|
钻瓜专利网为您找到相关结果 18个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]氮化硅粉末、氮化硅烧结体和电路基板、以及氮化硅粉末的制造方法-CN201580036058.4有效
-
山尾猛;本田道夫;治田慎辅
-
宇部兴产株式会社
-
2015-06-16
-
2018-09-04
-
C01B21/068
- 本发明的课题在于提供兼具高的导热率和高的机械强度的氮化硅烧结体和电路基板、作为其原料的氮化硅粉末及其制造方法。提供氮化硅粉末、由该氮化硅粉末得到的氮化硅烧结体和电路基板、以及该氮化硅粉末的制造方法。该氮化硅粉末的特征为:比表面积为4.0~9.0m2/g,β相的比例小于40%,氧含量为0.20~0.95质量%,通过由激光衍射散射法测定体积基准的粒度分布而得到的频率分布曲线具有2个峰,该峰的峰顶在0.4~0.7μm的范围和1.5~3.0μm的范围,上述峰顶的频率比(粒径0.4~0.7μm范围的峰顶的频率/粒径1.5~3.0μm范围的峰顶的频率)为0.5~1.5,由上述粒度分布测定得到的中位直径D50(μm)与由上述比表面积计算的比表面积当量直径DBET(μm)之比D50/DBET(μm/μm)为3.5以上。
- 氮化粉末烧结路基以及制造方法
- [发明专利]氧氮化物荧光体粉末及其制造方法-CN201480017001.5有效
-
上田孝之;岩下和树;酒井拓马;藤永昌孝;治田慎辅
-
宇部兴产株式会社
-
2014-03-19
-
2017-02-15
-
C09K11/64
- 本发明提供氧氮化物荧光体粉末,其为具有605~615nm的荧光峰波长的包含α型赛隆荧光体的氧氮化物荧光体粉末,与以往相比外部量子效率高。本发明的氧氮化物荧光体粉末包含由组成式Cax1Eux2Si12‑(y+z)Al(y+z)OzN16‑z(式中,x1、x2、y、z为1.10≤x1+x2≤1.70、0.18≤x2/x1≤0.47、2.6≤y≤3.6、0.0≤z≤1.0)表示的α型赛隆。还提供还包含50~10000ppm的Li的包含α型赛隆的氧氮化物荧光体粉末。此外,本发明涉及这些氧氮化物荧光体粉末的制造方法,原料的成为硅源的物质优选为氧含量是0.2~0.9质量%、平均粒径是1.0~12.0μm、比表面积是0.2~3.0m2/g的氮化硅粉末。
- 氮化物荧光粉末及其制造方法
- [发明专利]波长转换部件及使用其的发光装置-CN201380053996.6有效
-
岩下和树;酒井拓马;上田孝之;藤永昌孝;治田慎辅;山永正孝;长尾有记;河野孝史
-
宇部兴产株式会社
-
2013-10-17
-
2015-06-24
-
C09K11/64
- 波长转换部件的制造方法,该波长转换部件包含多晶陶瓷,其特征在于,包括如下工序:A)将成为硅源的物质、成为铝源的物质、成为钙源的物质以及成为铕源的物质混合,B)烧成得到的混合物,得到氧氮化物荧光体粉末,然后C)在惰性气氛下烧结该氧氮化物荧光体粉末得到所述多晶陶瓷,所述烧结的所述氧氮化物荧光体粉末除氧以外具有由组成式:Cax1Eux2Si12-(y+z)Al(y+z)OzN16-z(其中,式中,x1、x2、y、z为:0<x1≤3.40,0.05≤x2≤0.20,3.5<y≤7.0,0≤z≤1)表示的组成,与由所述组成式(1)表示的氧氮化物荧光体的理论氧含量相比,所述氧氮化物荧光体粉末的氧含量过剩,将由该组成式(1)表示的氧氮化物荧光体的理论质量设为100质量%,该氧的过剩量为1.1~11.5质量%。提供波长转换部件,其通过被300nm~500nm的波长的光激发,在峰波长590nm至610nm的宽波长区域发出荧光,此时的转换效率大。提供了相比以往耐久性优异并且效率高的波长转换部件,另外,提供了组合了波长转换部件与半导体发光元件的发光装置。
- 波长转换部件使用发光装置
|