专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种玉米全基因组InDel芯片及其应用-CN201910433575.5有效
  • 许理文;王凤格;田红丽;赵久然 - 北京市农林科学院
  • 2019-05-23 - 2022-09-16 - C12Q1/6895
  • 本发明公开了一种玉米全基因组InDel芯片及其应用,本发明通过大规模的测序挖掘,确定了玉米基因表达区域的InDel位点及全基因组均匀分布的InDel位点,设计了基于Affimatrix Axiom的高通量InDel芯片,该芯片含有针对1536个InDel位点的探针。本发明的玉米全基因组InDel芯片可用于构建玉米DNA指纹数据库,进行玉米品种真实性鉴定、玉米品种鉴别或者鉴定,进行玉米聚类分析、玉米亲缘关系分析和种质资源分析;还可用于玉米连锁图谱构建、基因定位分析和玉米分子育种材料背景选择,应用范围广,效益显著。
  • 一种玉米基因组indel芯片及其应用
  • [发明专利]一种基于分子标记技术的农作物自交系类群的鉴定方法-CN201810130418.2有效
  • 王凤格;杨扬;赵久然;田红丽;王蕊 - 北京市农林科学院
  • 2018-02-08 - 2022-03-01 - G16B20/50
  • 本发明涉及农业育种技术领域,具体公开了一种基于分子标记技术的农作物自交系类群的鉴定方法,该方法包括以下步骤:(1)建立对照自交系的指纹信息库;(2)划分对照自交系的类群;(3)获取待测自交系指纹信息;(4)计算待测自交系与对照自交系之间的遗传距离和对照样品所在类群的阈值,并判断遗传距离的最小值是否在该阈值范围内进而划分待测自交系的类群。本发明方法可以快速有效的鉴定农作物自交系的类群,进而有针对性的选择相应的杂优模式,有的放矢的选配杂交组合,从而大大提高育种的效率,节省时间、人力、物力和财力,为育种家提供决策依据,减少组配的盲目性,对育种家进行农作物育种提供借鉴和指导意义。
  • 一种基于分子标记技术农作物自交系鉴定方法

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