专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]获取存储器中目标数据的方法、装置和电路-CN202010342988.5有效
  • 谢元禄;刘璟;张君宇;霍长兴;呼红阳;张坤;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-27 - 2023-08-08 - G06F3/06
  • 本发明涉及存储器技术领域,具体涉及一种获取存储器中目标数据的方法、装置和电路。方法包括:若目标数据的数据类型为第一类数据,则只有当返回数据中包括至少(N+1)/2个相同的数据时,才将此相同的数据对应的数据作为目标数据返回存储器控制器;若目标数据的数据类型为第二类数据,则只有当N个返回数据均为0时,才将0作为目标数据返回存储器控制器,否则将1作为目标数据返回存储器控制器;若目标数据的数据类型为第三类数据,则只有当N个返回数据均为1时,才将1作为目标数据返回存储器控制器,否则将0作为目标数据返回存储器控制器。本发明结合目标数据的种类采用不同机制判断目标数据的可靠性,提高了获取存储器中的目标数据的可靠性。
  • 获取存储器目标数据方法装置电路
  • [发明专利]预取数据的方法及装置-CN202010347493.1有效
  • 呼红阳;张君宇;谢元禄;刘璟;张坤;霍长兴;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-28 - 2023-08-08 - G06F3/06
  • 本发明涉及数据读写技术领域,尤其涉及预取数据的方法及装置,本发明的预取数据的方法,所述方法包括:基于预取方式对应的当前奖励值,从高位地址预取方式、顺序预取方式和历史访问队列预取方式中确定出一种预取方式作为目标预取方式;基于目标预取方式,确定出预测地址;从NAND闪存中获取预测地址对应的数据并存入缓存单元,以使NAND闪存控制器从操作系统处接收到目标访问地址后,若目标访问地址与预测地址相同,则NAND闪存控制器从缓存单元中提取出预测地址对应的数据反馈给操作系统;基于预测地址确定目标预取方式的命中率,并基于命中率调整目标预取方式的奖励值。本发明能够降低NAND闪存的初始延时,有效地提高闪存的随机读取性能。
  • 数据方法装置
  • [发明专利]数据编码、解码方法及数据处理系统-CN202010375811.5有效
  • 张坤;刘璟;张君宇;谢元禄;霍长兴;呼红阳;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-05-07 - 2023-04-25 - H03M7/40
  • 本发明公开了一种数据编码方法,应用于发送设备包括:将第一待编码数据分为m块第一信息序列,m≥2且为正整数;对m块第一信息序列进行循环冗余码校验CRC编码,生成m块CRC码;将m块CRC码合并为第二待编码数据;对第二待编码数据进行BCH编码,获得BCH码;将BCH码发送至接收设备,以使接收设备对BCH码进行解码,然后将BCH解码数据分块,获得m块第二信息序列,再对m块第二信息序列进行CRC解码;然后根据m个CRC校验结果,确定在BCH解码数据中是否存在错误数据。上述方法实现了在BCH解码阶段通过CRC校验及时检测和判断待BCH解码的数据中的数据错误量是否溢出了BCH码纠错能力,从而确定输出数据的可靠性。
  • 数据编码解码方法数据处理系统
  • [发明专利]存储器测试电路、测试系统及测试方法-CN202010349085.X有效
  • 谢元禄;刘璟;张君宇;霍长兴;呼红阳;张坤;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-28 - 2023-01-17 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种存储器测试电路、测试系统及测试方法,测试电路包括:主控芯片、被配置处理芯片,被配置处理芯片,用于被上电后从被测存储器加载所需的配置信息,并利用配置信息进行配置后输出预设信息,预设信息能够表征被配置处理芯片是否成功配置所述配置信息;主控芯片,用于根据上位机下发的测试指令,从所述被测存储器内部获取配置信息,并从被配置处理芯片获取预设信息,将配置信息及预设信息反馈给上位机,以使上位机根据所述配置信息及所述预设信息,对所述被测存储器的上电加载功能进行判断,输出判断结果。本发明解决了现有技术中利用目前的测试系统的架构对PROM完成测试后,依然有可能存在加载功能错误的问题。
  • 存储器测试电路系统方法
  • [发明专利]存储器及其限流保护电路-CN202010345423.2有效
  • 霍长兴;刘璟;张君宇;谢元禄;呼红阳;张坤;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-27 - 2022-07-08 - G11C13/00
  • 本发明公开了一种存储器及其限流保护电路,所述限流保护电路包括:位线电压产生电路,用于产生对目标存储单元进行置位操作所需的位线电压,并在输出位线电流;电流采样电路,用于对所述位线电流进行采样,输出采样电流;比较控制电路,用于在所述采样电流小于所述参考电流时产生第一控制信号,在所述采样电流不小于所述参考电流时产生第二控制信号;开关电路,用于在接收到所述第一控制信号时将所述位线电压传输给所述目标存储单元,在接收到所述第二控制信号时隔离所述位线电压产生电路和所述目标存储单元。本发明公开的存储器及其限流保护电路,能够省去测试设备在置位操作时的限流保护措施,同时简化测试设备提供的高压信号。
  • 存储器及其限流保护电路
  • [发明专利]灵敏放大器以及存储器-CN202010345389.9有效
  • 霍长兴;刘璟;张君宇;谢元禄;呼红阳;张坤;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-27 - 2022-07-01 - G11C7/06
  • 本发明公开了一种灵敏放大器以及存储器,所述灵敏放大器包括:电流采样单元,用于对位线电流进行采样,获得采样电流;比较单元,用于对所述采样电流和参考电流进行比较,获得比较电压;输出单元,用于对所述比较电压进行整形,获得读取数据;钳位单元,所述钳位单元包括运算放大器和调整晶体管;所述运算放大器的同相输入端用于接收参考电压,所述运算放大器的反相输入端和所述调整晶体管的一端连接位线,所述运算放大器的输出端连接所述调整晶体管的控制端,所述调整晶体管的另一端连接数据线。本发明提供的灵敏放大器以及存储器,能够提高灵敏放大器读取数据时的分辨能力,避免过大的读取电流。
  • 灵敏放大器以及存储器

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