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[发明专利]空中下载（OTA）芯片测试系统-CN202180028852.X在审
发明人： M·安德斯;D·约翰森;J·施泰因博克 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2021-04-14 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：披露了一种用于测试受测试器件(DUT)的测试设备，所述受测试器件(DUT)具有位于所述DUT上的天线。所述测试设备包括：壳体；插口，所述插口被配置成将所述DUT电连接至负载板；夹持器组件，所述夹持器组件被配置成将所述DUT保持就位；缩回器，所述缩回器被配置成从所述夹持器组件释放所述DUT；以及对准板，所述对准板被配置成将所述DUT与所述插口对准。所述夹持器组件包括基部和扩展器，所述基部被附接到所述壳体，并且所述扩展器被配置成将所述DUT保持就位。当所述缩回器从所述扩展器脱离时，所述扩展器被配置成将所述DUT固定就位。当所述缩回器与所述扩展器相接合时，所述扩展器被配置成释放所述对准板上的所述DUT。
空中下载 ota 芯片测试系统

[发明专利]用于集成电路测试的具有测试引脚和壳体的高隔离接触器-CN201880062342.2有效
发明人：杰弗里·谢里;迈克尔·安德烈斯 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2018-09-25 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用于测试集成电路的测试插座，具有受控的阻抗，同时保持测试引脚的结构完整性。引脚可以具有侧壁，该侧壁具有沿引脚的长度的厚部和薄部。引脚可以具有突出部，该突出部提供相对于槽的间隔。侧壁本身可以具有延伸到槽中并为引脚提供稳定性的突出部或连接盘。
用于集成电路测试具有引脚壳体隔离接触器

[发明专利]晶片级集成电路探针阵列及构建方法-CN201910864224.X有效
发明人：亚萨恩·爱德华兹;查尔斯·马克斯;布莱恩·霍尔沃森 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2015-03-10 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了用于晶片级的IC电路测试的测试装置。上针和下针(22，62)被配置为彼此相对地滑动并且被弹性体(80)保持为电偏移接触。为了防止针在针导中的旋转，针导的底部中的有壁凹槽与针上的凸缘衔接。在另一实施例中，针导通过装配在针轮廓周围或者通过具有紧靠针的突起部分来维持旋转对准。通过建立配准边角(506)并经由在至少一个对角相对的边角中的弹性体驱动导板进入该配准边角来使该针导板(12)与保持器14维持对准。
晶片集成电路探针阵列构建方法

[发明专利]晶片级集成电路接触器及构建方法-CN201710655352.4有效
发明人：亚萨恩·爱德华兹;查尔斯·马克斯;布莱恩·霍尔沃森 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2013-06-19 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了用于晶片级的IC电路测试的测试装置。上针和下针(22，62)被配置为彼此相对地滑动并且被弹性体(80)保持为电偏移接触。该弹性体在顶板(22)和底板(79)之间由其自然静止状态被预压缩。预压缩提高了针的弹性反应。针冠部(40)通过与至少一个凸缘(44a‑b)的衔接来抵在板20的上止平面90上以维持相对的共面，从而保证了这些冠部的共平面性。通过建立配准边角(506)并经由在至少一个对角中的弹性体驱动导板进入该配准边角来使该针导板(12)与保持器14维持对准。
晶片集成电路接触器构建方法

[发明专利]晶片级集成电路探针阵列及构建方法-CN201580024514.3有效
发明人：亚萨恩·爱德华兹;查尔斯·马克斯;布莱恩·霍尔沃森 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2015-03-10 - 公布日： 2019-10-08 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了用于晶片级的IC电路测试的测试装置。上针和下针(22，62)被配置为彼此相对地滑动并且被弹性体(80)保持为电偏移接触。为了防止针在针导中的旋转，针导的底部中的有壁凹槽与针上的凸缘衔接。在另一实施例中，针导通过装配在针轮廓周围或者通过具有紧靠针的突起部分来维持旋转对准。通过建立配准边角(506)并经由在至少一个对角相对的边角中的弹性体驱动导板进入该配准边角来使该针导板(12)与保持器14维持对准。
晶片集成电路探针阵列构建方法

