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[发明专利]一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置-CN202310502656.2在审
发明人：高冲;胡嫁琪;张梦华;朱辉;周杨;高勇;张云鹏;李恩;余承勇;龙嘉威 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置是在传统同轴谐振腔的基础上，引入探针结构，以此构造出一端开路、一端短路的四分之一波长同轴谐振器。由于同轴谐振腔尺寸较大且没有介质填充，使得该装置有着高品质因数，测试灵敏度高；结构中探针与同轴谐振腔内导体采用插接方式连接，使其可以根据需求更换。通过更换不同长度的探针，调整装置长度来适用于宽频测试，解决了宽频测试的问题；相比传统的半波长或四分之一波长谐振器，本发明充分兼顾了高灵敏度和小区域检测的测试需求。
一种用于小区域微波测试灵敏度同轴谐振装置

[发明专利]天线罩介电性能分布测试系统及校准方法-CN202310549850.6在审
发明人：高冲;石林峰;彭湘杰;宋兆宁;王培屹;李恩;高勇;张云鹏;余承勇 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种天线罩介电性能分布测试系统及校准方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该系统包括发射天线、接收天线、放置待测天线罩的水平转台、矢量网络分析仪、计算机、六轴机械臂、微波电缆、待测天线罩、底部二维旋转台以及数据线。本发明测试系统采用了六轴机械臂、底部二维旋转台以及水平转台对天线罩进行各方位扫描，对天线罩的测试灵活性更高，不仅适用于天线罩介电性能的测试，同时可拓展应用于天线罩透波率、插入相位等电性能的测试；此外，利用本发明的校准方法，实现了对天线罩曲面区域的准确补偿校准，进而可以实现对天线罩整罩介电性能的准确测试。
天线罩性能分布测试系统校准方法

[发明专利]一种基于电场压缩圆柱腔的复介电常数测试装置-CN202310406161.X在审
发明人：程锦;张沂;龙嘉威;涂一航;张云鹏;高勇;高冲;余承勇;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域，具体为一种基于电场压缩圆柱腔的复介电常数测试装置。包括封闭的圆柱谐振腔壳体，通过在圆柱谐振腔壳体内设圆环形磁性介质材，所述圆环形磁性介质材固定于圆柱谐振腔底壁上，并与圆柱谐振腔壳体同轴，其高度与圆柱谐振腔壳体内部高度一致；通过设有的圆环形磁性介质材将圆柱谐振腔体的电场压缩在该腔体的中心区域，实现了圆柱谐振腔测试低灵敏度电介质材料测试复介电常数准确率的提升。
一种基于电场压缩圆柱介电常数测试装置

[实用新型]一种反射率测试系统天线切换装置-CN202223111728.0有效
发明人：徐鑫杰;李恩;李灿平;余承勇;陈天润;龙海杨;郭浩东 -专利权人：成都恩驰微波科技有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： H01Q3/02 文献下载
摘要：本发明涉及电磁特性参数测试领域，特别是涉及反射率测试系统。包括两个天线固定板1、两个天线安装板2、两个极向限位板3、两个极向控制轴承4、两个型材固定块5、两个转向环6、两个转向限位板7、两个转向控制轴承8。所述天线固定板1与极向限位板3为固定连接，通过极向控制轴承4装配在天线安装板2上，使天线固定板1与极向限位板3可相对天线安装板2转动。型材固定块5与转向限位板7为固定连接，通过转向控制轴承8装配在转向环6上，使型材固定块5与转向限位板7可相对转向环6转动，天线安装板2与转向环6为固定连接，可随转向环6一起转动。本发明所提供的装置能够不同天线间的快速切换以及同一天线不同极化方向的快速切换。提高测试效率并且能有效降低因更换天线或更换极化方向而引起的测试误差。
一种反射率测试系统天线切换装置

[发明专利]基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置-CN202310111836.8在审
发明人： 余承勇;乔曼;冉璇;程锦;冯天琦;李灿平;高冲;张云鹏;高勇;郑虎;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-02-14 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明属于微波测试技术领域，具体提供一种基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置，用以解决传统介质谐振器测量介质材料的复介电常数时工作模式较少的问题。本发明包括：上金属板、下金属板、介质材料、同心装置、上耦合探针、下耦合探针以及探针调节装置，介质材料设置于上、下金属板之间，三者通过同心装置形成同心结构的介质谐振器，上、下金属板的中心位置均开设耦合通孔，对应匹配设置上、下耦合探针；介质谐振器采用位于上、下金属板外表面(上、下表面)的探针耦合的方式，激励起TM0np模式；基于该谐振器进行微波介质材料的复介电常数测试时，既能实现高精度测试，由能够进行多模工作。
基于 tm0np 平行平板介质谐振器介电常数测试装置

