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[发明专利]一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用-CN201210402898.6有效
发明人： 黄佐华;曾映智 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2012-10-19 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用。该方法为将平行光投射到位相物体上，经过成像透镜，得到位相物体的明场像；沿着光束方向，在成像透镜后的频谱面上放置滤波器吸收物体的零级频谱，得到位相物体的暗场像；根据两幅图像所携带的信息及像光强的理论表达式，利用图像处理技术分析明场像和暗场像，得到位相物体的每一点位相值，重构位相物体的位相分布或图像。实现该方法的装置为沿着光束前进方向，光源、扩束透镜、针孔滤波器、准直透镜、用于放置位相物体的装置、成像透镜、用于吸收位相物体零级频谱的滤波器和面阵光电探测器依次排列。本发明实现了位相物体的定量测量，测量位相范围0～π，装置简单，成本低。
一种位相物体分布定量测量方法装置及其应用

[实用新型]一种多波长光纤激光发射装置-CN201220022337.9有效
发明人： 黄佐华 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2012-01-17 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： H01S5/40 文献下载
摘要：本实用新型公开一种多波长光纤激光发射装置。该装置包含若干个半导体激光器、若干个用于调节激光方向的转向反射镜、光纤耦合机构、光纤、光纤准直输出头和短焦距准直透镜；光纤耦合机构包括用于调节光纤卡头位置的精密调节螺杆和用于固定光纤的光纤卡头；其中，用于调节激光方向的转向反射镜位于半导体激光器的输出端口前方，转向反射镜为工作状态时，转向反射镜反射的激光对准被光纤卡头固定住的光纤的中心位置；光纤卡头、光纤、光纤准直输出头与短焦距准直透镜依次连接。通过该装置可获得各种分立波长平行或准直激光输出，激光光能的利用率高；该装置结构简单，调节方便，性价比高，易于推广应用。
一种波长光纤激光发射装置

[发明专利]测量薄膜厚度和折射率的方法及装置-CN201210016692.X无效
发明人： 黄佐华;宋亚杰 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2012-01-17 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开一种测量薄膜厚度和折射率的方法及装置与应用。该方法为采用至少三束光束同时以不同入射角投射到薄膜样品表面同一点或位置，反射光束的强度由阵列光电探测器接收，再与入射光束光强比较，计算出各光束的反射率，最后与理论公式拟合得到待测薄膜的厚度和折射率。装置如下：沿着光轴，光源、透射光栅、光栏、聚光透镜、偏振器和样品旋转台依次排列；样品旋转台的轴心和光电探测器旋转平台的轴心重合，后者的直径大于前者的直径；位于光电探测器旋转平台上的光电探测器、信号采样放大和AD转换电路、计算机依次连接。本发明具有测量速度快及空间分辨率高的特点，可大规模对集成电路IC和/或功能薄膜器件进行检测。
测量薄膜厚度折射率方法装置

[实用新型]一种全息光栅的制作装置-CN201020233097.8无效
发明人：陈映纯;黄婉华;赖演萍;黄佐华 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2010-06-21 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G03H1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种全息光栅的制作装置。该制作装置包含光源、扩束镜、空间滤波器、平面平晶和用于记录经平面平晶两个光学表面反射形成平行干涉条纹的全息干版；其中，光源、扩束镜、空间滤波器和平面平晶沿光束前进的方向依次共轴排列，平面平晶与光轴形成的夹角可调，用于记录经平面平晶两个光学表面反射形成平行干涉条纹的全息干版位于干涉场。本实用新型元件少，不需使用标准光栅，调节灵活方便，而且由于属分波幅干涉，光程短，本实用新型产生的干涉条纹稳定，衬比度高，抗干扰能力强。本实用新型的干涉条纹间距可控量较多，易于调节光栅常数，特别适合于制作教学用的低频光栅全息光栅。
一种全息光栅制作装置

