“原子翔”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网_中国专利网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果9个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法-CN202011055158.0有效
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;竹谷敏永;原子翔;福士树希也;佐藤实;成田寿男 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本发明提供一种光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法，能够抑制光半导体元件的检查时间的增加。光探针(10)接收从被检查体(200)输出的光信号(L)。光探针(10)具有由芯部(111)和配置于芯部(111)的外周的包层部(112)构成的光波导(11)，光波导(11)的射入光信号(L)的入射面(100)为曲率半径(R)固定的凸球面。
探针阵列检查系统以及方法

[发明专利]探针单元-CN202210620068.4在审
发明人：成田聪;原子翔;福士树希也 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-06-02 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种探针单元，即便触头对高频电路的接合位置发生偏移也能使触头的自由长度固定，从而能稳定地接触电极，提高测定品质。本发明的探针单元具备：同轴连接器，其安装于主体部，经由同轴电缆与测试器之间收发电信号；高频电路，其与同轴连接器连接而传输电信号；多个触头，它们的顶端部电性接触被检查体的电极，与高频电路之间收发电信号；以及底座，其介存于触头与高频电路之间，底座以各触头的自由长度变为规定长度的方式分别设置于触头上。
探针单元

[发明专利]电触头的电接触构造以及电连接装置-CN202110967269.7在审
发明人： 原子翔;神谷浩 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-08-23 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明涉及一种电触头的电接触构造以及电连接装置。能够缩短流过电触头的导通路径长度，使电触头的导通部与电极部稳定地接触。本发明的电触头的电接触构造具备：支承孔，其在支承基板的一个表面上形成有开口；电触头，其插通于支承孔，与被检查体电接触；以及电极部，其设置在支承孔的所述开口附近，电触头具有非导通部和导通部，所述非导通部具有屈曲部，所述导通部设置在非导通部的一个端部侧，在导通部的一个端部与被检查体电接触时，屈曲部发生弯曲使得导通部的另一个端部侧与电极部短路。
电触头接触构造以及连接装置

[发明专利]测定系统和测定方法-CN202110884724.7在审
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;成田寿男;原子翔;福士树希也;斋藤友和;竹谷敏永 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种测定系统和测定方法，能够稳定地测定光半导体元件的准确的测定值。在测定方法中，通过光探针的入射端面来接收从光半导体元件输出的出射光，其中，使光半导体元件与光探针的相对位置沿与出射光的光轴交叉的平面发生变化，在多个位置处分别测定出射光的入射强度，获取表示相对位置的变化与入射强度之间的关系的入射强度图案。
测定系统方法

[发明专利]光学连接件保持结构及连接装置-CN202110563349.6在审
发明人： 原子翔 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-05-24 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种光学连接件保持结构及连接装置，能够保护设置在基板上的各光学连接件，能够使设置在基板上的光学连接件的处理变得容易。本发明的特征在于，具备：多个带凸缘管状构件，其具有管状主体部和设置于管状主体部的一端部的凸缘部；多个光学连接件，其从各带凸缘管状构件的凸缘部侧朝向管状主体部的另一端部插入，顶端部位于管状主体部侧；以及基板，其具有沿基板厚度方向设置的多个贯通孔，插入有各光学连接件的各带凸缘管状构件的管状主体部能够装卸地插入基板的各贯通孔，凸缘部与该贯通孔的周缘部抵接而支承该带凸缘管状构件，各光学连接件和插入有各光学连接件的带凸缘管状构件被固定。
光学连接保持结构装置

[发明专利]光学探针及其制造方法、光学探针阵列、光学探针卡-CN202110552745.9在审
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;福士树希也;原子翔 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-05-20 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：提供一种传输模式为单模且能够高效地测定光学器件的光学探针、光学探针阵列、光学探针卡以及光学探针的制造方法。光学探针(10)具备以使传输模式为单模的光波导连续的方式连结的第一区域(11)和第二区域(12)。连续到与光学器件(20)相对的顶端面(100)的第一区域(11)包括在顶端面(100)为最大的模场直径朝向第一区域(11)与第二区域(12)的区域边界(13)逐渐变窄的区域。顶端面(100)为曲面，顶端面(100)的曲率半径被设定为使从顶端面(100)入射的光信号(L)的行进方向与光波导的中心轴方向近似平行。
光学探针及其制造方法阵列

[发明专利]电性连接装置-CN201980093681.1在审
发明人： 原子翔;小田部昇;神谷浩;深见美行;水谷正吾 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2019-12-13 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R1/06 文献下载
摘要：本发明提供一种使线路基板的电极区域与连接件的接触面积比以往大而抑制接触电阻、能够实现稳定的电性连接性的电性连接装置。本发明的电性连接装置的特征在于，具有：第1电极区域，其是在能够与第1线路基板的基板电极导通的第1凹部内填充液体金属得到的；第2电极区域，其是在能够与和第1线路基板相对的第2线路基板的基板电极导通的第2凹部内填充液体金属得到的；以及连接件，其使一端部与第1电极区域的液体金属接触，使另一端部与第2电极区域的液体金属接触，从而使第1电极区域与第2电极区域之间导通。
连接装置

[发明专利]探针和电连接装置-CN202110340594.0在审
发明人：成田寿男;原子翔;葛西祐树;田中慎二 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明提供一种减少滑动时的探针与周围的摩擦的探针和电连接装置。探针(10)包括：筒体(11)，该筒体(11)呈管形状，具有沿着中心轴线方向伸缩的拉伸弹簧(12)；以及柱塞(13)，该柱塞(13)的基端部位于筒体(11)的内部，该柱塞(13)的顶端部自筒体(11)的一个开口端暴露。拉伸弹簧(12)的一个端部固定于柱塞(13)的基端部，拉伸弹簧(12)的另一个端部在距柱塞(13)的基端部的距离大于距柱塞(13)的顶端部的距离的位置固定于筒体(11)。
探针连接装置

[发明专利]测定系统-CN202011296783.4在审
发明人：奥田通孝;斋藤祐贵;成田寿男;原子翔;福士树希也 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-11-18 - 公布日： 2021-05-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：提供一种测定系统，能够抑制形成于半导体基板的光半导体元件的测定时间增大。测定系统具备：配置m个光探针群(111～11m)而形成的光探针阵列，m个光探针群各自具有n根光探针(101～10n)；m个光信号选择器(211～21m)，m个光信号选择器各自与m个光探针群中的任一个光探针群以1对1的方式对应，从由对应的探针群的光探针分别输出的光信号中选择一个光信号来输出；以及控制电路，其控制光信号选择器。测定系统通过控制电路的控制，重复切换光信号选择器对光信号的选择，直到选择了从m个光探针群中包含的全部的光探针输出的光信号为止。
测定系统

1
共 9 条

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top