[发明专利]低频微波电场作用下吸波材料毫米波介电测试系统及方法-CN202211562683.0在审
发明人：高勇;邹亦轩;沈荣华;朱辉;张云鹏;高冲;余承勇;李恩;谢春茂;张薇;李兴兴 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种低频微波电场作用下吸波材料毫米波介电测试系统及方法，属于微波、毫米波测试技术领域。该测试系统创新性地结合矩形谐振腔和自由空间法测试技术，通过矩形谐振腔来控制待测材料处的电场强度大小，通过谐振腔开孔设置双通石英试管，在矩形谐振腔两端设置椭球面反射镜来实现自由空间法测试待测材料毫米波段介电性能，利用矩形谐振腔来提供低频微波电场，避免了激励信号与测试信号模式之间的模式干扰、测试时矢量网络分析仪频段跨度大等问题，大大提高了测试的准确性；同时，本发明设计的介电测试系统具有测试精度高、测试稳定性好、使用和维护成本低的特点。
低频微波电场作用下吸波材料毫米波测试系统方法

[发明专利]低频微波电场作用下低损材料毫米波介电测试系统及方法-CN202211562698.7在审
发明人：高勇;邹亦轩;沈荣华;朱辉;张云鹏;高冲;余承勇;李恩;谢春茂;张薇;李兴兴 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种低频微波电场作用下低损材料毫米波介电测试系统及方法，属于微波、毫米波介质材料测试技术领域。该测试系统结合了准光腔和矩形谐振腔，通过矩形谐振腔控制输入激励信号大小调整低损材料位置处的电场强度大小，以此来模拟外部环境；通过准光腔法来测试待测材料的毫米波段介电性能，避免了激励信号与测试信号之间的模式干扰、测试时矢量网络分析仪中频段跨度大等问题，大大提高了测试的准确性；同时，本发明设计的介电测试系统具有测试精度高、测试稳定性好、使用和维护成本低的特点。
低频微波电场作用下低损材料毫米波测试系统方法

[发明专利]材料检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质-CN202211149314.9在审
发明人：陈泽坚;何骁;肖美珍;洪瑛旭;周亮;吴报瑞;余承勇 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2022-09-21 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本申请涉及材料检测技术领域，特别是涉及一种材料检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取检测温度和检测压力；通过测试夹具，将检测温度和检测压力同时施加于待检测材料；控制抵接在待检测材料上的网络分析仪，对施加有检测温度和检测压力的待检测材料进行压力温度检测，并根据检测结果，确定待检测材料的耐用度。本申请提高了压力温度检测的效率，保证了待检测材料能够在检测温度和检测压力的前提下完成压力温度检测，降低了压力温度检测的操作难度。
材料检测方法装置系统计算机设备存储介质

[发明专利]一种基于谐振腔微扰法的部分填充材料磁导率测试装置-CN202310024431.0在审
发明人： 余承勇;王航宇;夏伟杰;郑虎;李灿平;高勇;高冲;张云鹏;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明属于微波、毫米波材料磁场测试技术领域，具体为一种基于谐振腔微扰法的部分填充材料磁导率测试装置。该装置的矩形谐振腔的顶壁设升降导轨和贯穿其顶壁的缝隙，升降导轨上设滑块，滑块能够在升降导轨上垂直往复运动；滑块上安装旋转装置，样品夹持装置连接旋转装置。通过贯穿矩形谐振腔顶壁的缝隙、升降导轨、滑块以及旋转装置的配合，使待测样品在无接触情况下迅速实现定位，避免了现有技术中切换样品测试方向时的繁琐操作以及样品位置变化时带来的误差，提高了测试效率与准确度；同时谐振腔顶部开口方向与腔壁传到电流方向平行，避免了横向开口对电流的切断，减小了对腔内磁场的影响，提高了测试的准确度。
一种基于谐振腔微扰法部分填充材料磁导率测试装置

