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[发明专利]基于衍射光栅的玻璃平板折射率均匀性检测装置及检测方法-CN201810797550.9有效
发明人：段存丽;惠倩楠;赵鹏程;刘王云;郭荣礼;刘丙才;张玉虹;胡小英 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2018-07-18 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明涉及基于衍射光栅的玻璃平板折射率均匀性检测装置及检测方法，该装置包括波长可调光源，沿波长可调光源出射光线光轴方向依次设置扩束镜、针孔光阑、准直镜、可调狭缝和反射式平面衍射光栅，反射式平面衍射光栅6的工作面与所述出射光线光轴之间构成20—45°的入射夹角，在反射式平面衍射光栅的下方竖直依次设光学成像镜头和CCD图像采集系统，CCD图像采集系统连接计算机；在反射式平面衍射光栅和光学成像镜头之间设置待测件。本发明的光路系统实现了大厚度、折射率变化大的光学玻璃的空间折射率均匀性分布的非接触式测量。
基于衍射光栅玻璃平板折射率均匀检测装置方法

[发明专利]DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法-CN202010064113.3有效
发明人：吴银花;王鹏冲;吴慎将;聂亮;张伟光;刘王云;魏儒义 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法，其能够准确解析干涉条纹的相位信息，并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤：步骤1：根据光谱波数范围Δk，确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率kint＝Δk/N；步骤2：根据公式(12)确定仪器中固定延迟干涉仪模块的光程差d，选取最大值1/2kint；步骤3：对仪器获取的二维干涉光谱，沿波数方向进行傅里叶变换，将干涉信息转换到频域空间；步骤4：在频域空间，通过利用带通或高通滤波，滤除白光导致的干涉条纹信息S1的±d频率项；步骤5：对经过滤波后的干涉光谱频域信息，再进行傅里叶逆变换，获得由恒星吸收线导致的摩尔条纹S2。
dfdi 仪器干涉光谱白光干扰去除方法

[发明专利]一种简单快速的双波长数字全息相位成像方法-CN201810936403.5有效
发明人：王凡;郭荣礼;张维光;刘王云;胡小英;张玉虹 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2018-08-16 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明提供一种简单快速的双波长数字全息相位成像方法，克服了现有技术存在的噪声较大时不能正常工作，同时不适用于大合成波长场合的问题。本方法成像速度快：由于不涉及离散余弦变换或其他复杂运算，运算所需的时间较其他相位解包裹方法短；对噪声不敏感：两个波长间隔较小时，利用本发明方法可以快速成像。在两个波长间隔较小，合成波长较大时，利用本发明方法仍能正确的解包裹得到被测样品的光程分布，这是因为该方法对每个区域内的噪声分别进行了求均值操作，并且对求均值后的光程除以单一波长后又进行了四舍五入操作，所以本发明方法对噪音不敏感，在噪声较大时，利用本发明仍然可以正常工作；同时，本发明方法适用范围广、方法简单。
一种简单快速波长数字全息相位成像方法

[发明专利]一种扩束准直光束的自动调校方法-CN201810072140.8有效
发明人：段存丽;赵鹏程;郭荣礼;张玉虹;刘王云;胡小英;于佳;万文博 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种扩束准直光束的自动调校方法。本发明利用接收图像的优化方法和电控平台的自动控制，实现了扩束准直系统自动化调校，调校精度较高。本发明方法为：激光器发出的激光束通过扩束镜、滤波装置以及准直镜后出射的光波为准平面光波，用带有镜头的CCD相机接收出射的光波，对接收的光波编程优化处理，结果反馈三维电控平移台，调整三维电控平移台，使激光束通过扩束镜、滤波装置以及准直镜的同轴输出，实现激光光波的大口径均匀输出，再用迈克耳孙干涉装置产生等厚干涉条纹，CCD相机接收其编程优化处理，结果反馈三维电控平移台，调整三维电控平移台，实现扩束镜、滤波装置以及准直镜的准直光束的准直输出。
一种扩束准直光束自动调校方法

[发明专利]一种能够有效去除相位噪声的双波长相位解包裹方法-CN201810171570.5有效
发明人：郭荣礼;刘王云;王凡;刘蓉;段存丽;路绍军;胡加兴;胡小英 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2018-03-01 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种能够有效去除相位噪声的双波长相位解包裹方法，该方法通过全变分原理，使相位解包裹问题转化为了最优化问题，引入了合适的目标函数，避免了传统全变分去噪中的阶梯效应，对放大的噪声不敏感；在两个波长间隔较小，合成波长较大时，仍能正确的解包裹得到被测样品的光程分布，因此在噪声较大时，利用本发明仍然可以正常工作。
相位解包裹相位噪声双波长去除噪声被测样品波长间隔合成波长阶梯效应目标函数问题转化不敏感最优化光程去噪放大引入

[发明专利]一种光学材料面折射率的测量方法-CN201711113867.8在审
发明人：段存丽;赵鹏程;张玉虹;刘王云;郭荣礼;胡小英;于佳;万文博 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2018-04-03 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明一种光学材料面折射率的测量方法，包括下述步骤1、光束通过扩束、准直、滤波后形成一束平面光波；2、一束平面光波经马赫泽德尔干涉装置形成两列相干光波，两列相干光波形成楔形虚平板，干涉场为等厚干涉条纹，测试干涉场的分布；3、把待测光学材料放在其中一列相干光波中进行测试，待测件的折射率的变化可转化为光波的相位差，测试干涉场的变化分布情况；4、对干涉场的数据进行处理，完成待测光学材料光场面的面折射率测量。本发明建立的折射率变化和干涉场条纹变化之间的数学模型，利用待测件插入前后的干涉图样的变化消除了干涉光路中的误差，实现了光学材料的面折射率绝对测量，并使测量误差降低，测量精度高。
一种光学材料折射率测量方法

[发明专利]光波偏振态高速静态测量装置及测量方法-CN201310176136.3有效
发明人：路绍军;韩军;尚小燕;吴玲玲;郭荣礼;胡加兴;刘王云;于洵;段存丽;陈靖 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2013-05-14 - 公布日： 2013-08-28 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：本发明属于光电测试技术领域，具体是一种光波偏振态高速静态测量装置及测量方法。本发明要克服现有技术需要机械转动、结构复杂或者难以实现高速测量的缺陷和不足。所采用的技术方案如下：一种光波偏振态高速静态测量装置，包括沿x轴顺序排列的铌酸锂晶体、偏振片、光强探测器和外加电压控制系统；所述铌酸锂晶体利用的是其横向电光效应；所述偏振片端面垂直于待测光线传播方向，偏振片的透振方向与y轴夹角可调；所述光强探测器的光强接收面垂直于x轴；外加电压控制系统对施加在z轴方向的电压进行控制。本发明适用于光纤通讯偏振态检测控制以及对设备的机械稳定性要求高的卫星或飞机等空间基平台对目标光束进行偏振探测的技术领域。
光波偏振高速静态测量装置测量方法

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