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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法-CN201811024997.9有效
发明人： 加集功士;田冈尚人;越野哲史 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2018-09-03 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供能够减小膜的缺陷与标记之间的间隔且能够抑制膜的缺陷信息的记录遗漏产生的缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法。缺陷记录系统具备：检查部，其设置在膜的输送路径上，对膜的缺陷进行检查；印刷部，其在输送路径中设置于检查部的下游，在膜上印刷并记录信息；以及控制部，其基于检查部的检查结果，对印刷部的动作进行控制，印刷部具有：喷墨装置，其沿着与长边方向交叉的方向延伸设置且印刷信息；以及移动装置，其使喷墨装置沿着交叉的方向移动，喷墨装置具有多个射出孔，多个射出孔从交叉的方向上的膜的一端到另一端离散地配置，控制部基于检查结果，控制由移动装置进行的喷墨装置的位置移动和由喷墨装置进行的印刷。
缺陷记录系统制造以及方法

[发明专利]检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法-CN201810292650.6有效
发明人： 加集功士;四宫由隆 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供一种检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。缺陷检查装置(1)具备：射线源(2)，其对隔膜卷绕体(10)呈放射状射出电磁波(R)；TDI传感器(4)，其对透过隔膜卷绕体(10)的电磁波(R)进行检测；以及移动机构(3)，其一边将射线源(2)与隔膜卷绕体(10)的距离以及射线源(2)与TDI传感器(4)的距离保持为大致固定，一边使隔膜卷绕体(10)中的检查区域移动。
检查装置方法卷绕制造

[发明专利]标注装置、缺陷检查系统以及膜制造方法-CN201810170418.5有效
发明人：井村圭太;加集功士;越野哲史 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2018-02-28 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明提供即使在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅有飞沫的情况下，也能够抑制飞沫附着于膜的缺陷位置以外的区域，从而提高产品的成品率的标注装置、缺陷检查系统以及膜制造方法。标注装置能够通过对光学膜射出液滴而标注信息，其中，标注装置具备：液滴射出装置，其具有形成有向光学膜射出液滴的射出孔的射出面；以及吸引装置，其设置在射出面与光学膜之间，且能够吸引在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅的飞沫。
标注装置缺陷检查系统以及制造方法

[发明专利]缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法-CN201810169803.8有效
发明人：洪昇均;李银珪;加集功士 -专利权人：住友化学株式会社;东友精细化工有限公司
申请日： 2018-02-28 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。
缺陷检查系统制造装置方法印刷

[发明专利]膜制造方法及膜制造装置-CN201811213198.6有效
发明人： 加集功士;今佑介;坂本达哉;王剑 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2015-09-18 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： H01M50/403 文献下载
摘要：本发明提供膜制造方法及膜制造装置，膜制造方法包括：卷料缺陷信息取得工序，取得表示膜卷料的缺陷的位置的信息即卷料缺陷位置信息；分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及缺陷标记施加工序，在所述缺陷的周围的多个部位施加表示该缺陷的位置的标记，在所述缺陷标记施加工序中，在隔着一个所述分切线而邻接的两个膜中的一个膜上存在的所述缺陷的周围施加至少一个所述标记，在所述两个膜中的另一个膜上的与所述标记的位置对应的位置施加至少一个所述标记。
制造方法装置

[发明专利]隔膜及隔膜卷料的制造方法、隔膜卷料及其制造装置-CN201580054791.9有效
发明人：渡边耕一郎;片冈达哉;加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2015-01-30 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明的课题在于容易地确定隔膜的缺陷位置。隔膜卷料(12b)的制造方法包括：形成工序，形成在隔膜卷料(12c)上涂覆有耐热层的隔膜卷料(12b)；缺陷检测工序，对通过所述形成工序形成的隔膜卷料(12b)中存在的缺陷(D)进行检测；以及缺陷信息记录工序，记录包括缺陷(D)在所述隔膜卷料(12b)的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。
隔膜制造方法以及装置

[发明专利]检查系统以及检查系统的驱动方法-CN201910341946.7在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-04-25 - 公布日： 2019-11-01 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种检查系统以及检查系统的驱动方法，效率良好地进行检查对象物的检查。检查系统(1)具备配置有射线源部(2)的第一室(41)以及与第一室(41)分开的被对射线源部(2)照射的电磁波进行屏蔽的壁包围的第二室(42)，在第二室(42)中存放有隔膜卷绕体(10)。
检查系统射线源部第二室第一室检查对象物驱动隔膜卷绕电磁波屏蔽照射包围配置检查