[发明专利]一种基于重入式同轴谐振腔的薄膜材料电磁特性测试装置-CN202211666547.6在审
发明人：朱辉;余承勇;夏伟杰;何骁;高勇;张云鹏;高冲;郑虎;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种基于重入式同轴谐振腔的薄膜材料电磁特性测试装置，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置包括重入式同轴谐振腔、样品夹具以及支撑底座三个部分，通过分别在谐振腔内电场强度以及磁场最强的地方放置样品，从而分别测得薄膜材料的复介电常数和磁导率，仅利用一套装置完成了对样品的复介电常数和磁导率的测试；同时放样间隙不切断电力线，不会影响腔内场分布，使得该装置在保有谐振腔品质因数高的优点的同时，缩小了腔体体积，将谐振腔内的电场主要集中在电容加载区域，提升了测试的带宽、灵敏度和精确度，降低了对样品尺寸的要求。
一种基于重入式同轴谐振腔薄膜材料电磁特性测试装置

[发明专利]一种新型耦合方式的带状线谐振器-CN202310112032.X在审
发明人：程锦;余承勇;冯天琦;何骁;张云鹏;高勇;高冲;李灿平;郑虎;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2023-02-14 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H01P7/08 文献下载
摘要：本发明属于微波测试技术领域，涉及微波介质材料复介电常数测试技术，具体提供一种新型耦合方式的带状线谐振器，用以解决覆刻方式的带状线谐振器存在的需要先验微波介质材料的电磁参数、不可调节及灵活性差的问题，侧边耦合方式的带状线谐振器存在的杂模多、损耗测不准的问题。本发明在金属导带、微波介质材料、上接地金属板、下接地金属板构成的基础结构中创造性的提出上下耦合方式，于上、下接地金属板的外侧(上、下表面)对称设置耦合探针；在复介电常数测试过程中，该结构能够去除传统耦合方式的辐射损耗，避免空气不匹配层的出现，进而减小复介电常数测试误差。
一种新型耦合方式带状线谐振器

[发明专利]一种金属材料微波表面电阻率高温测试装置及测试方法-CN202010817901.5有效
发明人：张云鹏;席京蕾;余承勇;高勇;高冲;李灿平;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-08-14 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供一种金属材料微波表面电阻率高温测试装置及方法，属于微波毫米波测试技术领域。该装置采用分离式圆柱腔，通过将谐振腔和待测金属板进行可分离设置，可以实现在高温条件下不同金属材料在微波工作下的电阻率测试；并且在测试过程中，可将待测金属板加热到所需温度后再将谐振腔放置上去进行测试，使得测量结果更加精确；整个测试装置简单易实现。
一种金属材料微波表面电阻率高温测试装置方法

[发明专利]一种自由空间聚焦系统的复介电常数反演修正方法-CN202211198081.1在审
发明人：张云鹏;赵鑫;张娜;余承勇;高勇;高冲;郑虎;李恩 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种自由空间聚焦系统的复介电常数反演修正方法，属于微波、毫米波材料复介电常数测试技术领域。该方法通过将聚焦波束分解成很多个均匀平面波，并通过每一均匀平面波分量反射场的叠加来得到修正公式，从而修正了实际聚焦系统辐射的聚焦波束与均匀平面波偏离导致的模型误差，提高了聚焦波束系统复介电常数反演模型的精度。
一种自由空间聚焦系统介电常数反演修正方法

[发明专利]一种电取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法-CN202211046593.6在审
发明人： 余承勇;程锦;龙嘉威;李恩;高冲;高勇;张云鹏;郑虎 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-08-30 - 公布日： 2022-12-13 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种电取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本发明在液晶材料介电常数测试中，设计了多层介质构成的液晶盒，并创新性地使用多层介质构成上下对称型TM0n0模式双面圆形贴片谐振器，并且其内部的电场分布是穿过待测多层介质并且垂直于金属圆片，故利用其内部场分布特性，该结构能够使用谐振频率更高的模式，极大拓宽测试频率范围，测试频率可达110GHz。因此，本发明介电性能测试装置能够实现在毫米波频段下对液晶材料的宽频段介电性能测试，且测试装置简便易实现。
一种向下液晶材料毫米波性能测试装置方法

[发明专利]一种磁取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法-CN202211041225.2在审
发明人： 余承勇;程锦;龙嘉威;李恩;高冲;高勇;张云鹏;郑虎 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种磁取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置，属于微波测试技术领域。本发明装置设计了装载液晶材料的液晶盒，并创新性地使用多层介质构成的上下对称型TM0n0模式双面圆形贴片谐振器，根据上下对称型双面圆形贴片谐振器的结构特性，其内部的电场分布是穿过待测多层介质并且垂直于金属圆片，因而该结构能够使用更多高次模，极大拓宽测试频率范围，测试频率可达100GHz。因此，本发明介电性能测试装置能够实现在毫米波频段下对液晶材料的介电性能测试，且测试装置简便易实现。
一种向下液晶材料毫米波性能测试装置方法

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