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[实用新型]中框结构-CN202121689304.5有效
发明人：卢秀青;梅锋;林志华;曾海涛;况智刚;任秀盈 -专利权人：深圳市裕展精密科技有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： H05K5/02 文献下载
摘要：本申请提出一种中框结构，用于收容电子产品，中框结构包括本体、固定件、导通件和导电件；本体包括至少一个连接件和至少两个结构件，两个相邻的结构件之间通过一个连接件连接；固定件设于本体的内部且连接于至少两个结构件；导通件的一端连接于固定件，导通件的另一端连接于结构件；导电件连接于至少两个结构件和固定件。本申请通过导通件和导电件的设置，在中框结构受到剧烈碰撞或其他原因造成导通件失效时，导电件实现结构件与固定件之间电导通，避免中框结构因导通件失效而影响通讯信号的接收，保证电子产品的正常使用。
结构

[实用新型]强度测试装置-CN201922075324.2有效
发明人：吴金华;况智刚;詹林涛;田金如;王进;汪永颜 -专利权人：富泰华精密电子（郑州）有限公司
申请日： 2019-11-26 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：一种强度测试装置，包括：连杆；测头，设置于连杆的一端，用于抵持或夹持工件的凸出部；施力件，设置于连杆的另一端，用于承接外力；连杆，用于传递外力，以使测头向凸出部施加与工件分离的力。该强度测试装置通过设置测头，利用测头抵持或夹持于工件的凸出部，并通过向施力件实施外力，连杆用于传递外力至测头，使测头向凸出部实施剪力或拉力，使工件和凸出部分离，实现强度测试。测头抵持或夹持于凸出部，不会受凸出部内部设置的孔尺寸小的限制，测头的强度高，使其对工件进行强度测试的可靠性高。
强度测试装置