专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果45个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]反射镜微调装置及方法-CN201711056920.5有效
  • 何坚兵;潘奕;丁俊侠;丁庆 - 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹系统设备有限公司
  • 2017-10-27 - 2020-10-13 - G02B7/182
  • 本发明提供一种反射镜微调装置及方法。反射镜微调装置包括夹持结构,用于在所述反射镜两面的边缘处弹性相抵以弹性地夹持所述反射镜;所述夹持结构包括至少一个与所述反射镜带有镀层的一面相抵接的悬空抵接件;微调结构,用于给所述反射镜带有镀层的一面提供调整所述反射镜转动角度所需的推力;所述推力施加在至少一个所述悬空抵接件上。本发明还提供一种基于反射镜微调装置的反射镜微调方法。本发明将微调结构与夹持结构的连接,实现了在满足低分辨率的情况下反射镜角度的自动化调整,由于微调结构的成本低廉,从而降低了传统反射镜微调装置的成本,并且使微调装置更容易控制。
  • 反射微调装置方法
  • [实用新型]一种太赫兹波探测装置和太赫兹波探测仪-CN201921842669.X有效
  • 郭翠;薛占强;潘奕 - 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司
  • 2019-10-30 - 2020-09-04 - G01N21/3581
  • 本实用新型适用于光谱探测技术领域,提供了一种太赫兹波探测装置和太赫兹波探测仪,太赫兹波探测装置包括飞秒激光器、第一分束器件和第二分束器件、光路调整组件、太赫兹波发射器件和太赫兹波接收器件,飞秒激光器产生的飞秒激光,经过第一分束器件分为太赫兹发生光和抽运光,太赫兹发生光经过第二分束器件分为产生光和探测光。抽运光照射样品,用于使样品处于激发态,产生光和探测光按照一定的延迟分别辐射至太赫兹波发射器件和太赫兹波接收器件,产生的太赫兹波照射样品后被太赫兹波接收器件接收,对样品的瞬态吸收光谱进行探测,进而获得样品中的非平衡载流子分布的动力学过程,同时大大简化了太赫兹波探测装置的光路结构。
  • 一种赫兹探测装置探测仪
  • [实用新型]一种成像装置-CN201921469672.1有效
  • 邓仕发;潘奕 - 深圳市太赫兹系统设备有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
  • 2019-09-05 - 2020-08-18 - G01N21/3586
  • 本实用新型属于太赫兹波成像技术领域,尤其涉及一种成像装置。成像装置,用于对被测物体进行成像,其包括:成像探头,用于向被测物体发射太赫兹波并接收从被测物体反射回的太赫兹波且对被测物体进行摄像;水平转台,平铺设置且沿第一扫描轨迹绕被测物体圆周转动,第一扫描轨迹上间隔设置有多个第一成像工位;以及机械臂,机械臂的一端连接水平转台,机械臂的另一端连接成像探头,机械臂用于驱动成像探头于各第一成像工位分别沿一第二扫描轨迹绕被测物体圆周转动;其中,各第二扫描轨迹所确定的平面均垂直第一扫描轨迹所确定的平面。本实用新型的机械臂驱动成像探头沿对应的第二扫描轨迹移动,从而对被测物体进行全方位的三维成像。
  • 一种成像装置
  • [实用新型]一种荧光光谱的测试装置-CN201921612744.3有效
  • 薛占强;郭翠;潘奕 - 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司
  • 2019-09-25 - 2020-08-18 - G01N21/64
  • 本实用新型属于荧光光谱技术测试领域,尤其涉及一种荧光光谱的测试装置。荧光光谱的测试装置,用于获取待测材料的荧光光谱,其包括:激发结构,包括激发光源以及角度调节机构,激发光源用于生成预设波长的激发光束,激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面,角度调节机构用于调节入射角度的值;旋转结构,用于固定待测材料,并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转;以及检测结构,用于接收待测材料生成的受激光束,并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本实用新型通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱,最终得到待测材料的角度分布特性。
  • 一种荧光光谱测试装置
  • [发明专利]一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置-CN201610816019.2有效
  • 谭易东;潘奕;李辰;丁庆 - 深圳市太赫兹系统设备有限公司;华讯方舟科技有限公司
  • 2016-09-09 - 2019-05-03 - G01V8/10
  • 本发明适用于安检技术领域,提供一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置,其中,太赫兹成像系统包括:太赫兹辐射模块;将太赫兹辐射模块辐射的太赫兹波调制为预设频率的太赫兹波并覆盖式辐射至待测物体的光学斩波器;将携带有待测物体的复介电函数信息的太赫兹波聚焦于其像方焦平面的成像物镜;感光面的最小边长大于或等于所述成像物镜的成像区域的最大边长,将携带有复介电函数信息的太赫兹波转换为模拟电流信号的太赫兹探测模块;以及与太赫兹探测模块连接的信号处理模块。本发明可以对人体或生物组织进行无损检测,减小的辐射伤害,一次辐射即可获得待测物体的完整检测数据,检测效率高,可有效识别金属、毒品、炸药等高危物品。
  • 一种赫兹成像系统安检装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top