专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于探针扫描的纳区光致发光探测系统及方法-CN202311207234.9在审
  • 白本锋;黄嘉泰;孙洪波 - 清华大学
  • 2023-09-19 - 2023-10-24 - G01N21/63
  • 本发明涉及光学器械技术领域,具体涉及一种基于探针扫描的纳区光致发光探测系统及方法,其中,系统包括:倒置显微成像模块,用于调控底部激发光源,将激发光源聚焦于探测目标的表面,生成探测目标的聚焦光斑处的光场信号;原子力显微镜模块,用于在获得所述探测目标的形貌信息的同时,散射并调制探测目标的聚焦光斑处的光场信号,通过倒置显微成像模块收集并转换为调制电学信号;信号处理模块,用于解调调制电学信号,得到包括光致发光在内的超分辨纳区光场信息。由此,解决了相关技术中的光致发光扫描探测系统受限于光学衍射极限,空间分辨率低,难以应用于被检测材料局部的纳米级尺度的缺陷检测的技术问题。
  • 基于探针扫描光致发光探测系统方法
  • [发明专利]纳米材料的超分辨缺陷探测系统、缺陷识别方法及装置-CN202310382759.X在审
  • 孙洪波;黄嘉泰;白本锋 - 清华大学
  • 2023-04-11 - 2023-08-18 - G01N21/64
  • 本申请公开了一种纳米材料的超分辨缺陷探测系统、缺陷识别方法及装置,其中,系统包括:激发模块,用于调控激发激光,生成探测目标的荧光信号;探针模块,用于过滤低空间频率荧光信号得到探测目标的超分辨荧光信号,并在处于接触模式时,获得探测目标的形貌信息;扫描与荧光收集模块,用于获得探测目标至少一个区域的每个点的超分辨荧光信号,得到探测目标的超分辨荧光光谱信息分布,以利用形貌信息和超分辨荧光光谱信息对探测目标进行缺陷分析。由此,解决了相关技术中,探测分辨率受限于光学衍射极限,无法实现纳米尺度缺陷探测与识别的技术问题。
  • 纳米材料分辨缺陷探测系统识别方法装置
  • [发明专利]一种活套器-CN202011070152.0在审
  • 陈祖政;蓝川;梁志伟;陈升;黎小辉;周林苗;黄嘉泰 - 广东韶钢松山股份有限公司
  • 2020-09-30 - 2021-01-29 - B21B41/00
  • 本申请提供了一种活套器,属于轧钢生产设备领域。活套器包括基座、活套体和调节组件。活套体可移动地设置于基座,活套体具有供轧件通过的多个第一导槽,多个第一导槽沿预设方向间隔布置于活套体。调节组件设置于基座,调节组件被配置为调节活套体在预设方向上的位置。采用这种结构的活套器通过调节组件能够调节活套体在预设方向上的位置,从而调节第一导槽的中心线所在的位置,以适用于不同的生产工艺,无需停线更换对应的活套器,节省了更换活套器的时间,从而提高了生产线的开动率,进而大大提高了连轧生产线的生产效率。此外,采用这种结构的活套器无需针对不同的生产工艺需求储备不同的活套器,减少了备件的储备量,从而降低了生产成本。
  • 一种活套器

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