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[发明专利]一种显示面板不良的解析方法及装置-CN202010488823.9有效
发明人：张巧飞;蔡荣茂;庄益壮;张小新 -专利权人： TCL华星光电技术有限公司
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
一种显示面板不良解析方法装置

[发明专利]显示装置不良解析方法-CN201810068962.9有效
发明人：曾宝丹;蔡荣茂;陈清清 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2018-01-24 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明提供一种显示装置不良解析方法。所述显示装置不良解析方法通过一条第一金属线将出现不良的第二金属线借线连接到一条正常显示的第二金属线上，以将出现不良的第二金属线的输入信号替换该条正常显示的第二金属线的原有输入信号输入到该条正常显示的第二金属线中，若正常显示的第二金属线变成显示不良，则可以判定所述显示装置出现显示不良的原因位于显示区外，否则显示装置出现显示不良的原因位于显示区内，能够提升显示装置的不良解析效率，改善显示装置不良解析的准确。
显示装置不良解析方法

[发明专利]一种液晶显示面板及装置-CN201811191591.X在审
发明人：曾宝丹;张小新;蔡荣茂;庄益壮;陈清清 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2018-10-12 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G02F1/1339 文献下载
摘要：本发明提供一种液晶显示面板及装置，该液晶显示面板包括：阵列基板和彩膜基板，所述阵列基板和所述彩膜基板均具有一框胶区域，所述阵列基板的框胶区域的每条边的外侧和/或所述彩膜基板的框胶区域的每条边的外侧均设置有凹槽，且所述凹槽的长度与液晶显示面板对应边的长度相等。本发明的液晶显示面板及装置，能够防止液晶显示面板腐蚀，提高了产品的使用寿命。
液晶显示面板彩膜基板框胶区域阵列基板条边长度相等使用寿命腐蚀

[发明专利]一种液晶气泡分析方法及分析装置-CN201811208045.2在审
发明人：陈清清;张小新;蔡荣茂;庄益壮;卢文平 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2018-10-17 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种液晶气泡分析方法，包括：将液晶面板放置于暗室内；打开发光件，将有液晶气泡的位置对位到发光件的出光口，发光件的出光口发出的入射光穿过液晶气泡后射出液晶面板；通过量测机构测量记录入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度，所述入射角度所对应的数据和所述出射角度所对应的数据用于计算所述液晶气泡的成分。有益效果：通过比对入射角度和出射角度，从而计算确定液晶气泡成分，准确性较高，可有效确认面内液晶气泡成分，从而利于对液晶气泡异常的改善。
液晶气泡液晶面板发光件入射角出射出光口入射光射出测量记录分析装置比对对位射入穿过分析室内

[发明专利]显示面板不良的解析方法-CN201711488759.9在审
发明人：薛永涛;蔡荣茂;庄益壮 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：提供了一种显示面板不良的解析方法，所述解析方法包括观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。所述解析方法能够减少解析过程中所花费的时间，降低解析失败概率，同时提高解析准确度。
显示面板不良解析方法

[发明专利]一种TFT-LCD阵列基板及其测试方法-CN201210335918.2有效
发明人：文松贤;蔡荣茂;廖学士;庄益壮;邓明锋 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-09-12 - 公布日： 2015-02-18 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有栅线和数据线，所述外围区域内设置有：第一测试短棒，其上设置有多条测试线，用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号；第二测试短棒，其上设置有栅线测试线，用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。本发明还公开了相应的测试方法。实施本发明的实施例，可以实现对TFT-LCD阵列基板进行两次测试。
一种 tft lcd 阵列及其测试方法

[发明专利]液晶显示器-CN201210538843.8有效
发明人：邓明锋;蔡荣茂;庄益壮;文松贤 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-12-13 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明公开了一种液晶显示器，所述液晶显示器包括至少一条修补线、短接棒区、数据线焊盘、多条用于测试时连接短路棒区的短路棒和数据线焊盘的测试线、走线区、显示区、多条穿过走线区和显示区的数据线，所述数据线的第一端与数据线焊盘电连接，第二端延伸到显示区的下方，所述修补线包括与测试线绝缘交叉的第一部分、与数据线的第二端绝缘交叉的第二部分以及修补时连接第一部分和第二部分的第三部分。本发明在不大大增加液晶显示器的生产成本的情况下，实现了液晶显示器的液晶面板的显示区和走线区的数据线的断线修补。
液晶显示器

[发明专利]一种液晶模组及液晶显示器-CN201310006909.3有效
发明人：庄益壮;蔡荣茂;廖学士;文松贤;邓明锋 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2013-01-09 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种液晶模组，至少包括：背板，其包括有竖板；胶框，设置于所述背板的竖板上，用于支撑液晶面板；转接件，设置于所述胶框上方，其一侧面抵靠所述液晶面板的边缘，其与所述胶框的固定位置可以调节；前框，设置于所述转接件上方，与所述转接件固定连接，并覆盖所述液晶面板的四周。本发明实施例相应提供了一种采用上述液晶模组的液晶显示器。根据本发明的实施例，通过该转接件可以很方便地调节外框与液晶面板的相对位置，从而避免由于组装原因导致的显示区域的偏差，使液晶模组的显示区域以及外露的遮光层区域处于稳定的水平上，从而保证液晶模组的显示效果。
一种液晶模组液晶显示器

