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[发明专利]一种带有自适应交互作用项的多应力加速模型构建方法-CN202210489677.0有效
发明人：叶雪荣;胡义凡;孙承志;陈岑;郑博恺;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种带有自适应交互作用项的多应力加速模型构建方法，所述方法构建了一种带有自适应交互作用项的多应力加速模型，首先根据各加速应力单独作用时产品的物理老化规律确定多应力加速模型中各加速应力的主效应项；然后，将多应力加速模型中的交互作用项量化表征为其他加速应力对当前主效应的影响，并将各主效应项中的特定参数表达为其他多应力变量的函数，其具体函数形式可由极大似然估计过程自适应优化获取，解决了多应力交互作用无法准确量化描述的问题，同时增强了该模型与各类加速试验数据匹配的灵活性和适用性，为产品可靠性评价以及服役过程中的维修策略制定提供重要支撑。
一种带有自适应交互用项应力加速模型构建方法

[发明专利]定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法-CN202210489673.2有效
发明人：叶雪荣;胡义凡;蒋威钧;郑博恺;王梓丞;张东;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法，所述方法包括如下步骤：一：建立温度应力作用下，薄膜老化过程模型；二：建立金属化薄膜电容器随机自愈过程模型；三：建立定量结合多退化机理的退化模型；四：根据金属化薄膜电容器的实际使用需求，给定容值的失效阈值D，推导得到定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器的可靠性模型；五：利用极大似然估计得到未知参数的估计值；将各未知参数估计值代入可靠性模型中，即可实现金属化薄膜电容器的可靠性建模与评估。本发明解决了在金属化薄膜电容器可靠性建模与评估的相关研究中，未曾定量结合多退化机理，进而导致其可靠性建模与评估结果缺乏准确性的问题。
定量结合退化机理金属化薄膜电容器可靠性建模方法

[发明专利]一种基于初值-速率相关退化模型的可靠性评估方法-CN202210459927.6有效
发明人：陈岑;郑博恺;张东;杜俊亮;叶雪荣;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-04-24 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种基于初值‑速率相关退化模型的可靠性评估方法，涉及一种可靠性评估方法。对电子元器件产品开展退化试验，采集退化数据；针对产品的特征参数建立考虑初值与退化速率相关性的退化模型；建立退化模型对应的对数似然函数，确定退化模型中的时间尺度函数形式，并利用极大似然方法估计退化模型中的待定参数；将待定参数估计值代入可靠度函数解析式，得到可靠度函数实现对产品的可靠性评估。将性能参数初值与退化速率的相关性引入电子元器件产品的可靠性评估当中，能够有效提高评估结果的准确度。
一种基于初值速率相关退化模型可靠性评估方法

[发明专利]考虑多应力耦合作用对产品退化影响的可靠性评估方法-CN202210488437.9有效
发明人：叶雪荣;胡义凡;赵子川;陈昊;郑博恺;于松民;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种考虑多应力耦合作用对产品退化影响的可靠性评估方法，所述方法如下：一：建立考虑产品退化速率‑退化波动相关性的性能参数退化模型；二：建立多应力耦合作用对产品退化速率的定量影响关系；三：建立考虑多应力耦合作用对产品退化速率‑退化波动联合影响的加速退化模型；四：推导产品在多应力耦合作用下的失效分布函数和可靠度函数；五：利用极大似然估计，实现耦合作用函数的自适应辨识与未知参数估计；六：将优化得到的最优耦合作用函数与未知参数估计值代入失效分布函数和可靠度函数，实现产品在多应力耦合作用下的可靠性评估。该方法解决了产品可靠性评估过程中多应力耦合作用及其对退化过程的影响无法准确量化描述的问题。
考虑应力耦合作用产品退化影响可靠性评估方法

[发明专利]考虑多源不确定性的多参数相关退化产品可靠性评估方法-CN202110438353.X有效
发明人：叶雪荣;胡义凡;郑博恺;陈岑;冯睿;刘思瑞;张东;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2021-04-22 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：考虑多源不确定性的多参数相关退化产品可靠性评估方法，属于产品性能退化建模与可靠性评估技术领域。方法是：分析产品的任务剖面和失效机理，设计加速退化试验，并对产品的多元性能参数进行测量；针对单一性能参数的退化数据，建立同时考虑多源不确定性和退化过程非线性的边缘退化模型，并在给定失效阈值的情况下，推导失效概率密度函数和失效分布函数的近似解析形式；利用Copula函数建立各性能参数的联合失效分布函数；利用极大似然估计得到各边缘退化模型及Copula函数中的未知参数集合，实现产品可靠性评估。本发明解决了现有的多参数相关退化模型中尚未同时考虑多源不确定性和退化过程非线性的影响，进而导致可靠性评估结果缺乏合理性的问题。
考虑不确定性参数相关退化产品可靠性评估方法