[发明专利]用于微电路和晶圆级IC测试的测试装置和方法-CN201480039183.6有效
发明人：约翰·德博什;达恩·坎皮恩;迈克尔·安德烈斯;史蒂夫·罗特;杰弗里·谢里;布莱恩·霍尔沃森;布莱恩·叶舒特 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：测试系统设置有具有横杆的测试探针的阵列。探针穿过第一探针引导保持器或上探针引导保持器，该探针保持器具有多个槽，槽的尺寸被设计为以使探针不能转动的方式接纳探针。探针通过保持器被具有类似的槽的阵列的弹性体块向上偏压。弹性体继而被带有类似的槽的第二保持器或下保持器盖在弹性体的底部从而形成中间夹有弹性体的夹层结构。探针的底端根据探针高度而被分组。位于不同高度的多个柔性电路与位于其各自的高度水平的探针底端接合，并将电路续连到产生测试信号的探针卡。
用于电路晶圆级 ic 测试装置方法

[发明专利]集成电路与测试装置的改良的接触-CN201410152922.4有效
发明人： M·L·基尔克 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2004-04-23 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种用于测试集成电路的接触测试装置。该装置包括具有相面对的表面的壳体，和一个或多个在所述表面之间延伸穿过壳体的槽。在测试装置使用中第一表面接近被测试的集成电路，以及第二表面在测试站点靠近载板。接触件收纳在槽中，每个接触件具有与集成电路设备的引线接合的第一端。每个接触件的第二端与相应的端子接合。每个接触件在由IC的相应引线脱离接合的第一方向和与IC相应引线接合IC的第二方向之间移动并被推进槽里。弹性体使接触件在它的第一方向上偏斜。当接触件在第一方向和第二方向之间移动时，它不是滑动地穿过载板端子。 1
接触件测试装置引线接合接合壳体载板集成电路测试集成电路集成电路设备测试站点第二表面第一表面接触测试延伸穿过引线脱离收纳第一端推进槽滑动移动偏斜测试穿过改良

[发明专利]用于集成测试的居中导电插脚-CN201480039549.X有效
发明人：大卫·约翰逊;约翰·C·尼尔森;萨罗希·帕特尔;迈克尔·安德烈斯 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： H01R12/70 文献下载
摘要：本发明公开一种用于在被测试装置(DUT)和承载板之间提供设有轴向对准的上触点和下触点的触点插脚的结构和方法。插脚具有上区段和下区段以及位于上区段和下区段之间的铰链，该铰链允许上触点和下触点弯曲，但轴向对准可以以更大的可靠性提供POGO插脚的直接替换。还公开了使用变型铰链去除上插脚的结构和方法。在替代实施例中，下区段包括腿部延伸部和靠在壳体中的孔隙上滑动的滑动接触面。间隔件为承载板上的退耦构件提供空间。铰链可包括截切式的筒体，该筒体构造成允许在不去除下插脚的情况下去除上插脚。
用于集成测试居中导电插脚

[发明专利]晶片级集成电路接触器及构建方法-CN201380032930.9有效
发明人：亚萨恩·爱德华兹;查尔斯·马克斯;布莱恩·霍尔沃森 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2013-06-19 - 公布日： 2017-09-01 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了用于晶片级的IC电路测试的测试装置。上针和下针(22，62)被配置为彼此相对地滑动并且被弹性体(80)保持为电偏移接触。该弹性体在顶板(22)和底板(79)之间由其自然静止状态被预压缩。预压缩提高了针的弹性反应。针冠部(40)通过与至少一个凸缘(44a‑b)的衔接来抵在板20的上止平面90上以维持相对的共面，从而保证了这些冠部的共平面性。通过建立配准边角(506)并经由在至少一个对角中的弹性体驱动导板进入该配准边角来使该针导板(12)与保持器14维持对准。
晶片集成电路接触器构建方法

[发明专利]测试座-CN201210563771.2有效
发明人： J·E·洛佩兹;D·B·谢尔;M·L·吉尔克 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2006-07-10 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种在用于测试集成电路的改进的测试座。该测试座包括在其中形成一个或多个槽的壳体。可以将接触件容纳在相应的槽中并保持在其中，接触件的后端与负载板上的迹线接合。通过一对弹性体完成安装，并且该弹性体保持每个接触件，从而当接触件的前端与被测装置的导线或焊盘接合、并推进到其相应的槽中时，每个接触件的后端的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨其相应的迹线滚动。
测试

