专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于存内计算芯片的误差补偿方法、装置、芯片、设备-CN202210357661.4有效
  • 严洪泽;郭昕婕;孙旭光 - 杭州知存智能科技有限公司
  • 2022-04-07 - 2023-04-25 - G06N3/082
  • 本发明实施例提供一种用于存内计算芯片的误差补偿方法、装置、芯片、设备,该方法包括:将样本图像输入目标神经网络模型,将各卷积层输出的特征图作为该卷积层的校准基准;根据对应样本图像的当前卷积层的输入特征图获取对应的索引矩阵;获取存内计算芯片输出的对应所述输入特征图的当前卷积层的计算结果;将所述校准基准与所述计算结果比对后,根据所述索引矩阵以及比对结果生成当前卷积层对应的索引值‑补偿向量对应关系表,用于存内计算芯片在实现目标神经网络模型运算时在其数字域中对模拟域输出的计算结果进行补偿,使存算一体芯片的计算结果更接近无噪声情况下的计算结果。
  • 用于计算芯片误差补偿方法装置设备
  • [发明专利]一种闪存芯片的编程方法及测试方法-CN202211351168.8在审
  • 王春明;李伟民;郭昕婕 - 北京知存科技有限公司
  • 2022-10-31 - 2023-03-14 - G11C16/34
  • 本发明公开了一种闪存芯片的编程方法及测试方法。闪存芯片包括闪存阵列,闪存阵列包括存算单元;编程方法包括至少两次存算编程过程,一次存算编程过程包括:向所有待编程存算单元写入第一编程电压;读取每一待编程存算单元的当前电流;计算每一待编程存算单元的当前电流与对应的第一目标电流的第一差值;将第一差值大于或等于第一预设值的待编程存算单元作为下一存算编程过程的待编程存算单元,并将第二编程电压作为下一存算编程过程的第一编程电压;其中,第二编程电压为当前存算编程过程中第一编程电压调整后的电压。本发明实施例的技术方案减小了对已编程存算单元的干扰。
  • 一种闪存芯片编程方法测试
  • [发明专利]闪存芯片及其编程方法和测试方法-CN202211017547.3在审
  • 王春明;伍峰;郭昕婕 - 北京知存科技有限公司
  • 2022-08-23 - 2022-11-11 - G11C16/14
  • 本发明公开了一种闪存芯片及其编程方法和测试方法。闪存芯片包括控制器和与控制器电连接的闪存阵列,闪存阵列中多个闪存单元阵列排布;闪存芯片还包括:多条控制栅线,每条控制栅线连接一行闪存单元的第一端;多条擦除栅线,每条擦除栅线连接一列闪存单元的第二端;多条选择栅线,每条选择栅线连接一行闪存单元的第三端;控制器用于通过选择栅线向第i行闪存单元提供选择电压,以及通过擦除栅线向第j列闪存单元提供选中电压选中位于第i行第j列的待编程闪存单元时,通过控制栅线向第p行闪存单元提供预设电压,i≥1,j≥1,p≥1,且p不等于i。本发明实施例的技术方案可以减小对已编程的闪存单元产生干扰,提高了编程数据精度。
  • 闪存芯片及其编程方法测试
  • [发明专利]半导体器件阵列-CN202210901208.5在审
  • 王春明;伍峰;郭昕婕 - 北京知存科技有限公司
  • 2022-07-28 - 2022-09-30 - H01L27/11521
  • 本公开涉及半导体技术领域,特别是涉及一种半导体器件阵列。该半导体器件阵列,包括:多个支路,多个支路中的每个支路沿半导体器件阵列的行方向延伸,每个支路包括多个并联的半导体器件;多个源线,多个源线沿第一方向延伸与半导体器件的源极相连;多个字线,多个字线沿第二方向延伸与半导体器件的栅极相连,其中第二方向不同于第一方向。
  • 半导体器件阵列
  • [发明专利]闪存芯片的控制方法、终端-CN201810872085.0有效
  • 王绍迪;郭昕婕 - 北京知存科技有限公司
  • 2018-08-02 - 2020-03-17 - G11C16/10
  • 本发明实施例提供一种闪存芯片的控制方法、终端,涉及闪存技术领域,可以在闪存芯片中直接进行数据的计算,从而分担了处理器的工作,进而提高了整体计算体系结构的性能。闪存芯片的控制方法包括:响应于控制命令中的计算指令,基于地址信号控制闪存模块对待处理数据进行计算;响应于控制命令中的闪存编程指令,基于地址信号控制闪存模块对待处理数据进行数据的写入或擦除;响应于控制命令中的读取指令,基于地址信号对闪存模块中的数据进行读取。
  • 闪存芯片控制方法终端

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