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本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法-CN202011055158.0有效
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;竹谷敏永;原子翔;福士树希也;佐藤实;成田寿男 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本发明提供一种光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法，能够抑制光半导体元件的检查时间的增加。光探针(10)接收从被检查体(200)输出的光信号(L)。光探针(10)具有由芯部(111)和配置于芯部(111)的外周的包层部(112)构成的光波导(11)，光波导(11)的射入光信号(L)的入射面(100)为曲率半径(R)固定的凸球面。
探针阵列检查系统以及方法

[发明专利]测定系统-CN202111569930.5在审
发明人：奥田通孝;竹谷敏永;成田寿男 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种测定系统，能够抑制形成于半导体基板的光半导体元件的测定时间的增大。测定系统具备：驱动装置，其驱动多个光半导体元件；探测器单元，其具有分别接收来自光半导体元件的出射光的多个光连接装置；以及处理装置，其具有多个光电变换器。光连接装置与光电变换器以1对1的方式连接，光连接装置所接收到的出射光的至少一部分输入到光电变换器。光电变换器将被输入的出射光变换为电信号。
测定系统

[发明专利]测定系统和测定方法-CN202110884724.7在审
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;成田寿男;原子翔;福士树希也;斋藤友和;竹谷敏永 -专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种测定系统和测定方法，能够稳定地测定光半导体元件的准确的测定值。在测定方法中，通过光探针的入射端面来接收从光半导体元件输出的出射光，其中，使光半导体元件与光探针的相对位置沿与出射光的光轴交叉的平面发生变化，在多个位置处分别测定出射光的入射强度，获取表示相对位置的变化与入射强度之间的关系的入射强度图案。
测定系统方法

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共 3 条

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