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[实用新型]一种半导体器件检测的可循环仓储装置-CN202123329386.5有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： B65G1/137 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上，推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构，升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器。其有益效果为：通过两个料仓可循环不间断的给抓取装置提供载盘，既增加了载盘的仓储数量，又提高了半导体器件的检测效率，托盘槽的设计便于托盘的放入和取出。
一种半导体器件检测循环仓储装置

[实用新型]一种COS封装激光器的检测装置-CN202121193577.0有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种COS封装激光器的检测装置，包括检测台、第一CCD相机、第二CCD相机、第一光谱共焦位移传感器和控制组件，所述检测台包括激光器吸附组件和激光器移动组件，所述激光器吸附组件安装于激光器移动组件上，所述第一CCD相机竖直设置于激光器吸附组件上方，所述第二CCD相机水平设置于激光器吸附组件的一侧，所述第一光谱共焦位移传感器位于检测台的一侧，所述第一光谱共焦位移传感器用于测量激光器出光面和热沉端面的高度差值，所述控制组件与检测台、第一CCD相机、第二CCD相机和第一光谱共焦位移传感器电连接。实现了半导体器件的微米级的高精度检测。
一种 cos 封装激光器检测装置

[实用新型]一种用于激光器封装的检测装置-CN202121196602.0有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于激光器封装的检测装置，包括底座、调节板和紧固件，所述调节板上沿竖直方向设有多组相互平行的调节孔，所述紧固件穿过调节孔与底座的侧面连接，所述调节板的顶部设有环形光源，所述调节板位于环形光源的下方设有用于CCD相机镜头穿过的U型槽，所述CCD相机安装于底座的顶部，所述CCD相机的视场穿过环形光源的中部进行机器视觉检测。调节板安装于底座侧面，调节环形光源上下位置的过程中与其他部件不产生干涉；同时调节板的宽度与两块竖板的宽度，调节后安装时保持调节板与竖板的边沿对齐，避免环形光源出现偏斜。
一种用于激光器封装检测装置

[实用新型]一种用于机器视觉检测的调节装置-CN202121196596.9有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： F16M11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于机器视觉检测的调节装置，包括固定板、移动板和两块竖板，所述固定板水平安装于两块相互平行设置的竖板之间，所述移动板沿X轴与固定板活动连接，所述移动板上设有相机固定架，所述相机固定架上安装有CCD相机；所述相机固定架沿X轴的两侧均设有固定条，所述固定条上设有固定孔，所述固定孔内安装有用于固定相机固定架的固定螺栓；所述相机固定架沿Y轴的两侧均设有第一定位板，所述第一定位板上设有第一定位螺纹孔，所述第一定位螺纹孔内安装有第一螺栓，所述第一螺栓的前端与相机固定架的外侧紧密贴合。通过第一螺栓和第二螺栓可对CCD相机的位置进行水平调整，便于对机器视觉检测的CCD相机装调。
一种用于机器视觉检测调节装置

[实用新型]一种半导体器件的自动检测装置-CN202120471328.7有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体器件的自动检测装置，包括检测台、第一显微镜、第二显微镜和控制组件，所述第一显微镜和第二显微镜相互垂直设置，所述检测台用于承载半导体器件位于第一显微镜和第二显微镜的视场交点，所述检测台包括半导体吸附组件和半导体移动组件，所述控制组件用于控制半导体移动组件对半导体吸附组件的平移和旋转，以及控制所述第一显微镜和第二显微镜采集半导体器件的表面图像、并判断和记录检测数据，所述第二显微镜为微分干涉显微镜。通过第二显微镜发出偏振光至待检测半导体器件的侧面，再反射至第二显微镜的CCD成像系统得到了数字图像，通过算法提取出半导体器件的侧面缺陷，实现对半导体器件的高精度检测。
一种半导体器件自动检测装置

[发明专利]一种半导体器件的找正和检测方法及应用-CN202110912471.X在审
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-08-10 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体器件的找正和检测方法及应用，包括以下步骤：S1、将半导体器件置于吸附组件上吸附固定，第一CCD相机采集半导体器件顶面的第一图像信息，移动组件根据第一图像信息移动吸附组件，使半导体器件的侧面位于水平设置的第一光学位移传感器量程内；S2、第一光学位移传感器测量距半导体器件侧面的第一点A，移动组件沿Y轴移动距离L，第一光学位移传感器测量距半导体器件侧面的第二点B；S3、根据A、B两点的高度差值和距离L，计算半导体器件置于吸附组件上的偏转角α，移动组件旋转偏转角α使半导体器件处于正交状态。利用传感器高精度测距的特点，实现对半导体器件的精准找正，可用于对半导体器件进行高精度检测。
一种半导体器件检测方法应用

