专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于光学俘获的原位校准压电平台位移的方法-CN201410685964.4有效
  • 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 - 中国科学技术大学
  • 2014-11-25 - 2017-11-07 - G01B11/02
  • 本发明提供一种基于光学俘获的原位校准压电平台位移的方法,该方法通过分析光镊系统中被俘获标准尺寸小球的布朗运动的位置信号,可以高精度检测压电平台运动位移幅度和频率。该方法除了需要被检测的压电平台外,还需要在显微成像下利用激光俘获标准微粒,并采用探测器快速探测微粒的位置运动信号。通过压电平台发送低频固定振幅的运动信号驱动样品室运动,光阱中被俘获微粒受到流体周期性粘滞阻力的作用,检测微粒的运动信号可校准位置敏感探测器的电压比例系数。然后再次用压电平台发送信号驱动样品室运动,分析被捕获微粒的功率谱,并将功率谱尖峰与本底热噪声比较反演出压电平台运动位移的真实幅度,尖峰所在频率即为压电平台运动的频率。
  • 一种基于光学俘获原位校准压电平台位移方法
  • [实用新型]一种助眠灯及其操控系统-CN201621188609.7有效
  • 金晓彬;陈安;孙嘉豪;冯省城;钟敏成;张凯智 - 广东工业大学
  • 2016-10-28 - 2017-04-19 - H05B37/02
  • 本实用新型实施例公开了一种助眠灯及其操控系统,用于解决人睡眠质量低下的问题,睡眠质量低下,导致白天精神恍惚,影响学习、工作、生活等方方面面,长此以往可能对人体健康造成很大的危害,导致身体亚健康。本实用新型实施例包括主控单片机和RGB调光电路;所述RGB调光电路与主控单片机进行连接;所述RGB调光电路包括RGB灯珠和调光驱动电路;所述调光驱动电路设置有用于增大驱动电流的N沟道增强型MOS管以及电流检测电路;所述电流检测电路包括运算放大器和低阻值采样电阻,所述运算放大器的一端与所述低阻值采样电阻的一端进行连接,另一端与单片机的ADC端口进行连接。
  • 一种助眠灯及其操控系统
  • [发明专利]基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法-CN201410685961.0有效
  • 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 - 中国科学技术大学
  • 2014-11-25 - 2015-03-04 - G01N15/02
  • 本发明提供一种基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法,该方法在显微镜上拍摄离散的标准尺寸颗粒图像,然后沿x或者y方向测量颗粒边缘的灰度分布曲线与背景灰度水平线的交点的间距,逐行/逐列扫描间距,最大值为该方向上测量的图像直径。沿z方向扫描不同离焦区域,测量颗粒离焦成像时的图像直径,最小的图像直径为颗粒在显微图像上的等效直径。采用测量等效直径的方法,测量一系列尺寸标准颗粒的等效直径,建立颗粒等效直径和真实直径的特征曲线,该曲线表征了拍摄显微图片仪器的测量颗粒的特性。对尺寸落在特征曲线范围内的待测颗粒,直接测量其等效直径,根据特征曲线即可精确地得到未知颗粒的真实直径。
  • 基于显微成像图像灰度测量颗粒粒径方法
  • [发明专利]一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法-CN201410685965.9有效
  • 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 - 中国科学技术大学
  • 2014-11-25 - 2015-02-25 - G01N15/02
  • 本发明提供一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法,该方法分析被光阱俘获颗粒位移的功率谱,该信号包括受限布朗运动对应的洛仑兹分布和受迫运动的尖峰。根据尖峰相对洛仑兹分布围绕的面积与峰的高度,反演该光阱中微粒被位置探测器探测时的电压比例系数,根据标准尺寸微粒粒径,测量粘滞系数与温度的比值。根据粘滞系数与温度的关系,获得光阱中的温度。采集待测微粒在光阱中的受迫运动信号,然后使用功率谱校准探测器对该微粒的电压比例系数。由热噪声的功率谱获得扩散系数,根据标准微粒测量的温度和粘滞系数以及Stokes-Einstein关系即可确定颗粒半径。该方法可以检测出实验环境中单个颗粒的粒径,即可原位高精度检测粒径。
  • 一种基于光学俘获颗粒粒径检测方法
  • [发明专利]一种俘获及探测复用的扫描光镊系统-CN201210037312.0有效
  • 周金华;王自强;钟敏成;周丹丹;李银妹 - 中国科学技术大学
  • 2012-02-17 - 2012-07-04 - G02B21/36
  • 本发明提供一种俘获及探测复用的扫描光镊系统,该系统在物镜后焦面共轭面扫描俘获光束形成扫描光镊;在物镜后焦面收集被俘获小球散射光斑,将物镜后焦面的光斑以共轭成像方式投影到四象限探测器上;俘获光路与探测光路通过半反半透平面镜复用光路;当颗粒偏离光阱中心时改变光斑的对称性,实现对颗粒位移的高精度探测;光镊扫描时颗粒在物镜后焦面光斑的共轭像中心位置的仍在探测器靶面上,从而实现对光束扫描光镊的位移探测。本发明简化传统扫描光镊的系统设计,同时保持在不同扫描位置的光镊探测,达到高精度探测的要求。
  • 一种俘获探测扫描系统

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