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[发明专利]一种采用近场微波显微镜对样本中重金属的检测方法-CN202310774957.0在审
发明人：郭俊涛;吴喆;刘昊;刘浩韵;魏召唤 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：该发明公开了一种采用近场微波显微镜对样本中重金属的检测方法，属于重金属含量检测技术领域。本发明相比于质谱法和两种光谱法，具有操作简单、设备及分析成本低的优势；相比于高光谱图像技术，具有测试结果范围窄，可控性高，分类识别模型训练需求样本数量较少；相比于计算机视觉技术，具有探测样品内外部结构和性质的能力，能够实现定量分析；相比于生物传感器检测技术，具有受物理环境影响小，不受化学环境影响的优势，检测结果稳定性强。
一种采用近场微波显微镜样本重金属检测方法

[发明专利]一种利用近场微波检验任意工件表面镀层均匀性的方法-CN202211540590.8在审
发明人： 刘浩韵;吴喆;周涛;郭俊涛;刘昊;魏召唤 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01B15/08 文献下载
摘要：该发明公开了一种利用近场微波检验任意工件表面镀层均匀性的方法，涉及覆盖层均匀性检测领域。本申请在样品任意形状的情况下，在近场中对样品表面覆盖层的均匀性进行监测。该方法是通过样品的移动进行逐点扫描，利用微扰理论获取样品表面随着空间位置的变化而变化的谐振频率、品质因数、S参数和相位。通过计算分析fr、Q、S、P的离散系数Cv可以判断出样品表面覆盖层的均匀性。该方法的优点是与现有的技术相比，能够做到无损无接触，不用预先对样品覆盖层进行处理。该方法的适用范围广，不局限于规整的薄膜样品，对于任意形状的工件覆盖层均匀性都能进行实时的检测，便于判定工件制备是否满足要求，大大提升了精密镀层器件的生产效率和良品率。
一种利用近场微波检验任意工件表面镀层均匀方法