[发明专利]ESD保护芯片数码显示检测系统-CN201210483171.5有效
发明人：黄笑宇;邓明锋;蔡荣茂 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-11-23 - 公布日： 2013-02-20 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明提供一种ESD保护芯片数码显示检测系统，包括：LVDS接口、显示系统、第一、第二及第三数据线路、电源及电阻，所述第一、第二及第三数据线路一端与LVDS接口电性连接，另一端与显示系统电性连接的，该显示系统包括：逻辑运算模块及与逻辑运算模块电性连接的数码显示模块，该逻辑运算模块与第一、第二及第三数据线路电性连接，当ESD保护芯片电性连接于该LVDS接口时，该逻辑运算模块采集该第一、第二及第三数据线路上的信号，并经过逻辑运算后驱动该数码显示模块显示字符，通过该显示信息可确定所述ESD保护芯片的连接是否异常，利用该数码显示检测系统可以提高产品合格率，节省生产成本，避免不良品给客户带来损失。
esd 保护芯片数码显示检测系统

[发明专利]偏光片去除刀具及去除方法-CN201210491151.2有效
发明人：庄益壮;蔡荣茂;廖学士;文松贤;邓明锋 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-11-27 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：本发明提供一种偏光片去除刀具及去除方法，所述刀具包括：刀柄及安装于刀柄上的刀片，所述刀柄包括本体、安装于本体上的活塞装置及安装于本体上的导管，所述本体内部设有一用于存储溶胶液体的管道，所述活塞装置安装于该管道内，所述导管一端与管道连通，另一端抵靠于刀片上，进而将存储于管道内的溶胶液体疏导于刀片上。本发明的偏光片去除刀具及去除方法，通过在刀具上设置活塞装置及溶胶液体，在去除偏光片时通过导管将存储于刀柄内的溶胶液体疏导于刀片上，再流动至贴合胶上以溶解贴合胶，使得偏光片较易去除，有效缩短偏光片去除时间，提高去除效率及去除效果。
偏光去除刀具方法

[发明专利]一种压力点检查装置-CN201210406628.2有效
发明人：段惠芳;张小新;蔡荣茂;黄俊杰;金昊;黄炳成 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-10-23 - 公布日： 2013-02-06 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种压力点检查装置，可同步按压在液晶显示面板的多个压力点上，用以检查画面显示情况，其特征在于，所述压力点检查装置包括：横向调节板，所述横向调节板至少包括第一横板和第二横板；交叉装设在所述横向调节板上的纵向调节板，所述纵向调节板至少包括可分别进行折叠的第一竖板和第二竖板，其中：在所述横向调节板和/或所述纵向调节板上装设多个检测头，所述第一横板和所述第二横板之间的纵向间距设置可调，所述第一竖板和所述第二竖板之间的横向间距设置可调。实施本发明的压力点检查装置，能够节约按压检查液晶显示面板上压力点的时间，提升检测效率；还可以避免造成漏检。
一种压力检查装置

[发明专利]一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的装置及方法-CN201210282018.6有效
发明人：邓明锋;蔡荣茂;文松贤;庄益壮 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-08-09 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的装置，包括：连接器，用于与液晶显示器中专用集成电路芯片ASIC的信号输入端连接器进行插拨连接；检测电路，设置在所述连接器上，用于检测静电放电保护芯片是否正确焊接在所述ASIC上，并在所述静电放电保护芯片焊接异常时进行提示。相应地，本发明实施例还公开了一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的方法。实施本发明，可以快速检测静电放电保护芯是否焊接异常，且准确率高，能够节省人力物力成本以及减少在产品成品装配时产生不良率的损失。
一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常装置方法

[发明专利]测试装置及测试方法-CN201210276942.3有效
发明人：文松贤;蔡荣茂;廖学士;庄益壮;邓明锋 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-08-06 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置及测试方法。测试方法包括：提供一测试装置；接合测试装置的连接端子于显示面板的信号线上；以及由测试装置的测试点来输入测试信号至显示面板的信号线。本发明可不需设置测试线于显示面板上。
测试装置方法

[发明专利]一种检测电路及检测方法-CN201210286432.4有效
发明人：庄益壮;邓明锋;蔡荣茂;廖学士;文松贤 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-08-13 - 公布日： 2012-11-28 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开一种检测电路及检测方法。一种用于检测ESD保护器件焊接倒置的检测电路，所述ESD保护器件包括第一二极管、第二二极管和第三二极管，所述第一二极管、第二二极管和第三二极管的负极相互连接，所述第三二级管的正极通过分压电阻耦合到电路的接地端；所述检测电路包括比较器，所述比较器设有连接基准电压的第一输入端，以及耦合到所述第三二级管正极的第二输入端，所述比较器的输出端耦合到报警装置。本发明能自动识别ESD保护器件是否焊接倒置。
一种检测电路方法

[发明专利]液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法-CN201210111153.4有效
发明人：庄益壮;蔡荣茂;廖学士;文松贤;邓明锋;黄俊杰 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2012-04-16 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明公开一种液晶显示面板配线区线路结构及显示面板测试方法，其线路结构包括与对应的数据线和扫描线的一端连接的配线、信号测试点、连接在配线与信号测试点之间的第一测试线、对应连接在数据线和扫描线的另一端与信号测试点之间的第二测试线，以及与第二测试线连接、用于控制测试信号由信号测试点进入显示面板的显示区的路径的开关控制电路。本发明在先前制程中切断测试线与配线连接部分后，仍可从数据线和扫描线的另一端将来自信号测试点的测试信号输入到显示区，驱动显示面板进行显示，达到对显示面板进行测试的目的，避免了现有技术中由于测试线与配线连接部分切断而无法再次通过成盒工艺中的画面检测机进行检测对责任的厘清造成的困扰。
液晶显示面板配线区线路结构测试方法

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