专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果198个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]验证非挥发存储器电路功能的方法-CN200810089413.6无效
  • 刘晓彦;刘福东;康晋锋;金锐 - 北京大学
  • 2008-03-28 - 2008-09-03 - G11C29/00
  • 本发明公开了一种验证非挥发存储器电路功能的方法。该方法从非挥发存储器的存储单元的存储特性和物理方程出发,推导出存储器的存储单元的I-V特性;基于上述存储器的存储单元的I-V特性,设计出与该存储器的存储单元相同电学特性的成熟工艺可制造的替代单元电路;并根据非挥发存储器的读写工作模式,设计出相应的成熟工艺可制造的外围电路;用成熟工艺将上述已设计的替代单元电路嵌入到所设计的外围电路中,对非挥发存储器电路功能进行验证。本发明可进一步对存储器外围电路进行性能验证,据此可以应用成功的外围电路设计对实际制造的器件性能是否满足存储器设计要求进行判断。
  • 验证挥发存储器电路功能方法
  • [发明专利]一种半导体器件模型自适应参数提取方法-CN200710002980.9无效
  • 韩汝琦;吴涛;杜刚;刘晓彦 - 北京大学
  • 2007-01-30 - 2008-08-06 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种不依赖于具体的半导体器件模型的自适应参数提取方法,这种方法的输入文件中不仅包含器件测试数据和提取流程控制代码,而且将待提取的模型公式整理为C语言子函数代码,结合待提取的模型参数列表形成一个输入文件,然后按照输入文件中制定的提取流程,采用控制搜索类算法进行参数提取,同时进行进度监控,在整个提取流程结束后,输出模型参数,生成对应的器件模型文件。本发明实现了半导体器件模型自适应性参数提取,不需要对参数提取系统进行重新的组织就可以快速的应用到新的半导体器件解析模型和半解析模型中。
  • 一种半导体器件模型自适应参数提取方法
  • [发明专利]一种实现存储器功能的场效应晶体管及其制备方法-CN200710177249.X有效
  • 康晋锋;许诺;刘晓彦;宋云成;刘力锋 - 北京大学
  • 2007-11-13 - 2008-05-14 - H01L29/78
  • 本发明提供了一种实现存储器功能的场效应晶体管及其制备方法,属于半导体集成电路及其制造技术领域。该器件包括:源区、漏区和控制栅,控制栅采用栅叠层结构,其依次为底层—隧穿氧化层;中间层—阻变材料层,以及顶层—导电电极层。该场效应晶体管获得电可编程的多阈值功能,在栅极加相同的读电压时,源、漏电流不同,实现两个不同状态的信息存储或其他功能。利用本发明可构成多种新功能、高性能、高可靠性器件和电路,满足不同的电路功能应用;同时,既可以采用与传统的PN结源/漏结构的CMOS工艺兼容,也可与采用新型的肖特基结源/漏结构的CMOS工艺兼容,具有较大的工艺选择的灵活性。
  • 一种实现存储器功能场效应晶体管及其制备方法
  • [发明专利]一种MOS晶体管及其制作方法-CN200610140391.2无效
  • 孙雷;李定宇;张盛东;吴涛;韩汝琦;刘晓彦 - 北京大学
  • 2006-12-08 - 2007-05-16 - H01L29/78
  • 本发明提供了一种新结构的MOS晶体管,其特征在于所述MOS晶体管具有不对称的源漏结构,源端采用金属或金属和半导体形成的化合物与沟道形成肖特基接触,漏端采用抬高的高掺杂漏。本发明的MOS晶体管的源漏寄生电阻比传统的MOSFET器件小得多,而关态漏电流也减小了许多,使器件的开关态电流比有了很大的提高。本发明提出的肖特基势垒接触源端和抬高的掺杂漏端的MOS晶体管(SSRDMOSFET)的工艺制备方法和传统的肖特基势垒源漏MOS晶体管制作工艺相兼容,同时由于离子注入工艺步骤在栅结构形成之前,因此有着较低的热预算,使得高K栅介质和金属栅材料的应用有着较大的空间。
  • 一种mos晶体管及其制作方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top