专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种AOI检测方法及装置-CN202310728623.X在审
  • 柴新玉;肖治祥;王永坤;刘强;刘飞;朱涛 - 苏州精濑光电有限公司
  • 2023-06-19 - 2023-10-27 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种AOI检测方法及装置,属于显示面板检测技技术领域,该检测方法的步骤如下:将待检测显示面板取出,对待检测显示面板进行清洗;将清洗完毕的待检测显示面板进行检测和分级,得到分级后的已检测显示面板和对应该已检测显示面板的分级信息;存放将已检测显示面板;将已检测显示面板取出下料。同时,还对应该检测方法公开了AOI检测装置,以实现对显示面板的检测。本发明公开的一种AOI检测方法,不仅能实现对显示面板自动化的准确检测以及分类,进而确保显示面板检测的高效性,还能够实现在进行显示面板检测过程中的全自动化的上下料,显著提升了显示面板分级检测的工作效率,降低显示面板的生产制备成本。
  • 一种aoi检测方法装置
  • [发明专利]一种光学检测装置及光学检测方法-CN201710439179.4有效
  • 颜圣佑;朱志飞;郭连俊;许玉佩 - 苏州精濑光电有限公司
  • 2017-06-12 - 2023-10-27 - G01N21/95
  • 本发明涉及光学检测技术领域,具体地指一种光学检测装置及光学检测方法。包括用于承载显示面板的面板载台和采集显示面板图像信息的图像摄取单元;所述的图像摄取单元悬置于面板载台上方,可沿平行显示面板的方向行进对显示面板进行扫描,其特征在于:所述的面板载台上设置有可驱动面板载台旋转使承载于面板载台上的显示面板转动一预设角度的旋转控制单元;所述的预设角度与图像摄取单元的行进扫描方向和转动后的显示面板的中轴线之间的夹角相等。本发明的光学检测方法简单、准确,能够快速的将制程异常和光学噪声造成的异常等区分开来,为后续工作提供了有效的指导,具有极大的推广价值。
  • 一种光学检测装置方法
  • [发明专利]一种自动光学检测装置及其检测方法-CN202310841731.8在审
  • 王彬;朱涛;还传一;鄂健宇 - 苏州精濑光电有限公司
  • 2023-07-10 - 2023-10-24 - G01M11/02
  • 本发明提供了一种自动光学检测装置及其检测方法,属于显示面板的自动光学检测领域,其包括工作台单元、自动压接点亮载台和检测单元,工作台单元包括工位载台,工作台单元上设置有至少三个工位,工位载台能来回往返在所有工位间移动,每个工位载台上方均设置有自动压接点亮载台,自动压接点亮载台包括承载部件和压接驱动模组,承载部件能用于放置待测显示面板,压接驱动模组能升降,且在降落时下压连通待测显示面板,从而点亮待测显示面板,检测单元设置在工作台单元上,用于在待测显示面板被点亮后执行检测。本发明装置能实现对待测显示面板的全自动压接点亮,能替换目前的全人工检测,检测效率和可靠性大大提高。
  • 一种自动光学检测装置及其方法
  • [发明专利]一种自动光学检测的压接点亮载台以及工作方法-CN202310841220.6在审
  • 王希;翟超;浦佳 - 苏州精濑光电有限公司
  • 2023-07-10 - 2023-10-24 - G01M11/02
  • 本发明提供了一种自动光学检测的压接点亮载台以及工作方法,属于显示面板自动光学检测领域,其包括承载部件、压接驱动模组和温控平台,温控平台设置在承载部件上并裸露其工作台面,工作台面用于承载待测显示面板并给待测显示面板加热以使其处于设定的温度范围内,压接驱动模组受承载部件支撑并位于承载部件上方,压接驱动模组能升降,且在降落时下压连通待测显示面板,从而点亮待测显示面板。本发明装置能实现压接驱动模组自动插接并点亮待测显示面板,其插接和点亮为全自动过程,能替换现有的人工操作,整个过程稳定可靠,并且是模拟显示面板实际工作温度下的检测,检测结果更为准确和真实。
  • 一种自动光学检测接点亮载台以及工作方法
  • [发明专利]一种发光芯片分选方法及装置-CN202310699064.4在审
  • 胡朝阳;叶坤;王宏丽;周金金 - 苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-10-24 - B07C5/34
  • 本发明提供一种发光芯片分选方法及装置,属于芯片分选术领域,所述方法包括:根据晶圆的扫描图像,获取位于所述晶圆上的发光芯片的机械坐标;利用种子填充算法对所述扫描图像进行处理,结合所述发光芯片的实际间距和大小,确定所述机械坐标对应的原始文档中的工艺坐标;根据工艺坐标,从原始文档中确定所述发光芯片对应的BIN等级信息;将所述机械坐标与BIN等级信息进行关联绑定,以实现所述发光芯片的分选。本发明通过扫描图像获取晶粒的机械坐标,利用图形学当中的种子填充算法,再结合晶圆蓝膜上Die的实际间距和大小,进行筛选和排列,以确定对应的工艺坐标;实现BIN等级信息的绑定,提高了分选的效率,使得生产效率大大提升。
  • 一种发光芯片分选方法装置

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