“刑部刚”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网_中国专利网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果6个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]X射线产生装置和X射线分析装置-CN201910150250.6有效
发明人：表和彦;刑部刚;小泽哲也;姜立才;鲍里斯·韦尔曼 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2019-02-28 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G21K1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线产生装置和X射线分析装置，其能够利用简单的结构来实现电子束尺寸小的聚焦X射线电子束。X射线产生装置具备：线状X射线源；多层膜镜；以及并排反射镜，其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合，所述X射线产生装置的特征在于，多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状，并且该抛物线形状的焦点位于线状X射线源，并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状，并且该抛物线形状的焦点分别位于多层膜镜的相反侧，在俯视观察下，所述并排反射镜的接合线的延长线贯穿多层膜镜以及线状X射线源。
射线产生装置分析

[发明专利]X射线分析装置-CN202210022651.5在审
发明人： 刑部刚 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2022-01-10 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明在X射线装置中，防止衍射X射线强度的降低并防止背景噪声的增加。一种X射线分析装置，具备测角仪(104)、设置在测角仪(104)的旋转中心(OG)上的试料台(2)、向固定在试料台(2)上的试料(110)照射X射线的X射线源(F)、检测由所述试料衍射的X射线的X射线检测器(107)以及形成在一对遮蔽部件(3)之间且通过遮蔽部件(3)的开闭而使通过所述X射线的狭缝宽度可变的开闭机构，所述开闭机构具有非对称控制部件(4)，其相对于连接X射线源(F)或X射线检测器(107)和旋转中心(OG)的直线，由一侧的遮蔽部件(3)和另一侧的遮蔽部件(3)与测角仪(104)的旋转角度θ对应地不对称地控制遮蔽部件(3)的开口宽度。
射线分析装置

[发明专利]X射线衍射装置-CN201910192376.X有效
发明人： 刑部刚;光永彻 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2019-03-13 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：提供节省用户的时间和劳力并且以简易的结构就能够实现使用反射镜的光学系统和未使用反射镜的光学系统的切换的X射线衍射装置。具备：生成X射线束的X射线源；使X射线束以规定的发散角通过的第一入射路径；使多层膜反射镜反射X射线束，并与通过第一入射路径的X射线束平行地通过的第二入射路径；维持各自的相对位置并且使X射线源、第一入射路径及第二入射路径在规定的方向移动的移动机构；使入射至试样的X射线束通过的入射狭缝；和在相对于入射狭缝而被固定的位置处支承试样S的试样支承台，通过移动机构，对通过第一入射路径或者第二入射路径的X射线束之中通过入射狭缝的X射线束进行切换。
射线衍射装置

[发明专利]X射线衍射装置-CN201710699213.1有效
发明人： 刑部刚;小泽哲也 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2017-08-16 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了X射线衍射装置。对计数器臂(52)搭载板状的X射线遮挡部件(60)，与X射线检测器(40)一起转动。X射线遮挡部件(60)相对从试样(S)衍射来的向X射线检测器(40)入射的衍射X射线，配置于其高角度侧。另外，通过X射线遮挡部件(60)的前端缘(60a)，规定衍射X射线可通过的高角度侧的边界，并且相对连接试样(S)的表面中的X射线照射区域的中心和该前端缘(60a)的直线倾斜地配置表面部分(60b)，用该表面部分(60b)遮挡要从衍射X射线的高角度侧入射到X射线检测器(40)的散射X射线。
射线衍射装置

[发明专利]X射线分析装置-CN202010190202.2在审
发明人： 刑部刚;小泽哲也;尾本和树 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2020-03-18 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。
射线分析装置

[发明专利]X射线衍射装置-CN201580019383.X有效
发明人： 刑部刚;小泽哲也;表和彦;姜立才;B·韦尔曼;Y·普拉托诺夫 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2015-01-14 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：针对从试样(S)衍射来的聚光X射线(2)，根据布拉格条件用单色仪(60)仅使特定波长的X射线反射，进而通过受光狭缝(30)，利用X射线检测器(20)进行检测。单色仪(60)做成装卸自如，配置于使来自试样(S)的聚光X射线(2)直接地收敛时的聚光点(2a)与该试样(S)之间。此时，单色仪(60)尽可能接近上述聚光点(2a)。另外，单色仪(60)由内部的栅格面间隔从一端到另一端连续地变化的多层膜反射镜构成。
射线衍射装置

1
共 6 条

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top