[发明专利]一种重组蛋白的复性方法-CN201710392791.0有效
发明人：齐连权;李晓然;崔颖;王延山;张琪;姜玲;郑博恺 -专利权人：北京泰德制药股份有限公司
申请日： 2017-05-27 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： C07K1/113 文献下载
摘要：本发明属于发酵工业领域，具体涉及一种重组蛋白的复性方法，将重组蛋白的包涵体用变性液充分溶解，离心后取上清液得到变性蛋白液；将变性蛋白液与复性液混合后加入发酵罐；控制发酵罐的温度、pH、搅拌转速同时液面下通入气体复性。本发明使用菌体发酵的发酵罐进行复性，利用发酵罐可对pH、搅拌转速、温度等参数进行监测和记录的功能，不需要单独的设备和混合装置，同时采用液面下通气，并用发酵罐流量计等装置有效控制分压，保证整个复性过程可控，有利于工艺的重复性。与传统的混合复性方式相比，本发明提高了复性工艺的可控性、可追溯性和稳定性，减少了二硫键错配，提升了产品质量，降低了操作难度，并成功实现了复性工艺可放大性。
一种重组蛋白复性方法

[发明专利]一种考虑产品分散性的退化机理辨识方法-CN202110560012.X在审
发明人：陈岑;郑博恺;翟国富;叶雪荣;张东;杨赟;杜俊亮 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种考虑产品分散性的退化机理辨识方法，属于产品加速退化试验领域。该方法首先以Wiener过程为基础，建立考虑产品分散性的退化模型。其次，基于失效激活能不变法，分别建立产品退化机理相同和退化机理变化时对应的对数似然函数。然后，利用加速退化试验数据，应用极大似然估计方法得到上述对数似然函数对应的极大似然函数值。最后，基于似然比检验方法，建立退化机理辨识准测，给出退化机理辨识结果。该方法充分考虑产品退化过程的分散性，能够在已有退化数据的基础上，快速、准确地给出产品退化机理辨识结果。
一种考虑产品分散性退化机理辨识方法

[发明专利]一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法-CN201810470417.2有效
发明人：叶雪荣;林义刚;王清敏;郑博恺;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-05-16 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法确定退化模型中随机影响系数的分布情况；同时基于机电产品试验样本的退化数据，估计出退化模型中固定影响系数的值；最后，根据所确定退化模型函数形式以及随机影响系数与固定影响系数，给出结合制造工艺数据的机电产品退化模型。本发明解决了目前的退化建模方法由于无法对由制造工艺所决定的随机影响系数进行量化表述，而需要对其分布情况进行主观假设的问题。
制造工艺退化模型机电产品影响系数建模固定影响函数形式退化近似建模试验样本输出特性退化机理退化数据量化主观

[发明专利]继电器弹性金属材料加速贮存退化失效机理变化判别方法-CN201711082103.7有效
发明人：翟国富;郑博恺;吴岳;武旸;林义刚;叶雪荣 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2017-11-01 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明提供一种继电器弹性金属材料加速贮存退化失效机理变化判别方法，包括如下步骤：对触簧系统弹性金属材料进行贮存退化试验并加测应力松弛数据；建立继电器动态特性仿真模型；通过修改模型的方式将弹性金属材料的贮存退化注入到仿真模型中，实现继电器的贮存退化仿真；基于所获取的仿真贮存退化数据及贮存失效阈值，估计不同应力等级下的继电器贮存伪寿命；根据失效机理一致判别准则及继电器贮存伪寿命，判断不同加速应力等级下继电器的贮存退化失效机理是否发生改变。本发明所提方法能够准确找出导致继电器贮存失效机理改变的加速应力等级，可为确定继电器产品加速贮存试验中所能够加载的最大加速应力等级提供依据。
继电器弹性金属材料加速贮存退化失效机理变化判别方法

[发明专利]结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法-CN201810725455.8在审
发明人：翟国富;林义刚;郑博恺;付饶;司爽 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过建立继电器有限元仿真模型，结合工艺数据，获得继电器输出特性初始分布；然后，通过对继电器进行失效模式及失效机理分析，结合继电器输出特性初始分布及贮存退化试验实测数据，建立具有分布特性的继电器贮存退化模型，结合电路仿真分析方法将底层继电器的贮存退化数据转换为继电器类单机贮存退化数据；最后，利用最小二乘方法，得到继电器类单机分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对继电器类单机的贮存可靠性评估。本发明解决了因试验经费及试验样本制约而导致的继电器类单机贮存可靠性评估精度较低的问题。
继电器贮存单机可靠性评估初始分布输出特性退化数据制造工艺失效机理分析结合继电器电路仿真仿真模型分布参数分布特性工艺数据失效模式实测数据试验样本退化轨迹退化模型最小二乘试验退化转换制约分析