[发明专利]次声波检测装置及次声波检测方法-CN201010151990.0有效
发明人：唐小煜;黄佐华;林丽芬;沈娴;吴丽菲 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2010-04-16 - 公布日： 2010-10-27 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种次声波检测装置，包括一激光器和一振膜单缝装置。该激光器用以产生一激光光束。该振膜单缝装置，包括两个刀片和一灵敏膜片。两个刀片设置在同一平面上并相互分离形成一单缝；其中一刀片设置在灵敏膜片的形变区域上。灵敏膜片设于次声波区域内。该激光光束通过该单缝并产生单缝衍射条纹。当有次声波使灵敏膜片产生振动而引起刀片的微振，从而改变所述单缝的缝宽，进而使所述单缝衍射条纹产生变化。本发明的次声波检测装置利用光束的单缝衍射条纹检测次声波，整体结构简单，对器件的加工精度要求不高，制作成本低且易于实现。
次声波检测装置方法

[实用新型]太阳光紫外线强度检测装置-CN200820202168.0无效
发明人：陈宏林;邓晓敏;许曼宜;李灶华;黄佐华;郑永驹 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2008-10-17 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： G01J1/18 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种太阳光紫外线强度检测装置，本实用新型采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。本实用新型利用紫外荧光和差分原理，能自动消除本底光的影响，测量紫外线强度的精确度高。
太阳光紫外线强度检测装置

[发明专利]紫外线强度荧光差分检测方法与装置-CN200810218432.4无效
发明人： 黄佐华;郑永驹;陈宏林;邓小敏;许曼宜;李灶华 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2008-10-17 - 公布日： 2009-05-06 - 主分类号： G01J1/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种紫外线强度荧光差分检测方法与装置，本发明采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。本发明利用紫外荧光和差分原理，能自动消除本底光的影响，测量紫外光精确度高。
紫外线强度荧光检测方法装置

[发明专利]电控化油器供油系统-CN200710017834.3无效
发明人：曾科;刘兵;吕世亮;黄佐华 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2007-05-14 - 公布日： 2007-10-17 - 主分类号： F02M7/24 文献下载
摘要：电控化油器供油系统，包括化油器、发动机，在发动机上安装有曲轴位置信号触发装置，且在发动机外侧还安装有与曲轴位置信号触发装置相对应的曲轴位置传感器，曲轴位置传感器的输出端与电子控制单元的输入端相连接，且在发动机的排气管上还设置有与电子控制单元的输入端相连接的排气氧传感器，在化油器的低速油系空气通道处设置有一与电子控制单元相连接的电磁阀。由于本发明的电子控制单元通过曲轴位置传感器中产生曲轴位置信号及排气氧传感器检测的氧含量进行以理论空燃比为目标的反馈控制，通过氧传感器检测到这一偏差，并根据此偏差调节电磁阀的开度，从而调节发动机在中小负荷工况时的空燃比，直至发动机工作的空燃比逼近理论空燃比。
化油器供油系统

[发明专利]一种椭偏测量装置-CN200710027449.7无效
发明人： 黄佐华;王礼娟;杨怀 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2007-04-06 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明涉及一种椭偏测量装置，包括入射臂、样品旋转平台、出射臂，所述入射臂包括光源、光束处理组件、起偏器和1/4波片，所述出射臂包括透镜空间滤波组件、检偏器和光电探测器。透镜空间滤波组件在样品旋转平台和检偏器之间，由小孔光栏、透镜和空间滤波器组成。经样品反射的散射光由透镜空间滤波组件选择出平行于出射光轴的平行光。所述光束处理组件由小孔光栏、偏振器和四分之一波片构成。入射臂的光轴和出射臂的光轴相交于样品旋转平台的转动轴，入射臂和出射臂所组成的入射面与样品旋转平台的转动轴垂直；入射臂、出射臂和样品旋转平台可绕该转动轴旋转；本发明可用于大粗糙度非光滑面和曲面样品的测量，有较高的精确度，应用前景广泛。
一种测量装置

