专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测和制造显示面板的方法-CN201910880316.7有效
  • 戈尔拉玛瑞扎·恰吉;斯特凡·亚力山大 - 伊格尼斯创新公司
  • 2014-04-21 - 2023-04-18 - G09G3/00
  • 本发明涉及检测和制造显示面板的方法。其中,检测显示面板的方法,包括:制造所述显示面板,在薄膜晶体管TFT背板上形成多个像素电路,像素电路包括TFT和有机发光器件OLED、在TFT背板的至少一部分上形成连接至信号线的焊接垫、沿着TFT背板的所述一部分的所选边形成探针焊盘,以及形成多个多路复用器,所述多个多路复用器将所述探针焊盘连接至所述焊接垫,所述探针焊盘的数量小于所述焊接垫的数量;将所述TFT背板的所述探针焊盘与测量电子器件接合;通过所述探针焊盘和所述多个多路复用器提供来自所述测量电子器件的测试信号,以在沉积OLED之后且在密封所述显示面板之前检测所述显示面板;以及从所述显示面板的所述检测中确定所述显示面板是否是合格的。
  • 检测制造显示面板方法
  • [发明专利]用于使像素电路均衡化的方法和系统-CN202010978425.5有效
  • 戈尔拉玛瑞扎·恰吉;里基·依克·黑·奈根;尼诺·扎西洛维奇 - 伊格尼斯创新公司
  • 2016-01-06 - 2023-03-28 - G09G3/3225
  • 本发明涉及用于使像素电路阵列中的像素电路均衡化的方法,像素电路包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,该方法包括:a)在使用周期期间,创建像素电路的应力历史,应力历史包括与像素电路已经经受的应力的历史相关的数据;b)在使用周期期间或之后,从像素电路阵列中提取像素参数;c)基于所提取的像素参数和应力历史,更新像素电路阵列的应力图案;d)根据应力图案,使像素电路受到应力;e)从受到应力的像素电路中提取像素参数;f)确定提取的像素参数是否处于预先选择的范围内;当其不处于预先选择的范围内时:更新应力历史,并重复步骤c)至f);当其处于预先选择的范围内时,使像素电路阵列返回到正常操作。
  • 用于像素电路均衡方法系统
  • [发明专利]用于确定和补偿有机发光器件的效率劣化的方法-CN202010811518.9有效
  • 戈尔拉玛瑞扎·恰吉 - 伊格尼斯创新公司
  • 2015-06-23 - 2021-10-29 - G09G3/3233
  • 本发明涉及用于确定和补偿有机发光器件的效率劣化的方法。所述方法包括:在每个基于阵列的半导体显示器件的存储器中存储关联性曲线的库,关联性曲线针对应力条件将参考OLED像素的电学运行参数中的变化与效率劣化直接关联起来;对于运行中的半导体显示器件,利用控制器:a)控制读取电路以周期性地测量OLED的电学运行参数,确定电学运行参数从基准值的变化,并且存储变化;b)基于电学运行参数的变化的电流值和先前记录的电学运行参数的变化的值来计算电学运行参数的变化速率;c)利用变化速率来确定OLED的应力条件;d)基于应力条件从所存储的库中选择至关联性曲线;e)基于关联性曲线来确定OLED的效率劣化;以及f)修改像素的编程电压或电流以补偿效率劣化。
  • 用于确定补偿有机发光器件效率方法
  • [发明专利]像素电路和提取电路参数并提供像素内补偿的方法-CN201711202814.3有效
  • 戈尔拉玛瑞扎·恰吉 - 伊格尼斯创新公司
  • 2014-12-05 - 2021-09-03 - G09G3/3233
  • 本发明涉及像素电路和提取电路参数并提供像素内补偿的方法。所述像素电路包括发光装置、驱动晶体管、编程输入端以及用于存储编程信号的存储装置,所述方法包括以下步骤:通过下述步骤导致所述像素电路的像素内补偿:将参考电压从第一线施加至所述存储装置以基于所述参考电压对所述存储装置进行充电,并且使电流从第一节点向第二线转向,以消除不期望的发光,从而对所述驱动晶体管和所述发光装置中的至少一者的变化或老化进行自补偿,所述第一节点位于所述驱动晶体管和所述发光装置之间,和使用所述像素电路外部的电路从所述像素电路提取所述电路参数;以及随后,使用已经基于提取的所述电路参数进行补偿后的编程信息驱动所述像素电路。
  • 像素电路提取参数提供补偿方法

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