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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[外观设计]玩具（拼音早教机）-CN202230392218.1有效
发明人： 许佳锋 -专利权人：深圳市卓俊文化科技有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： 21-01 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：玩具（拼音早教机）。2.本外观设计产品的用途：用于儿童娱乐玩耍。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
玩具拼音早教机

[实用新型]碳化硅晶片蚀刻治具-CN202221163502.2有效
发明人：侯勇;蔡文必;蔡少忠;许佳锋 -专利权人：福建北电新材料科技有限公司
申请日： 2022-05-16 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： C30B33/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体制备工装技术领域，具体而言，涉及一种碳化硅晶片蚀刻治具；碳化硅晶片蚀刻治具包括：施力机构和托盘，托盘包括托盘本体和挡件，挡件可活动地设置于托盘本体，且挡件用于界定放置口的口径大小，施力机构与挡件传动连接，用于驱动挡件在第一位置和第二位置之间切换；在挡件位于第一位置的情况下，放置口的口径为第一口径；在挡件位于第二位置的情况下，放置口的口径为第二口径；其中，第一口径大于第二口径。本实用新型的碳化硅晶片蚀刻治具在进行碳化硅晶片的蚀刻时便于操作。
碳化硅晶片蚀刻

[实用新型]一种碳化硅晶体尺寸检测装置-CN202220736972.7有效
发明人：沈艳;蔡文必;裴斌;徐谭阳;许佳锋 -专利权人：福建北电新材料科技有限公司
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种碳化硅晶体尺寸检测装置，涉及半导体技术领域，该碳化硅晶体尺寸检测装置包括底座、支架、托盘及高度检测器，高度检测器包括第一检测件及第二检测件，第二检测件设置于第一检测件内且该第二检测件能露出于第一检测件，第一检测件用于检测碳化硅晶体的最大高度尺寸，第二检测件均用于检测碳化硅晶体预设直径标记处的的最小高度尺寸。仅通过一台检测机器同时对晶体的最大高度及预设直径标记处的最小高度的检测，避免使用两台不同的仪器对碳化硅晶体进行检测，不仅增大了检测效率，也减小了检测误差。
一种碳化硅晶体尺寸检测装置

[实用新型]原子力显微镜测试设备-CN202122472996.4有效
发明人：杨艺松;蔡文必;陈兴福;许佳锋;李思娜 -专利权人：福建北电新材料科技有限公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01Q60/26 文献下载
摘要：本申请提供一种原子力显微镜测试设备，包括机架、载台和限位件，载台与机架连接，载台设置有用于承载待测试件的承载面，承载面上设置有标识部。限位件与机架或载台活动连接且凸出承载面，限位件能沿承载面运动至标识部以用于与待测试件抵持。该测试设备通过限位件限位衬底，有效改善衬底在放置于载台的过程中滑离载台的情况，降低衬底被损坏的概率，降低成本；同时，依据标识部所在位置调节限位件相对于承载面的位置，操作便捷，效率高，准确性高。
原子显微镜测试设备

[发明专利]检测装置-CN202110856396.X在审
发明人：罗思瑶;张洁;蔡少忠;沈艳;许佳锋 -专利权人：福建北电新材料科技有限公司
申请日： 2021-07-28 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种检测装置，涉及晶锭质量检测技术领域，该检测装置包括支架、槽体和转动机构，支架开设有槽体，槽体用于放置待测晶锭；转动机构位于槽体内，用于抵持待测晶锭。驱动机构用于驱动转动机构转动，以使转动机构带动待测晶锭转动。由此，在进行晶锭的外观质量检测时，可以将待测晶锭放置在槽体中，使得晶锭侧面抵持于转动机构，以此通过驱动机构驱使转动机构转动，转动机构就能够带动待测晶锭转动，使得紫外线灯照射待测晶锭的侧面的不同区域，避免了工作人员的手部与紫外线光的直接接触，从而能够防止工作人员的手部受伤，更加安全。
检测装置

[实用新型]碳化硅晶型检验装置-CN202120826756.7有效
发明人：蔡少忠;张洁;张煌珊;许佳锋 -专利权人：福建北电新材料科技有限公司
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型涉及实验设备技术领域，具体而言，涉及一种碳化硅晶型检验装置。碳化硅晶型检验装置包括拍照箱、拍照相机、拍照光源、托盘和控制单元；拍照箱围合形成用于拍照的暗室空间；托盘可转动地设置在拍照箱中，托盘用于承载晶体；拍照光源和拍照相机均设置在拍照箱中，控制单元与拍照相机连接以操控拍照相机对托盘上的晶体进行拍照。能够通过自动拍照进行UV灯照射检验。
碳化硅检验装置

[实用新型]自动计时蚀刻装置和蚀刻平台-CN202023339455.6有效
发明人：蔡少忠;张洁;张煌珊;李思娜;许佳锋 -专利权人：湖南三安半导体有限责任公司
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请提供的一种自动计时蚀刻装置和蚀刻平台，涉及半导体生产技术领域。该自动计时蚀刻装置包括驱动件、升降单元、托架和控制器，驱动件与升降单元连接，托架与升降单元连接，托架用于安装蚀刻样品，控制器与驱动件连接，用于控制驱动件将托架移动至蚀刻溶液中，控制器还用于对托架置于蚀刻溶液中的蚀刻时长进行计时。能够精确控制蚀刻样品即晶片的蚀刻时长，提高蚀刻效率和质量，从而提高晶片质量判断的精确度，缩短生产排程，提升生产效率和生产质量。
自动计时蚀刻装置平台

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