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- [实用新型]一种可收纳压感笔的数位屏-CN202321029196.8有效
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赵勋友;赵山;唐佩琳
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上海倍熠电子科技有限公司
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2023-04-28
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2023-10-24
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G06F3/041
- 本实用新型公开了一种可收纳压感笔的数位屏,包括数位屏主体,所述数位屏主体的外部设置有框架,所述框架的左端设置有收纳盒,且收纳盒与框架固定连接,所述收纳盒的后端设置有放置孔,所述收纳盒的后端设置有橡胶盖,且橡胶盖与放置孔密封连接,所述框架的右端设置有放置盒,所述放置盒的内部设置有第二放置槽,通过收纳盒与放置盒的配合,将收纳盒上端的橡胶盖打开,就可以将压感笔放进收纳盒的内部,同时压感笔插进连接孔的内部,通过连接套与连接孔连接,取出时,只需滑动滑块,即可将压感笔取出,同时在使用时,通过将放置盒夹持在数位屏上,使用过程中即使需要休息,也可以将压感笔放置于第二放置槽的内部。
- 一种收纳压感笔数位
- [发明专利]光通讯用芯片测试设备-CN202310846110.9在审
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2021-11-09
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2023-10-10
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G01R31/28
- 本发明公开一种光通讯用芯片测试设备,包括:测试机台、安装于测试机台上表面的测试机构和分别位于测试机构两侧并用于装载待测试芯片的上料座、下料座,其运料机构包括:基座、竖直安装于基座上的第一电机、水平滑台、转接板、第二电机和吸嘴杆,一位于第一电机下方的固定座安装于基座上,所述固定座的上方设置有夹持条、弧形齿条,此夹持条的前端与所述吸嘴杆上端夹持连接,夹持条的后端与弧形齿条通过一连杆连接,所述弧形齿条与第一电机输出轴上的齿轮啮合连接,且此弧形齿条的圆心与吸嘴杆的轴心重叠。本发明提高了对待测试芯片的角度进行计算、调整的精度以及在长时间高频使用后保持精度的稳定性,从而提高了对芯片测试的精度和稳定性。
- 通讯芯片测试设备
- [发明专利]一种线束批量快速折弯装置-CN202310677845.3有效
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张健;李志;赵山
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帕爱丝电子技术(徐州)有限公司
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2023-06-09
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2023-09-26
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B21F1/00
- 本发明涉及线束加工技术领域,具体提出了一种线束批量快速折弯装置;包括工作台,所述工作台上装配有用于线束折弯成型的折弯成型机构以及用于折弯成型线束进行卸料的顶升卸料机构;所述工作台上装配有多个成型引导块;本发明通过设置的折弯成型机构对线束进行施力折弯,且通过与折弯成型机构配合设置的多个成型引导块在线束折弯时进行辅助引导成型,从而可对线束进行批量化一体快速折弯成型,即可对其中部分所需的规范结构的折弯线束结构进行预制折弯成型,可替代人工部分临时折弯操作,可用于人工布线时进行临时截断随取随用,提高了线束使用的灵活性和便捷性,提高了线束装配的布线效率。
- 一种批量快速折弯装置
- [发明专利]基于系统元数据的检索方法及系统-CN202310636696.6在审
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孙绪波;高传集;赵山
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浪潮云信息技术股份公司
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2023-05-30
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2023-09-01
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G06F16/2457
- 本发明公开了基于系统元数据的检索方法及系统,属于数据检索技术领域,要解决的技术问题为如何可配置、高效的对业务系统中数据进行检索。包括如下步骤:获取并配置元数据:配置数据源信息,将基于数据源信息获取的元数据存储于元数据数据库中,并对元数据进行配置,所述元数据包括数据源下所有表的表信息以及每个表下的字段信息;配置数据源同步信息:选择数据源和目标源,配置数据源和目标源之间同步方式,通过数据源同步工具实现数据源和目标源之间的数据同步;数据检索:基于关键词以及数据时间范围,对目标源进行数据检索,通过索引对检索结果数据进行分组展示,并通过元数据对检索结果数据进行二次过滤。
- 基于系统数据检索方法
- [实用新型]一种晶圆级可靠性测试装置-CN202320107218.1有效
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廉哲;徐鹏嵩;赵山;郭孝明;黄建军
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2023-02-03
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2023-09-01
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G01R31/26
- 本实用新型提供了一种晶圆级可靠性测试装置,属于晶圆级可靠性测试结构技术领域。该晶圆级可靠性测试装置包括多个探针以及依次层叠布置的电路板、探针安装座和柔性绝缘板;其中,所述探针安装座设置有多个探针安装孔;所述柔性绝缘板远离所述探针安装座的一侧与待测晶圆片贴合,所述柔性绝缘板设有与每一所述探针安装孔一一对应的探针过孔;每一对应的所述探针安装孔和所述探针过孔内充有高压气体;每一所述探针安装于每一对应的所述探针安装孔和所述探针过孔内,每一所述探针的一端与所述电路板连接、另一端与所述待测晶圆片的每一晶粒连接。本实用新型的晶圆级可靠性测试装置能够保证对待测晶圆片上的晶粒批量测试时所需要的气压值。
- 一种晶圆级可靠性测试装置
- [发明专利]光通讯用芯片测试设备-CN202111318464.3有效
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黄建军;吴永红;赵山;胡海洋
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2021-11-09
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2023-08-08
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G01R31/28
- 本发明公开一种光通讯用芯片测试设备,包括:测试机台、安装于测试机台上表面的测试机构和分别位于测试机构两侧并用于装载待测试芯片的上料座、下料座,其运料机构包括:基座、竖直安装于基座上的第一电机、水平滑台、转接板、第二电机和吸嘴杆,一位于第一电机下方的固定座安装于基座上,所述固定座的上方设置有夹持条、弧形齿条,此夹持条的前端与所述吸嘴杆上端夹持连接,夹持条的后端与弧形齿条通过一连杆连接,所述弧形齿条与第一电机输出轴上的齿轮啮合连接,且此弧形齿条的圆心与吸嘴杆的轴心重叠。本发明提高了对待测试芯片的角度进行计算、调整的精度以及在长时间高频使用后保持精度的稳定性,从而提高了对芯片测试的精度和稳定性。
- 通讯芯片测试设备
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