[发明专利]图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法-CN201910256073.X在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法。推断异物的立体尺寸。图像处理装置具备：存储部，对与多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算部，在各像素中，对各第1像素值与背景值之差相对于背景值的比率、即各像素的第2像素值进行计算；和像素值累计部，对属于特定的连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。
像素图像处理装置异物检查装置图像处理异物检查连续区域存储部像素群运算部异物推断存储

[发明专利]图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法-CN201910256293.2在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法。能够进行高精度的异物检查。具备背景值设定部，基于位于关注像素的附近并且相对于关注像素处于预先设定的位置关系的至少一个参照像素的第1像素值来设定视为背景值的值，将该值设定为关注像素的背景值。
关注像素异物检查图像处理装置异物检查装置图像处理像素

[发明专利]异物检查装置以及异物检查方法-CN201910256072.5在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/18 文献下载
摘要：本发明提供一种异物检查装置以及异物检查方法。实现检查的高效化，并且减少异物的检测遗漏的产生风险。异物检查装置(101)具备：使检查对象物(1)平行移动的移动机构(5)；作为TDI传感器的图像传感器(3)；存储部(41)；分别对应多个像素且对基于第1像素值而得到的第2像素值进行计算的像素值运算部(42)；和对属于特定的连续区域的像素群的各第2像素值进行累计的像素值累计部(44)。
像素异物检查装置异物检查检查对象物图像传感器连续区域平行移动移动机构存储部高效化像素群运算部异物遗漏检测检查

[发明专利]异物检查装置以及异物检查方法-CN201910256198.2在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/18 文献下载
摘要：本发明涉及异物检查装置以及异物检查方法。减低异物的检测遗漏的可能。主面的法线方向相对于电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜。
异物检查装置异物检查电磁波产生源法线方向电磁波异物遗漏检测

[发明专利]图像处理装置、异物检查装置以及图像处理方法-CN201910256329.7在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置以及图像处理方法。减少异物的检测遗漏的产生风险。图像处理装置(4)，对通过透过包含异物(13)的检查对象物(1)的X射线而生成的图像进行图像处理，所述图像处理装置(4)具备：存储部(41)，对与构成图像的多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算部(42)，分别对应多个像素，对基于第1像素值而得到的第2像素值进行计算；和像素值累计部(44)，对属于特定的连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。
像素图像处理装置图像处理异物检查装置异物图像检查对象物连续区域存储部像素群运算部遗漏存储检测

[发明专利]膜的制造方法和膜卷绕装置-CN201910135704.2在审
发明人： 加集功士 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2019-02-21 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明提供一种膜的制造方法和膜卷绕装置。省略为了确定出膜上的注视点而在膜上打印的工序。该膜的制造方法具备：注视点检测工序，在该工序中，检测膜上的注视点；卷绕数测量工序，在该工序中，测量供所述膜卷绕的卷绕卷芯的卷绕数，以及卷绕存储工序，在该工序中，将所述注视点在所述膜的搬运方向上的位置与所述卷绕卷芯的卷绕数建立关联而存储。
注视点卷绕膜卷绕装置卷绕卷制造测量工序存储工序检测工序建立关联检测膜省略出膜膜卷搬运打印存储测量

[发明专利]检查装置以及检查方法-CN201811034810.3在审
发明人： 加集功士;四宫由隆;屋铺大三郎 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及检查装置以及检查方法。能高精度且高速地进行对象物的检查。具有电磁波接收区域的传感器在圆形外形面的俯视观察下越是远离中心的位置越适合移动快的被摄体的拍摄。
检查装置电磁波接收俯视观察圆形外形检查被摄体对象物传感器拍摄移动

[发明专利]检查装置-CN201811034841.9在审
发明人： 加集功士;屋铺大三郎 -专利权人：住友化学株式会社
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： G01V3/12 文献下载
摘要：本发明提供能够高精度且高速地进行对象物的检查的检测装置。检测装置具备电磁波接收区域，电磁波接收区域分别具有在圆形外形面的俯视观察下在圆形的直径上并排设置的m个小区域。
电磁波接收检测装置并排设置俯视观察检查装置圆形外形对象物小区域检查

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