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[发明专利]分子筛工艺条件的生成方法和系统-CN202110557453.4在审
发明人：廖鹏;辛佳德;杜文莉;韦章鹏;彭鑫 -专利权人：华东理工大学
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G16C20/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种分子筛工艺条件的生成方法和系统。方法包括如下的步骤：S1：配置合成分子筛的工艺条件的多个初始参数以及所述分子筛的预期表征，并配置算法参数；S2：初始化种群以生成父代种群，并计算所述父代种群中每个个体的适应值；S3：生成变异种群和子代种群；S4：判断当前迭代次数是否达到最大附迭代次数；S5：计算所述子代种群中每个个体的适应值，并在所述父代种群和所述子代种群中选择新父代种群；以及S6：判断当前迭代次数是否达到最大主迭代次数直至输出所述最优工艺条件。本发明的一种分子筛工艺条件的生成方法和系统可以方便高效地获得符合预期的分子筛工艺条件。
分子筛工艺条件生成方法系统

[发明专利]基于粒子群算法的分子筛工艺条件的生成方法和系统-CN202110559752.1在审
发明人： 辛佳德;廖鹏;杜文莉;彭鑫;韦章鹏 -专利权人：华东理工大学
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于粒子群算法的分子筛工艺条件的生成方法和系统。方法包括如下的步骤：S1：配置合成分子筛的工艺条件的多个初始参数以及所述分子筛的预期表征，并配置算法参数；S2：初始化粒子群以生成初始粒子群，并计算所述初始粒子群中每个个体的适应值，确定群体最优值和个体最优值；S3：更新速度和位置，获得更新粒子群；S4：判断当前迭代次数是否达到最大附迭代次数；S5：计算更新粒子群中每个个体的适应值并选择最优值；以及S6：判断当前迭代次数是否达到最大主迭代次数直至输出所述最优工艺条件。本发明的一种基于粒子群算法的分子筛工艺条件的生成方法和系统可以方便高效地获得符合预期的分子筛工艺条件。
基于粒子算法分子筛工艺条件生成方法系统

[发明专利]基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统-CN202110559942.3在审
发明人： 辛佳德;杜文莉;彭鑫;韦章鹏;贺嵩 -专利权人：华东理工大学
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统。分类方法包括如下的步骤：构建SEM图像样本库；基于经过类别标注的多个SEM图像的全部或其中一部分，构建SEM图像类别数据集；构建残差网络图像分类模型，并根据SEM图像类别数据集中的SEM图像对残差网络图像分类模型训练；以及利用训练后的残差网络图像分类训练模型对多个SEM图像和/或重新拍摄的分子筛SEM图像进行分类。本发明的一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统可以简单方便并且高准确性的对分子筛图像质量和形貌进行筛选分类。
基于网络分子筛 sem 图像分类方法系统