[发明专利]结合工艺及可靠性框图的继电器类单机贮存可靠性评估方法-CN201810726728.0在审
发明人：叶雪荣;林义刚;郑博恺;司爽;翟国富 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法将从厂家调研的工艺数据注入到所建立的继电器有限元仿真模型中，得到其输出特性初始分布特性；通过分析继电器类单机实际出现的失效模式及失效机理，建立基于失效物理的退化模型，结合继电器初始分布特性及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的继电器输出特性退化模型；将失效阈值带入继电器输出特性退化模型中，得到继电器贮存可靠度数据，并带入所建立的继电器类单机贮存可靠性框图中，实现对继电器类单机贮存可靠度的评估。本发明解决了小子样问题下继电器类单机贮存可靠性评估准确度低的问题。
继电器贮存单机可靠性评估输出特性退化模型初始分布可靠度分析继电器结合继电器准确度仿真模型分布特性工艺数据失效机理失效模式实测数据退化评估试验

[发明专利]结合制造工艺及仿真的电子类单机贮存可靠性评估方法-CN201810725454.3在审
发明人：翟国富;叶雪荣;郑博恺;司爽;林义刚 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元，并对其进行失效模式及失效机理分析，结合关键底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立关键底层单元贮存退化模型，将其带入电子类单机功能仿真模型中得到电子类单机输出特性参数的贮存退化数据，利用最小二乘方法得到电子类单机输出特性参数的贮存退化模型，带入失效阈值，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明为电子类单机的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。
单机贮存可靠性评估底层单元仿真模型输出特性单机功能退化模型退化数据制造工艺加速贮存试验失效机理分析灵敏度分析多物理场工艺数据失效模式影响电子最小二乘耦合模型实测

[发明专利]结合制造工艺及仿真的滚控电子模块贮存可靠性评估方法-CN201810726727.6在审
发明人：翟国富;郑博恺;司爽;林义刚;叶雪荣 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的滚控电子模块贮存可靠性评估方法，所述方法首先通过建立滚控电子模块功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响滚控电子模块输出特性的底层关键元器件；然后结合失效模式及失效机理分析、输出特性参数初始分布及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的底层关键元器件贮存退化数据，并将其注入滚控电子模块功能仿真模型中，得到滚控电子模块输出特性参数的贮存退化数据；最后利用最小二乘方法，得到滚控电子模块分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对滚控电子模块的贮存可靠性评估。本发明为滚控电子模块的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。
电子模块贮存可靠性评估输出特性关键元器件功能仿真退化数据制造工艺失效机理分析灵敏度分析初始分布分布参数分布特性失效模式实测数据退化轨迹最小二乘对滚退化试验

[发明专利]结合工艺及可靠性框图的滚控电子模块贮存可靠性评估方法-CN201810726726.1在审
发明人：翟国富;郑博恺;司爽;林义刚;叶雪荣 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的滚控电子模块贮存可靠性评估方法，所述方法首先通过建立滚控电子模块功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响滚控电子模块输出特性的底层关键元器件；然后，结合失效模式及失效机理分析、输出特性参数初始分布及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的底层关键元器件贮存退化数据；最后，结合失效阈值及所建立的滚控电子模块可靠性框图中，得到滚控电子模块贮存可靠度。本发明解决了小子样问题下滚控电子模块贮存可靠性评估准确度低的问题，为滚控电子模块的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。
电子模块贮存可靠性评估关键元器件输出特性失效机理分析灵敏度分析准确度初始分布分布特性功能仿真失效模式实测数据退化数据可靠度退化试验

[发明专利]结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法-CN201810726731.2在审
发明人：翟国富;叶雪荣;郑博恺;司爽;林义刚 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元；然后，对关键底层单元进行失效模式及失效机理分析，结合底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立具有分布特性的底层单元贮存退化模型；最后，通过可靠性框图对电子类单机结构特征进行描述，并将各底层单元贮存失效率注入其中，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明解决了因进行加速贮存试验时电子类单机样本量过小，而导致的贮存可靠性评估结果准确度较低的问题。
贮存单机底层单元可靠性评估加速贮存试验仿真模型失效机理分析结果准确度灵敏度分析单机功能单机结构多物理场分布特性工艺数据失效模式输出特性退化模型退化数据影响电子耦合模型失效率样本量实测

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