专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件环境可靠性测试方法和系统-CN202311218176.X在审
  • 周悦贤;高乾 - 江苏摩派半导体有限公司
  • 2023-09-21 - 2023-10-27 - G01R31/26
  • 本发明提供一种半导体器件环境可靠性测试方法和系统,涉及测试技术领域,所述方法包括:将场效应管划分为多个测试批次;将测试组中的场效应管放置于多种测试环境中;将对照组中的场效应管放置于对照环境中;为相同测试批次的场效应管的栅极施加相同的栅极电压,并分别为各个场效应管的漏极施加多种漏极电压,获得漏极电流;根据测试环境的变化频率和变化幅度、漏极电压和漏极电流,获得场效应管的可靠性评分;根据场效应管的可靠性评分,确定环境可靠性。根据本发明,可使测试环境的温度和湿度中的至少一种发生变化,从而测试场效应管在多种变化频率和变化幅度的变化环境中的可靠性,为场效应管的应用场景的设置提供数据基础。
  • 半导体器件环境可靠性测试方法系统
  • [发明专利]半导体器件耐久性测试方法及系统-CN202311152317.2在审
  • 周悦贤;高乾 - 江苏摩派半导体有限公司
  • 2023-09-08 - 2023-10-13 - G01R31/26
  • 本发明提供一种半导体器件耐久性测试方法及系统,涉及电信号处理技术领域,所述方法包括:在两个测试阶段中,将栅极电平设置为第一电平值;将漏极电平分别设置为第二电平值和第六电平值,测量漏极电流;漏极和源极连接至电容,将漏极电平设置为第三电平值,静置第一预设时间段,获取两个测试阶段中漏极的第五电平值和第七电平值;根据第一电平值、第二电平值、漏极电流、第六电平值,获得性能稳定性评分;根据第五电平值、第三电平值和第七电平值,获得数据保持力评分;根据性能稳定性评分和数据保持力评分,获得耐久性评分。根据本发明,能够从多个维度来确定场效应管的耐久性,提升耐久性测评的准确性。
  • 半导体器件耐久性测试方法系统
  • [发明专利]一种半导体加工用切割装置-CN202310566401.2在审
  • 高乾;周悦贤 - 江苏摩派半导体有限公司
  • 2023-05-19 - 2023-09-12 - B28D5/02
  • 本发明涉及半导体加工设备领域,并公开了一种半导体加工用切割装置;通过设有转动的承载盘以及安装在承载盘上自转的承片台,实现晶圆的横切和纵切的分步进行,同时配合分切刀辊的往复移动,减少刀具的移动轨迹,保证切割精度同时提高切割效率,降低控制难度,并且通过设有喷淋头,在切割过程中以及在转移晶圆过程中对晶圆表面和切缝内侧进行离心冲洗,避免废液和碎屑残留在晶圆表面和切缝内侧,提高清洁效果,便于后续处理;通过设有空心的辊轴以及设置在刀片两侧的喷孔,使得去离子水在刀片表面快速的扩散,提高冷却和去屑的效果。
  • 一种半导体工用切割装置

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