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- [实用新型]一种半导体芯片测试工具-CN202220561981.7有效
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陈煜明;何明锋
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上海纪元微科电子有限公司
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2022-03-15
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2022-10-14
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G01R31/28
- 本实用新型涉及半导体芯片技术领域,且公开了一种半导体芯片测试工具,包括固定机构、连接机构、检测机构、放置机构和芯片本体,所述连接机构位于固定机构的上端,所述检测机构位于连接机构的上端,所述放置机构位于连接机构的内部,所述芯片本体位于放置机构的内部。该半导体芯片测试工具,通过将承载块设置为框型结构,卡块设置为框型结构,当芯片本体放置在承载块上端后,保证芯片本体的下端为悬空结构,然后再将卡块卡在芯片本体放置后承载块外侧的卡槽内,卡块下端的内侧和承载块形成夹槽将芯片本体卡紧,避免芯片本体在检测时发生位移,同时将调整脚设置为T字型结构,增加调整脚与地面接触的面积,使得该装置在使用时更为稳定。
- 一种半导体芯片测试工具
- [实用新型]一种半导体芯片的测试平台-CN202220566146.2有效
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陈煜明;何明锋
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上海纪元微科电子有限公司
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2022-03-15
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2022-10-14
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G01R1/04
- 本实用新型涉及半导体芯片技术领域,且公开了一种半导体芯片的测试平台,包括测试平台主体、限位机构、观察机构、操作机构、收纳机构和支撑机构,所述限位机构位于测试平台主体顶部的前端,所述观察机构位于测试平台主体顶部的后端,所述操作机构位于观察机构左端,所述收纳机构位于限位机构的右端,所述支撑机构位于测试平台主体的底端。该半导体芯片的测试平台,安装了限位机构,对半导体芯片夹紧限位,通过旋转旋钮带动螺栓在螺孔的内部转动与垫片二接触,垫片二的底端放置半导体芯片,继续旋转螺栓,促使半导体芯片与垫片一紧密贴合,以达到对半导体芯片进行限位,且固定板与夹板之间有距离,便于对不同厚度的半导体芯片进行限位。
- 一种半导体芯片测试平台
- [实用新型]一种半导体测试探针-CN202220427304.6有效
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陈煜明;何明锋
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上海纪元微科电子有限公司
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2022-03-01
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2022-08-26
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G01R1/067
- 本实用新型涉及集成电路技术领域的一种半导体测试探针,包括半导体探针本体、第一限位机构、第二限位机构、吸附机构和连接机构,所述第一限位机构位于半导体探针本体的下端,所述第二限位机构位于第一限位机构的下端,所述吸附机构位于半导体探针本体和第一限位机构的外端,所述连接机构位于第一限位机构的下端。本实用新型通过设置第一限位机构,可以对半导体探针本体的上端进行限位,通过设置第二限位机构可以对半导体探针本体的下端进行限位,两个限位机构可以对半导体探针本体的下端进行限位固定,且不需要螺钉等辅助零件对其再进行加固,安装十分迅捷,拆卸也是很简单,吸附机构可以加强半导体探针本体与限位机构之间的紧密性。
- 一种半导体测试探针
- [实用新型]一种多功能的门栓-CN202220429672.4有效
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吴惠平;陈柱;周侃;陈煜明;姜鹏杰
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中亿丰设备租赁有限公司;中亿丰建设集团股份有限公司
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2022-03-01
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2022-08-23
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E05C1/04
- 本实用新型涉及一种多功能的门栓,包括相对滑动的第一门板和第二门板,所述第一门板上设置有锁定片,所述锁定片上设置有非竖向的条孔,所述第二门板上设置有限位片,所述限位片内穿设有横向的插销,所述插销靠近锁定片一端设置有与条孔配合的锁钩,插销中部设置有与锁钩同向的把手,所述把手上开设有定位孔,所述第二门板上还设置有与定位孔配合的定位件;当所述第一门板与第二门板锁闭时,将所述锁钩对齐条孔插入,随后转动所述把手使锁钩与条孔相交进行锁死,同时由所述定位孔套入定位件进行定位。该多功能的门栓整体结构简单,使用方便,制造、使用成本低廉,具有防风、防盗的性能,且适用范围广泛可以用于各种开门方式上。
- 一种多功能
- [实用新型]一种半导体测试治具-CN202220427315.4有效
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陈煜明;何明锋
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上海纪元微科电子有限公司
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2022-03-01
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2022-08-02
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G01R31/26
- 本实用新型涉及半导体技术领域,且公开了一种半导体测试治具,包括支撑机构、安装机构、置放机构、测试机构和限位机构,所述安装机构位于支撑机构上端的左侧,所述置放机构位于支撑机构上端的右侧,所述测试机构位于安装机构的下端,所述限位机构位于支撑机构上端的中部;所述支撑机构包括操作平台和支撑柱,所述支撑柱固定安装在操作平台的下端。该半导体测试治具,进行半导体测试时,限位板将半导体元件限位,而后可将测试笔接触限位槽一和限位槽二裸露位置处进行热敏测试,判定该半导体是否处于正常状态,该限位结构使得测试工作更加精准,体积小的半导体不易受外力作用而发生位置移动,稳定性好,测试效果好。
- 一种半导体测试
- [实用新型]一种半导体加工用测试装置-CN202220431653.5有效
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陈煜明;何明锋
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上海纪元微科电子有限公司
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2022-03-01
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2022-08-02
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G01R1/04
- 本实用新型涉及半导体技术领域,且公开了一种半导体加工用测试装置,包括底座机构、移动机构、翻转机构和检测机构,所述移动机构位于底座机构上端的左右两侧,所述翻转机构位于移动机构的下方,所述检测机构位于移动机构的前端,所述移动机构包括固定块、连接盒、滑槽。该半导体加工用测试装置,通过推动电机带动电动推杆推动滑块,滑块再带动移动块进行滑动,避免了还需手动移动检测机构,提高了便捷性,转轴转动使得安装座和连接卡块进行翻转,再由固定垫将需要检测的半导体进行固定,遇到大小不同的半导体时,将旋转按钮旋转,使得螺杆带动防护垫向前挤压即可进行固定,适用于不同大小的半导体进行固定,且具有翻转效果,提高了检测效率。
- 一种半导体工用测试装置
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