专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]计算方法、计算程序以及计算装置-CN201180075455.4在审
  • 前田润 - 富士通株式会社
  • 2011-12-15 - 2014-08-20 - G06Q50/02
  • 本发明涉及计算方法、计算程序以及计算装置。计算装置(101)取得表示农机(M)的移动轨迹的时间序列上的一系列位置数据。计算装置(101)计算连接所取得的一系列位置数据中的连续的位置数据所表示的二点间的每条线段的斜率。计算装置(101)基于计算出的每条线段的斜率,从一系列位置数据中,提取表示农机(M)的移动轨迹中的线段的斜率连续地成为范围(SR)内的区间的位置数据的集合。计算装置(101)基于提取出的表示区间的位置数据的集合,计算基于农机(M)的农作业的作业区间的距离。
  • 计算方法计算程序以及装置
  • [发明专利]形成半导体集成电路布局结构的方法、布局结构及光掩模-CN200410064152.4有效
  • 前田润 - 川崎微电子股份有限公司
  • 2004-08-20 - 2005-02-23 - H01L21/82
  • 本发明涉及在计算机上执行半导体集成电路的布局方法。本发明提出了用于设计半导体集成电路的布局方法,该方法能够抑制构图大小的偏移。分布多个标准胞元(10)以形成具有垂直侧和水平侧的无沟道类型的标准胞元阵列(1)。多个第一临近伪胞元(20)沿着标准胞元阵列的每一个垂直侧而分布,以形成第一临近伪条带(20),以便第一临近伪胞元的上侧和下侧相互接触,并且以便每一个第一临近伪胞元的左侧或右侧与标准胞元阵列(1)的垂直侧相接触。进而,多个第二临近伪条带沿着标准胞元阵列的每一个水平侧而分布,以形成第二临近伪条带,以便第二临近伪胞元的上侧或下侧与标准胞元阵列(1)的水平侧相接触。
  • 形成半导体集成电路布局结构方法光掩模

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