专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体封装及其安装结构-CN201580002992.4有效
  • 手岛祐一郎;中矶俊幸;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2015-09-17 - 2019-01-25 - H01L25/00
  • 本发明涉及半导体封装及其安装结构。具备中介层(1)、搭载于中介层(1)的第一面的半导体元件(2)、形成于中介层(1)的第二面的凸块(3)、以及搭载于中介层(1)的第二面的芯片部件(10)。中介层(1)是硅中介层,半导体元件(2)被倒装芯片安装于中介层(1)的第一面,芯片部件(10)是在硅基板上通过薄膜工艺形成元件,并在单一面形成焊盘的薄膜无源元件,芯片部件(10)的焊盘经由导电性接合材料而与形成于中介层(1)的第二面的焊环连接。根据该结构,小型化的同时确保半导体封装的中介层(1)与芯片部件(10)之间的接合可靠性。
  • 半导体封装及其安装结构
  • [发明专利]薄膜层叠元件的制造方法-CN201380034371.5有效
  • 野村雅信;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2013-06-14 - 2017-06-30 - H01L21/027
  • 本发明的目的在于提供一种能够将损伤较少的对准标记用于蚀刻时的光掩膜的定位的薄膜层叠元件的制造方法。本发明的薄膜层叠元件的制造方法具备第二工序,在该第二工序中通过使用了光蚀刻法的蚀刻来在薄膜层叠体(7)上形成元件部(10)以及对准标记;以及第三工序,在该第三工序中具有在薄膜层叠体(7)上涂覆感光性抗蚀剂的步骤、将具有对准图案的光掩膜通过对准图案与在前面的工序中形成的对准标记的位置匹配来配置在感光性抗蚀剂上的步骤、对感光性抗蚀剂曝光并显影的步骤、以及通过对涂覆了感光性抗蚀剂的薄膜层叠体蚀刻来在薄膜层叠体上形成元件部以及对准标记的步骤。
  • 薄膜层叠元件制造方法
  • [其他]复合电子部件-CN201590000246.7有效
  • 进藤智;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2015-08-03 - 2017-02-15 - H01G4/33
  • 本实用新型提供具备薄膜电容器与薄膜电路元件且可减小作用于薄膜电容器的应力的复合电子部件。复合电子部件(1)具备在一方主面形成有薄膜(3)的绝缘基板(2);覆盖薄膜电容器(3)地层叠的绝缘保护层(4);形成于绝缘保护层(4)并与薄膜电容器(3)连接的第1引出配线(7a);层叠于绝缘保护层(4)的第1树脂层部(5a);设置于第1树脂层部(5a)的第1、第2薄膜电阻(9a、9b);形成为沿厚度方向贯通第1树脂层部(5a)并使第1引出配线(7a)可见的第3贯通孔(6c);形成于第1树脂层部(5a),且经由第2贯通孔(6c)与第1引出配线(7a)连接的第1再配线(8a);层叠于第1树脂层部(5a)的第2树脂层部(5b),在第3贯通孔(6c)内填充第2树脂层部(5b)的树脂,第3贯通孔(6c)形成于俯视观察相对于薄膜电容器(3)偏移的位置。
  • 复合电子部件
  • [发明专利]反熔丝元件-CN201080028169.8有效
  • 竹岛裕;中矶俊幸;谷晋辅 - 株式会社村田制作所
  • 2010-07-08 - 2012-05-23 - H01L21/82
  • 本发明提供一种难以产生因静电放电导致的绝缘破坏的反熔丝元件。本发明的反熔丝元件(10)的特征在于,具备电容部(20),该电容部(20)具有绝缘层(22)和在所述绝缘层的上下面形成的至少一对电极层(21)、(23),电容部(20)具有对静电放电的保护功能。在本发明中,电容部具有对静电放电的保护功能,因此能够提供难以产生例如因部件安装时的静电放电导致的绝缘破坏的反熔丝元件。
  • 反熔丝元件
  • [发明专利]反熔丝元件-CN201080010216.6无效
  • 中矶俊幸;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2010-02-04 - 2012-02-01 - H01L21/82
  • 在电介质薄膜(5)的上下两面形成第1以及第2电极膜(4)、(6)而形成了元件主体(9)(a)。在施加动作电压时,第1以及第2电极膜(4)、(6)通过因通电引起的发热而熔融,形成球化部(13a)、(13b)、(14a)、(14b),在电介质薄膜(5)上也产生裂缝(15)(b)。然后,该球化部膨大化,并且电介质薄膜(5)完全断开(c),以卷入电介质薄膜(5)的端部那样的方式第1以及第2电极膜(4)、(6)熔接而一体化,形成接合部(16)、(17)、成为导通状态(d)。由此,实现即使在动作后通入大电流也以低电阻稳定地动作,并且动作前具有作为ESD对策元件的功能的反熔丝元件。
  • 反熔丝元件
  • [发明专利]电介质薄膜电容器的制造方法以及电介质薄膜电容器-CN200980131166.4无效
  • 野村雅信;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2009-05-13 - 2011-06-29 - H01L21/822
  • 一种电介质薄膜电容器的制造方法,上述电介质薄膜电容器在导电性基板(1)的一个主面上形成有上部外部电极(15),在上述导电性基板(1)的另一个主面上形成有下部外部电极(17)。上述制造方法具有将在电介质层(6)的上下两面形成有第1以及第2电极层(5、7)的电容器部(4)形成在导电性基板(1)的一个主面上的电容器部形成工序和形成将第1电极层(5)与导电性基板(1)电连接的基板配线(11)的配线形成工序,在上述电容器形成工序与上述配线形成工序之间包括对上述电容器部(4)进行热处理的热处理工序。由此实现不损失可靠性就能够抑制ESR的增加的电介质薄膜电容器。
  • 电介质薄膜电容器制造方法以及
  • [发明专利]凸角柱及对凸角柱实施倒角加工的装置-CN200580045083.5有效
  • 竹岛裕;小林信行;外村博 - 日吉华株式会社
  • 2005-09-27 - 2007-12-19 - E04F13/08
  • 本发明提供一种凸角柱(A1),其用于建筑物的壁面的凸角部分,在凸角柱(A1)的顶角部(3)上形成宽度窄的倒角加工部(8),并且通过具备非平坦且连续的曲面(8a、8b)的结构,以使当凸角柱(A1)受到白天的日光照射时,在该宽度窄的倒角加工部(8)上产生与在板片(1a)的表面图案部产生阳光部(S)和阴影部(D)同样的阳光部和阴影部,使凸角柱(A1)的顶角部(3)上的倒角加工部(8)尽可能地不明显,并且在倒角加工部(8)上形成与在表面图案部产生的阴影(S、D)同样的阴影,从而使左右的板片(1a、1a)的花纹图案具有连续性。
  • 角柱实施倒角加工装置

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