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- [发明专利]照明装置-CN201480040846.6有效
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矢野敬和
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西铁城电子株式会社;西铁城时计株式会社
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2014-07-14
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2018-09-14
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H01L25/075
- 在本发明的第一方面中,一种照明装置(100)包括第一光发射器(1)和第二光发射器(2),第一光发射器(1)包括具有p‑n结(lOg)的第一发光元件(10)和部分覆盖第一发光元件(10)的周边侧边面(lOc‑lOf)的第一侧边覆盖部(11),第二光发射器(2)包括具有p‑n结(20g)的第二发光元件(20)和部分覆盖第二发光元件(20)的周边侧边面(20c‑20f)的第二侧边覆盖部(21),并且第一光发射器(1)和第二光发射器(2)被布置成在没有被第一侧边覆盖部(11)和第二侧边覆盖部(21)覆盖的非覆盖侧边部(10c,20c)处彼此面对。第一侧边覆盖部(11)覆盖第一发光元件(10)的周边侧边面(lOc‑lOf)的四分之一或更多的区域被公开。
- 照明装置
- [发明专利]旋光度测量装置-CN200480008630.8有效
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松本健志;矢野敬和;福田匡广;二上茂
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西铁城时计株式会社
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2004-03-26
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2006-05-03
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G01N21/21
- 直线偏振光输出部(701),输出直线偏振光。第1相位调制部(703),具有第1偏振光轴,相位调制直线偏振光。第2相位调制部(704),具有与第1偏振光轴正交的第2偏振光轴,相位调制直线偏振光。信号供给部(705)将相位调制直线偏振光的调制信号(Vb),供给某一个相位调制部。另外,将偏压信号(Vo),供给相位调制部(702)。光强度检出部(707),由被供给信号的相位调制部(702)向含有旋光性物质的试料(106)射出的光,被旋光后,由试料(106)透过,从而由检出该透过来的光的强度。旋光度计算部(708),根据调制信号(Vb)和被检出的光的强度,求出试料(106)的旋光度。
- 光度测量装置
- [发明专利]用于驱动液晶的集成电路-CN98801550.1无效
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矢野敬和
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西铁城时计株式会社
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1998-10-20
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2000-01-26
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G02F1/1333
- 一种直接安装在液晶衬底上的液晶驱动集成电路(101),其中的集成电路(101)包含多个各包含高电压功率输入端子(102)和(112)、低电压功率输入端子(103)和(113)以及中等电压功率输入端子(130)和(131)的电源端子阵列和多个信号输入端子阵列(104)-(108)和(114)-(118)。含有集成电路的基本上矩形的集成电路芯片(101),沿以直角与芯片长边相交的线(123)被分成两半。在被分割的芯片的一半上制作第一电源端子阵列(102)、(103)、(130)和第一信号输入端子阵列(104)-(108),并在其另一半上制作第二电源端子阵列(112)、(113)、(130)和第二信号输入端子阵列(114)-(118)。第一和第二电源端子阵列以及第一和第二信号输入阵列,通过集成电路的内部布线彼此连接。
- 用于驱动液晶集成电路
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