748410.9在审
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01R13/02 文献下载
摘要：本发明涉及电子设计技术领域，具体涉及一种数字波形密度的可视化方法，该方法包括以下步骤：该方法通过获取当前时间尺度下每个像素组在对应的时间间隔内数字波形的跳变数量；在任意一个像素组对应的数字波形的跳变数量大于预设的跳变数量阈值时，根据数字波形的跳变数量获取相应像素组的跳变数量比例，得到跳变的密度比；基于像素组的高度方向，根据所述密度比获取像素组对应的目标高度；更新相应像素组中目标高度内的像素值并在可视化窗口中呈现更新后的波形，更新后的像素值与波形本身的像素值不同；使波形随着波形跳变的密度比不同而呈现相应高度的颜色，达到可视化波形跳变密度的目的，有助于电路调试和功耗的评估。
一种数字波形密度可视化方法

[发明专利]基于时序型覆盖数据库的有效随机测试向量确定系统-CN202211174195.2在审
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于时序型覆盖数据库的有效随机测试向量确定系统，实现步骤E1、获取第m随机测试用例对应的预设的第二覆盖点集合中每一覆盖点对应的覆盖信息记录；步骤E2、确定时间序列{Tx，Tx+1，…，Ty‑1,Ty}，以及Dj的测试向量起点时间vxj和测试向量终点时间vyj，Tx为起点时间，Ty为终点时间Ty，xy；步骤E3、获取覆盖时间字段中首个覆盖时间索引为Ti的覆盖点标识数量，记作Ti的对应的覆盖点增量Fi,生成{Fx，Fx+1，…Fy‑1，Fy}；步骤E4、将vxj和vyj之间对应的覆盖点增量不全为0的Dj确定为有效随机测试向量。本发明提高了回归测试的效率，降低了回归测试的成本。
基于时序覆盖数据库有效随机测试向量确定系统

[发明专利]基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统-CN202211174506.5在审
发明人： 叶擎双 -专利权人：上海合见工业软件集团有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统，实现步骤C1、从第m时序型覆盖数据库中获取第m测试用例的预设的第二覆盖点集合中每一覆盖点的覆盖信息记录；步骤C2、确定时间序列{Tx，Tx+1，…，Ty‑1,Ty}，Ti第i个仿真时间，Tx为起点时间，Ty为终点时间Ty；步骤C3、获取覆盖时间字段中首个覆盖时间索引为Ti的覆盖点标识数量Fi,生成{Fx，Fx+1，…Fy‑1，Fy}；步骤C4、基于{Tx，Tx+1，…，Ty‑1,Ty}、{Fx，Fx+1，…Fy‑1，Fy}确定待测第m测试用例对应的有效执行区域{W1，W2，…WK}。本发明提高了回归测试的效率，降低了回归测试的成本。
基于时序覆盖数据库有效执行区域确定系统

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