[实用新型]一种用于半导体器件检测的翻转送料装置-CN202120469449.8有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： B65G47/248 文献下载
摘要：一种用于半导体器件检测的翻转送料装置，包括移动机构、翻转驱动机构和多个半导体器件取放机构；所述翻转驱动机构包括翻转驱动器和翻转板，所述翻转驱动器安装于所述移动机构上，所述翻转板安装于所述翻转驱动器上，所述多个半导体器件取放机构分别安装于所述翻转板表面的不同方位上，所述翻转驱动器用于翻转板翻转至不同的方位。本实用新型能够在准确地将待测的半导体器件送到检测工位的同时可以批量送料给多个工位，加快了送料速度，提高了检测效率。
一种用于半导体器件检测转送装置

[实用新型]一种半导体器件的中转平台-CN202120469472.7有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体器件的中转平台，包括水平移动机构、吸附板、控制器、控制阀和真空发生器，所述吸附板固定安装于水平移动机构上方，所述吸附板上设有用于吸附载盘的吸附单元，所述吸附单元位于载盘的吸气孔下方，所述吸附单元依次与控制阀和真空发生器连通，所述控制器与控制阀的控制端电连接，所述控制器用于控制控制阀供吸附单元对载盘吸附和释放。通过吸附板上的吸附单元再对载盘吸附固定的同时，载盘上的硅胶膜也被吸附，便于下一工序的机械手抓取载盘上的半导体器件。吸附板上设置多个吸附单元且分别进行控制，保证吸附板上可实现持续具有载盘被吸附，进而保证中转平台持续具有半导体器供应至下一工序。
一种半导体器件中转平台

[实用新型]一种用于半导体器件的送料装置-CN202120471329.1有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于半导体器件的送料装置，包括水平移动机构、垂直移动机构和抓取机构，所述抓取机构包括安装板和伸缩组件，所述垂直移动机构沿垂直方向的一端与水平移动机构连接，所述垂直移动机构沿垂直方向的另一端与安装板的顶面连接，所述安装板的底面安装有伸缩组件，所述伸缩组件沿水平方向的两端设有夹持板，所述伸缩组件通过伸缩动作驱动夹持板夹持和释放托盘。机械式结构的抓取机构具有较高的可靠性，便于抓取机构对托盘进行单个抓取后送料；通过在安装板上设置限位凸起和滑轨槽，便于抓取机构的装配，减少滑轨和滑块的安装调试时间，提高安装精度。
一种用于半导体器件装置

[实用新型]一种半导体器件检测的仓储装置-CN202120471333.8有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体器件检测的仓储装置，包括仓储单元和控制器，所述仓储单元包括料仓、升降机构，所述料仓内设有用于承载多个载盘的托板，所述料仓上设有用于监测托板顶部载盘的料位开关，所述升降机构的升降器与托板固定连接，所述控制器与料位开关和所述升降机构的升降驱动器电连接，所述升降驱动器驱动升降器升降运动。所述料仓的侧面设有仓储口，所述托板的横向断面为“L”型，所述托板竖直段的外侧面与升降器连接。通过料仓可一次仓储多个载盘，最顶部的载盘被抓取装置抓取后，该空缺位置可自动及时补充，便于下一周期再次抓取。
一种半导体器件检测仓储装置

[发明专利]一种用于激光巴条及其单管出光的光学性质检测系统-CN202110241907.7有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于激光巴条及其单管出光的光学性质检测系统，包括拾取工位、检查工位、搬运工位和控制组件，所述控制组件与拾取工位、检查工位和搬运工位电连接，所述控制组件用于控制各工位相互协调地进行动作，以及控制所述检查工位采集激光巴条的表面图像、并判断和记录检测数据，所述搬运工位用于激光巴条在拾取工位和检查工位之间的往复搬运，所述拾取工位包括移动平台，所述移动平台上设有用于放置激光巴条的托盘。本发明可针对激光巴条表面存在的污染物、颗粒、解理纹等缺陷进行高分辨率的机器视觉检测，具有较高的检测效率和精度。
一种用于激光及其单管出光光学性质检测系统