[发明专利]用于微电路测试器的导电开尔文接触件-CN201080027549.X有效
发明人：乔尔·N·厄尔德曼;杰弗里·C·谢里;加里·W·米哈尔科 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2010-04-21 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：由一系列的导电接触件将待测器件的端子与相应的接触焊盘或引线连接起来。每一个端子测试与“施力”接触件和“感测”接触件二者连接。在一种实施方式中，感测接触件部分地或完全地沿横向围绕着施力接触件，从而它不必具有自身的弹性。感测接触件具有叉形末端，叉形末端具有延伸到施力接触件的相对两侧的叉股。可替换地，感测接触件围绕着施力接触件并且沿横向滑动，以便与施力接触件纵向挤压期间的施力接触件的横截面的横向平移分量相匹配。可替换地，感测接触件包括杆，这些杆具有处于施力接触件相对两侧的端部并且平行地延伸。
用于电路测试导电开尔文接触

[发明专利]用于微电路测试器的导电引脚-CN201080020411.7有效
发明人：约翰·E·纳尔逊;杰弗里·C·谢里;帕特里克·J·阿拉戴奥;罗素·F·奥伯格;布赖恩·沃里克;加里·W·米哈尔科 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2010-03-10 - 公布日： 2012-04-18 - 主分类号： H05K1/11 文献下载
摘要：待测器件的端子通过一系列导电引脚对被临时电连接到负载板上的相应接触焊盘。各个引脚对被中介层隔膜保持就位，所述中介层隔膜包括面对待测器件的顶部接触板、面对负载板的底部接触板以及顶部和底部接触板之间的具有垂直韧性的不导电构件。每一个引脚对包括顶部和底部引脚，其分别朝向待测器件和负载板延伸超出顶部和底部接触板。顶部和底部引脚在相对于隔膜表面法线倾斜的界面处彼此接触。当被纵向压缩时，引脚通过沿着界面滑动而朝向彼此平移。所述滑动在很大程度上是纵向的，并且具有由界面的倾斜所决定的较小的合乎期望的横向分量。
用于电路测试导电引脚

[发明专利]用于测试具有带有信号和电力触点阵列的封装的集成电路的测试接触系统-CN200980133465.1无效
发明人：杰弗里·C·谢里;帕特里克·J·阿拉戴奥;罗素·F·奥伯格;布赖恩·沃里克 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2009-08-26 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： H01R12/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试固定装置(120)，用于通过在被测器件(130)上的端子(131)与承载板(160)上的接触焊盘(161)之间形成多个暂时的机械连接和电连接来对被测器件(130)进行电测试。测试固定装置(120)具有包括通孔(151)的可置换薄膜(150)，并且每个通孔(151)与被测器件(130)上的端子(131)和承载板(160)上的接触焊盘(161)相关联。在一些情况下，每个通孔(151)具有导电壁，用于在端子(131)与接触焊盘(161)之间传导电流。在一些情况下，每个通孔(151)包括弹簧(152)，当被测器件(130)与测试固定装置(120)啮合时，弹簧(152)向端子(131)提供机械阻力。
用于测试具有带有信号电力触点阵列封装集成电路接触系统

[发明专利]用于微电路测试系统的开尔文接点模块-CN200910253114.6无效
发明人： J·W·奥沙利文;J·E·尼尔森 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2005-03-22 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：用于微电路测试系统的开尔文接点模块，一种用于测试微电路的电性能的测试系统，具有开尔文接点，其中微电路容纳在无线头外壳中。在多个接点组件中的滑块接点适应性地滑动以调节外壳上端子的非共面性。通过接点组件的内部间隙可以插入有弹性的弹性块，该弹性块与支撑并且排列接点组件的壳体的部件成干涉关系，以对滑块接点施加力以迫使它们压在微电路端子上。
用于电路测试系统开尔文接点模块

[发明专利]微电路测试插槽的接触插入件-CN200810074246.8有效
发明人：帕特里克·J·阿莱迪奥 -专利权人： 约翰国际有限公司
申请日： 2008-02-02 - 公布日： 2009-02-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试具有中心接地(CG)端子的微电路的系统，包括将CG端子与负载板上的接地触点连接的插入件。通过弹性凸部和保持该插入件的孔壁内的槽之间的摩擦作用而将该插入件保持在壳体中。
电路测试插槽接触插入

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