专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于PID的芯片加热控制方法、装置、电子设备及介质-CN202210229726.7在审
  • 伍涛雄;农凯政 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2022-03-09 - 2022-07-29 - G01R31/28
  • 本发明提供一种基于PID的芯片加热控制方法、装置、电子设备及介质,该基于PID的芯片加热控制方法包括:响应于测试请求,获取待测芯片的第一温度;根据第一温度及第二温度,确定加热配置,第二温度用于表征待测芯片的目标加热温度,加热配置用于表征待测芯片的加热时间;根据加热配置对通过加热装置待测芯片执行加热。本发明的有益效果为:通过利用精确的PID算法,使得温控结果具备极高的稳定性和一致性,保障实验的准确性,避免了因加热装置的工作电压而产生的风险,减少了外部过压保护电路设计,保证了设计的稳定性、可靠性、一致性;根据芯片结温调整加热控制的输出,控制外部发热,精确且稳定的控制芯片温度,便于可靠的芯片测试。
  • 基于pid芯片加热控制方法装置电子设备介质
  • [发明专利]芯片测试异常监测装置、方法、计算机设备和存储介质-CN201711044918.6在审
  • 章小龙;农凯政;吉建军 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2017-10-31 - 2018-02-16 - G06F13/38
  • 本发明涉及一种芯片测试异常监测装置、方法、计算机设备和存储介质。该装置包括多串口转换模块以及交换机模块,多串口转换模块与至少一个测试芯片连接,用于将至少一个测试芯片输出接口转接至与测试芯片输出接口一一对应的并行网口,交换机模块分别与多串口转换模块和上位机连接,用于将多串口转换模块的并行网口转接至串行网口,通过串行网口与上位机进行通信。通过多串口转换模块实现并行的多路串口数据输入、高速串行的单路网口数据输出,利用一台上位机对所有芯片的串口数据进行实时监测,提高了测试芯片异常情况监测的实时性以及精确性,以便工作人员及时对异常情况进行处理,且避免了人工监测不及时或漏检的问题。
  • 芯片测试异常监测装置方法计算机设备存储介质
  • [发明专利]PMU测试方法、装置和系统-CN201710514330.6在审
  • 农凯政 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2017-06-29 - 2017-09-08 - G01R31/28
  • 本案涉及一种PMU测试方法,包括加载标准数据;识别待测试PMU型号,并根据所述待测PMU型号判断相应的测试配置文件是否存在;若所述测试配置文件存在,则根据测试配置文件中的测试项信息对PMU测试,获取测试数据;将测试数据与标准数据比较,输出PMU测试结果。上述PMU的测试方法,将不同型号的PMU的测试项信息均记录到一个测试配置文件中,在测试时,只需要在所述的测试配置文件中根据PMU晶圆找到对应的测试项信息,调用不同的测试流程,就可以方便实现一种测试装置兼容所有型号的PMU的目的。本案还涉及一种PMU测试装置以及一种PMU测试系统。
  • pmu测试方法装置系统

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