[发明专利]一种半导体器件的自动检测装置和方法及应用-CN202110241938.2在审
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体器件的自动检测装置和方法及应用，包括检测台、第一显微镜、第二显微镜和控制组件，所述第一显微镜和第二显微镜相互垂直设置，所述检测台用于承载半导体器件位于第一显微镜和第二显微镜的视场交点，所述检测台包括半导体吸附组件和半导体移动组件，所述控制组件用于控制半导体移动组件对半导体吸附组件的平移和旋转，以及控制所述第一显微镜和第二显微镜采集半导体器件的表面图像、并判断和记录检测数据，所述第二显微镜为微分干涉显微镜。通过第二显微镜发出偏振光至待检测半导体器件的侧面，再反射至第二显微镜的CCD成像系统得到了数字图像，通过算法提取出半导体器件的侧面缺陷，实现对半导体器件的高精度检测。
一种半导体器件自动检测装置方法应用

[实用新型]一种基于机器视觉的弹性散热片外形参数自动测量装置-CN201820125162.1有效
发明人： 饶炯辉;雷畅 -专利权人：武汉人和睿视科技有限公司
申请日： 2018-01-24 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于机器视觉的弹性散热片外形参数自动测量装置，包括光源模块、工业镜头、图像采集模块和安装有自动测量软件的图像处理器，光源模块用于照射待测量散热片，工业镜头用于拍摄待测量散热片，图像采集模块采集拍摄的待测量散热片的端面照片数据，由自动测量软件进行图像处理测量出散热片外形尺寸。本实用新型通过将光源模块、工业镜头和图像采集模块安装在电动平移台上，使得运动时光源模块、工业镜头和图像采集模块与静止的待测量散热片之间有相对位移，对散热片的不同位置进行照射、拍摄采集其照片数据，送入图像处理器，由自动测量软件进行图像处理后提取关键位置点坐标，以实现对散热片不同位置外形尺寸的测量。
散热片图像采集模块测量工业镜头光源模块自动测量软件自动测量装置本实用新型弹性散热片图像处理器基于机器图像处理外形参数照片数据拍摄照射视觉采集电动平移关键位置相对位移点坐标后提取静止送入

[发明专利]激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统-CN201410639760.7有效
发明人：孙春生;张晓晖;张爽;戴得德;饶炯辉;韩宏伟 -专利权人：中国人民解放军海军工程大学
申请日： 2014-11-13 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统，方法包括步骤S1、确定漫反射板假目标布设要素，所述布设要素包括布设方位/板面朝向、引偏空间、布设距离和布设数量；S2、建立漫反射板假目标布设要素的评估模型；S3、建立漫反射板目标防护效能评估模型，将假目标的布设信息和被保护目标信息代入各评估模型即得到各项的评估，与布设要素权重相乘求和即可评估出假目标的防护设效能。实施本发明可克服常用的专家评估法中主观因素和知识结构水平的影响，实现激光引偏干扰系统中漫反射板假目标防护效能的实时、自动评估。
激光干扰漫反射目标防护效能评估方法系统

[发明专利]一种激光引偏干扰环境态势图生成系统-CN201410670359.X有效
发明人：孙春生;张晓晖;张爽;戴得德;饶炯辉;韩宏伟 -专利权人：中国人民解放军海军工程大学
申请日： 2014-11-21 - 公布日： 2015-03-11 - 主分类号： G01S7/495 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光引偏干扰环境态势图生成系统，系统包括设备布设态势子模块和假目标引偏态势子模块；设备布设态势子模块用于生成设备布设态势图，以显示引偏干扰系统子设备的数量、布设参数以及相对于被保护目标的位置关系，子设备包括激光告警单元、光电干扰车和假目标，布设参数包括子设备的布设的方位、距离、水平基准和方位基准；假目标引偏态势子模块用于生成假目标引偏态势图，以显示假目标的位置、假目标引偏角度区域信息、假目标的布设参数。实施本发明可解决现有环境态势图显示的设备布设信息不完整、未能突出引偏干扰中的引偏盲区的技术问题。
一种激光干扰环境态势生成系统

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