[发明专利]紫外线强度检测方法及装置-CN200610132375.9无效
发明人： 黄佐华;郑永驹;罗泽鹏 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2006-12-28 - 公布日： 2007-07-18 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种紫外线强度检测方法及装置，包括：含紫外线的光线经过两个矩形光阑准直后，形成一束单一方向的准平行光入射到反射光栅上，反射的衍射光的一级光谱是从紫外线、可见光到红外线的光谱带，可见光和红外线被一个滤光装置挡住，而紫外线通过该滤光装置射到紫外荧光材料上从而发出荧光，由一个包括光电探测器的光电信号采集电路来检测荧光强度，然后把荧光强度折算成紫外线的强度。本方法和检测装置不但适用于较强的太阳光紫外线检测，而且可用于各种紫外光源，如汞灯、氙灯和氘灯及空心阴极灯的测量。本检测仪设计紧凑，使用简单，便于携带，检测范围宽。
紫外线强度检测方法装置

[发明专利]球面反射镜的双点源干涉检测方法及装置-CN200510120663.8无效
发明人： 黄佐华 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2005-12-16 - 公布日： 2006-06-28 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种球面反射镜的双点源干涉检测方法及其装置，所述检测方法包括获取平行光，选出双点源，光束经平面反射返回，光束经球面反射返回，返回光束输出，球面反射镜误差检测的步骤，所述方法使用的装置包括光源、光束处理装置、光栅、凸透镜、透反平面镜、空间滤波器、小平面反射镜、球面反射镜安装调节平台、像屏和摄像机，所述器件安装于器件夹持调节装置上。本发明精度高，对振动、温度、气流敏感小，稳定性高，易于操作并能推广应用。
球面反射双点源干涉检测方法装置

[发明专利]位相物体扫描成像方法及其处理装置-CN200510034208.6无效
发明人： 黄佐华;陈超嫦 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2005-04-21 - 公布日： 2006-01-04 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种位相物体扫描成像方法及其处理装置，根据双点源光束干涉原理，在两极大光点附近放置平移扫描台及位相样品，利用测量干涉条纹的周期及错位量，通过对位相物体逐点扫描，而得到位相物体的位相分布。本方法的位相分辨率高，精度达到λ/50或π/25，易于实现位相物体的假彩色化，而且通过计算机的图像处理技术实现位相物体位相或光程的重构，可实现测量及显示过程的自动化。本发明的处理装置设计紧凑，调节方便，易于观察，成本较低。本方法适用于位相变化范围较大的位相物体和部分吸收或弱散射的位相物体，另外由于本方法能得到位相物体的厚度分布或折射率分布，因此也可用于薄膜厚度或折射率的定量测量。
位相物体扫描成像方法及其处理装置

[发明专利]测量薄膜折射率的方法及装置-CN03113652.4无效
发明人： 黄佐华;何振江;杨冠玲 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2003-01-23 - 公布日： 2003-10-08 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：测量薄膜折射率的方法及其装置，是利用光栅通过透镜产生多个极大点，在频谱面上放置二元滤波器及薄膜样品，在光栅共轭象面上获得干涉条纹，利用输出与测量结构在象面上进行接收和观察，并测量干涉条纹的周期和错位量，从而求得薄膜的折射率。它能够解决折射率不确定性问题，测量过程简单，装置调节方便，测量稳定可靠，且易于实现。本发明测量条纹的精度达λ/10～λ/20，测量折射率精度为0.01～0.005。
测量薄膜折射率方法装置

[实用新型]半导体激光光束处理装置-CN01242799.3无效
发明人： 黄佐华;何振江;杨冠玲 -专利权人：华南师范大学
申请日： 2001-07-26 - 公布日： 2002-05-08 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：半导体激光光束处理装置,由依次共轴安装的半导体激光管、准直透镜组、振幅滤波器和位相滤波器构成,振幅滤波器的光强透过率满足高斯函数分布,位相滤波器的厚度与激光波长的关系满足d(no-ne)=(m+1/2)λ/2的要求,激光管与透镜组的距离等于透镜组的焦距,位相滤波器的快轴与激光偏振方向成45°角。经处理后的激光束光斑为圆形,光强分布接近高斯函数分布,光偏振方向均匀。本装置结构紧凑、性能稳定且造价低。
半导体激光光束处理装置

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